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線性馬達(dá)

  • 數(shù)字集成電路與嵌入式內(nèi)核系統(tǒng)可測試性設(shè)計(jì)(影印版)

    ·書中包括的索引使你能夠根據(jù)自己的需要,直接閱讀你所關(guān)注的內(nèi)容。主要內(nèi)容包括:設(shè)計(jì)核心,關(guān)注嵌入核心和嵌入存儲(chǔ)器;系統(tǒng)集成和超大規(guī)模集成電路的設(shè)計(jì)問題;AC掃描、正常速度掃描和嵌入式可測試性設(shè)計(jì);內(nèi)建、自測試、含內(nèi)存BIST、邏輯BIST及掃描BIST;虛擬測試套接字和隔離測試 ·重用設(shè)計(jì),包括重用和隔離測試;用VSIA和IEEE P1500標(biāo)準(zhǔn)處理測試問題。 書中穿插的整幅圖解直接來自作者的教學(xué)材

    標(biāo)簽: 數(shù)字集成電路 嵌入式 內(nèi)核

    上傳時(shí)間: 2013-04-24

    上傳用戶:sjb555

  • fpga的理解性word

    fpga的理解性word,對(duì)設(shè)計(jì)有幫助,延遲,效率問題等

    標(biāo)簽: fpga word

    上傳時(shí)間: 2013-08-24

    上傳用戶:muhongqing

  • FPGA和DSP的設(shè)計(jì)可靠性及可維護(hù)性對(duì)比

    FPGA和DSP的設(shè)計(jì)可靠性及可維護(hù)性對(duì)比.pdf

    標(biāo)簽: FPGA DSP 可靠性 對(duì)比

    上傳時(shí)間: 2013-08-28

    上傳用戶:pei5

  • cpld的入門交流:CPLD的跑馬燈一個(gè)簡易型cpld試驗(yàn)電路用VHDL語言

    cpld的入門交流:CPLD的跑馬燈一個(gè)簡易型cpld試驗(yàn)電路用VHDL語言遍的

    標(biāo)簽: cpld CPLD VHDL 交流

    上傳時(shí)間: 2013-09-06

    上傳用戶:blacklee

  • 板級(jí)模擬電路仿真收斂性技術(shù)研究

    電路仿真不僅應(yīng)用于電路設(shè)計(jì)階段,也用于電路故障診斷中。電路仿真結(jié)果能夠?yàn)榻㈦娐窚y試診斷知識(shí)庫提供重要的參考信息。本文簡要介紹了電路仿真收斂性的相關(guān)理論,分析了板級(jí)模擬電路直流分析和瞬態(tài)分析的仿真收斂性問題,深入探討了電路仿真技術(shù)的原理和發(fā)展,重點(diǎn)研究了新的電路仿真算法,并將其應(yīng)用于模擬電路仿真系統(tǒng)中。

    標(biāo)簽: 板級(jí) 仿真 收斂性 技術(shù)研究

    上傳時(shí)間: 2014-12-23

    上傳用戶:hopy

  • 數(shù)字容性隔離器的磁場抗擾度

    數(shù)字容性隔離器的應(yīng)用環(huán)境通常包括一些大型電動(dòng)馬達(dá)、發(fā)電機(jī)以及其他產(chǎn)生強(qiáng)電磁場的設(shè)備。暴露在這些磁場中,可引起潛在的數(shù)據(jù)損壞問題,因?yàn)殡妱荩‥MF,即這些磁場形成的電壓)會(huì)干擾數(shù)據(jù)信號(hào)傳輸。由于存在這種潛在威脅,因此許多數(shù)字隔離器用戶都要求隔離器具備高磁場抗擾度 (MFI)。許多數(shù)字隔離器技術(shù)都聲稱具有高 MFI,但容性隔離器卻因其設(shè)計(jì)和內(nèi)部結(jié)構(gòu)擁有幾乎無窮大的MFI。本文將對(duì)其設(shè)計(jì)進(jìn)行詳細(xì)的介紹。

    標(biāo)簽: 數(shù)字 隔離器 磁場抗擾度

    上傳時(shí)間: 2013-10-26

    上傳用戶:litianchu

  • 擴(kuò)展電容數(shù)字轉(zhuǎn)換器AD7745_AD7746的容性輸入范圍

    本電路提供一種擴(kuò)展AD7745/AD7746容性輸入范圍的方法。同時(shí),還說明如何充分利用片內(nèi)CapDAC,使范圍擴(kuò)展系數(shù)最小,從而優(yōu)化電路,實(shí)現(xiàn)最佳性能。AD7745具有一個(gè)電容輸入通道,AD7746則有兩個(gè)通道。每個(gè)通道均可配置為單端輸入或差分輸入方式。

    標(biāo)簽: AD 7745 7746 擴(kuò)展

    上傳時(shí)間: 2013-11-21

    上傳用戶:天誠24

  • 電位計(jì)訊號(hào)轉(zhuǎn)換器

    電位計(jì)訊號(hào)轉(zhuǎn)換器 AT-PM1-P1-DN-ADL 1.產(chǎn)品說明 AT系列轉(zhuǎn)換器/分配器主要設(shè)計(jì)使用于一般訊號(hào)迴路中之轉(zhuǎn)換與隔離;如 4~20mA、0~10V、熱電偶(Type K, J, E, T)、熱電阻(Rtd-Pt100Ω)、荷重元、電位計(jì)(三線式)、電阻(二線式)及交流電壓/電流等訊號(hào),機(jī)種齊全。 此款薄型設(shè)計(jì)的轉(zhuǎn)換器/分配器,除了能提供兩組訊號(hào)輸出(輸出間隔離)或24V激發(fā)電源供傳送器使用外,切換式電源亦提供了安裝的便利性。上方并設(shè)計(jì)了電源、輸入及輸出指示燈及可插拔式接線端子方便現(xiàn)場施工及工作狀態(tài)檢視。 2.產(chǎn)品特點(diǎn) 可選擇帶指撥開關(guān)切換,六種常規(guī)輸出信號(hào)0-5V/0~10V/1~5V/2~10V/4~20mA/ 0~20mA 可自行切換。 雙回路輸出完全隔離,可選擇不同信號(hào)。 設(shè)計(jì)了電源、輸入及輸出LED指示燈,方便現(xiàn)場工作狀態(tài)檢視。 規(guī)格選擇表中可指定選購0.1%精度 17.55mm薄型35mm導(dǎo)軌安裝。 依據(jù)CE國際標(biāo)準(zhǔn)規(guī)范設(shè)計(jì)。 3.技術(shù)規(guī)格 用途:信號(hào)轉(zhuǎn)換及隔離 過載輸入能力:電流:10×額定10秒 第二組輸出:可選擇 輸入范圍:P1:0 Ω ~ 50.0 Ω / ~ 2.0 KΩ P2:0 Ω ~ 2.0 KΩ / ~ 100.0 KΩ 精確度: ≦±0.2% of F.S. ≦±0.1% of F.S. 偵測電壓:1.6V 輸入耗損: 交流電流:≤ 0.1VA; 交流電壓:≤ 0.15VA 反應(yīng)時(shí)間: ≤ 250msec (10%~90% of FS) 輸出波紋: ≤ ±0.1% of F.S. 滿量程校正范圍:≤ ±10% of F.S.,2組輸出可個(gè)別調(diào)整 零點(diǎn)校正范圍:≤ ±10% of F.S.,2組輸出可個(gè)別調(diào)整 隔離:AC 2.0 KV 輸出1與輸出2之間 隔離抗阻:DC 500V 100MΩ 工作電源: AC 85~265V/DC 100~300V, 50/60Hz 或 AC/DC 20~56V (選購規(guī)格) 消耗功率: DC 4W, AC 6.0VA 工作溫度: 0~60 ºC 工作濕度: 20~95% RH, 無結(jié)露 溫度系數(shù): ≤ 100PPM/ ºC (0~50 ºC) 儲(chǔ)存溫度: -10~70 ºC 保護(hù)等級(jí): IP 42 振動(dòng)測試: 1~800 Hz, 3.175 g2/Hz 外觀尺寸: 94.0mm x 94.0mm x 17.5mm 外殼材質(zhì): ABS防火材料,UL94V0 安裝軌道: 35mm DIN導(dǎo)軌 (EN50022) 重量: 250g 安全規(guī)范(LVD): IEC 61010 (Installation category 3) EMC: EN 55011:2002; EN 61326:2003 EMI: EN 55011:2002; EN 61326:2003 常用規(guī)格:AT-PM1-P1-DN-ADL 電位計(jì)訊號(hào)轉(zhuǎn)換器,一組輸出,輸入范圍:0 Ω ~ 50.0 Ω / ~ 2.0 KΩ,輸出一組輸出4-20mA,工作電源AC/DC20-56V

    標(biāo)簽: 電位計(jì) 訊號(hào) 轉(zhuǎn)換器

    上傳時(shí)間: 2013-11-05

    上傳用戶:feitian920

  • 改善AMOLED TFT均勻性和穩(wěn)定性像素補(bǔ)償電路

    各研究機(jī)構(gòu)提出了像素補(bǔ)償電路用于改善OLED的均勻性和穩(wěn)定性等問題,文中對(duì)目前采用有源OLED的α-Si TFT和p-Si TFT的各種像素補(bǔ)償電路進(jìn)行了分析。分析結(jié)果表明,文中設(shè)計(jì)方案取得了一定的效果,但尚存不足。

    標(biāo)簽: AMOLED TFT 穩(wěn)定性 像素

    上傳時(shí)間: 2013-11-21

    上傳用戶:pioneer_lvbo

  • PCB的可制造性與可測試性

    PCB的可制造性與可測試性,很詳細(xì)的pcb學(xué)習(xí)資料。

    標(biāo)簽: PCB 可制造性 測試

    上傳時(shí)間: 2014-06-22

    上傳用戶:熊少鋒

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