疊層芯片封裝技術(shù)，簡(jiǎn)稱3D.是指在不改變封裝體外型尺J的前提下，在同一個(gè)封裝體內(nèi)于垂直方向疊放兩個(gè)以上的芯片的封裝技術(shù)，它起源于快閃存儲(chǔ)器（NCYNA\D）及SURAM的疊層封裝。由于疊層芯片封裝技術(shù)具有大容量、多功能、小尺寸、低成本的特點(diǎn)，2005年以來3D技術(shù)研究逐漸成為主流。TSOP封裝因其具有低成本、后期加工的柔韌而在快閃存儲(chǔ)器領(lǐng)域得到廣泛應(yīng)用，因此，基于TSP的3D封裝研究顯得非常重要。由TSOP3D封裝技術(shù)的實(shí)用性極強(qiáng)，研究方法主要以實(shí)驗(yàn)為主。在具體實(shí)驗(yàn)的基礎(chǔ)上，成功地掌握了TSP疊層封裝技術(shù)，并且找到了三種不同流程的TSP疊層芯片封裝的工藝。另外，還通過大量的實(shí)驗(yàn)研究，成功地解決了疊層芯片封裝中的關(guān)鍵問題。目前，TSP疊層芯片技術(shù)已經(jīng)用于生產(chǎn)實(shí)踐并且?guī)砹肆己玫慕?jīng)濟(jì)效益。
上傳時(shí)間： 2022-06-25
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使用編譯環(huán)境：MDK4.72A IAR6.30使用硬件環(huán)境：STM32F103RBT6使用函數(shù)庫版本：STM32F10x_StdPeriph_Driver V3.50工程概要： 完成是MCU通過SPI2對(duì)w5500的讀寫操作，完成對(duì)IP,mac，gateway等的操作， 內(nèi)網(wǎng)測(cè)試，請(qǐng)保證W5500的IP與測(cè)試PC機(jī)在同一網(wǎng)段內(nèi)，且不沖突 如果是用網(wǎng)線跟PC機(jī)直連，請(qǐng)?jiān)O(shè)置PC機(jī)本地連接地址IP為靜態(tài)IP調(diào)試說明：此例程適用的調(diào)試下載器是J-link-ob，也可以用過串口下載調(diào)試程序,（請(qǐng)將串口線插在板子J1口 上,并打開超級(jí)終端或串口助手，配置波特率115200，8位，一個(gè)停止位，無校驗(yàn)位。
標(biāo)簽： stm32 w5500 tcp keil
上傳時(shí)間： 2022-06-26
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1.1首先安裝J-Link驅(qū)動(dòng)>開發(fā)軟件\Setup_JLinkARM_V468，雙擊要安裝的“Setup JLinkARMV468.exe"，>安裝過程全選“next”直到安裝成功，>將JLINK插接到電腦的USB口，即可在我的電腦\管理\設(shè)備管理器\通用串行總線控制器中看到一個(gè)J-Link driver。舵機(jī)是一種位置（角度）伺服的驅(qū)動(dòng)器，適用于需要角度不斷變化并可以保持的控制系統(tǒng)。舵機(jī)是一種俗稱，其實(shí)是一種伺服馬達(dá)。控制信號(hào)由接收機(jī)的通道進(jìn)入信號(hào)調(diào)制芯片，獲得直流偏置電壓。內(nèi)部有一個(gè)基準(zhǔn)電路，產(chǎn)生周期為20ms，寬度為1.5ms的基準(zhǔn)信號(hào)，將獲得的直流偏置電壓與電位器的電壓比較，獲得電壓差輸出。電壓差的正負(fù)輸出到電機(jī)驅(qū)動(dòng)芯片決定電機(jī)的正反轉(zhuǎn)。當(dāng)電機(jī)轉(zhuǎn)速一定時(shí)，通過級(jí)聯(lián)減速齒輪帶動(dòng)電位器旋轉(zhuǎn)，使得電壓差為0，電機(jī)停止轉(zhuǎn)動(dòng)。
標(biāo)簽： stm32 驅(qū)動(dòng)
上傳時(shí)間： 2022-07-05
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安全及一般信息安全和有效操作的重要信息。在使用您的雙向?qū)χv機(jī)之前.請(qǐng)閱讀下列信息。本文提供的信息是取代2001年6月份前出版的用戶手冊(cè)，其中有關(guān)一般安全信息的內(nèi)容。對(duì)于在危險(xiǎn)環(huán)境范圍里使用對(duì)講機(jī)的安全信息，請(qǐng)參閱廠際公約許可手冊(cè)補(bǔ)充或指示卡，該信息包含在提供這些性能的對(duì)講機(jī)型號(hào)中。對(duì)講機(jī)射頻能量的操作按下通話鍵傳輸信息（講話）：釋放通話鍵接收信息（接聽）。當(dāng)對(duì)講機(jī)傳輸信息時(shí)，將產(chǎn)生對(duì)講機(jī)射頻能量：當(dāng)對(duì)講機(jī)接收信息時(shí)或關(guān)機(jī)時(shí)，不會(huì)產(chǎn)生對(duì)講機(jī)射頻能量。對(duì)講機(jī)的操作及電磁能量的暴露您的摩托羅拉對(duì)講機(jī)在設(shè)計(jì)過程中嚴(yán)格遵照了下列國家和國際的標(biāo)準(zhǔn)和原則。這些標(biāo)準(zhǔn)和原則用以保護(hù)暴露在射頻電磁能量下工作人員的人身安全：丁·美國聯(lián)邦通信委員會(huì)，聯(lián)邦管理?xiàng)l例；47CFR第2部分的J部分·美國國家標(biāo)準(zhǔn)委員會(huì)（ANSD/電器和電子工程師協(xié)會(huì)（IEEE）C95.1-1992·電器和電子工程師協(xié)會(huì)（IEEE）C95.1-1999版·美國國家輻射保護(hù)和測(cè)量委員會(huì)（NCRP）報(bào)告86，1986·國際非電離輻射保護(hù)委員（ICNIRP）1998·加拿大衛(wèi)生部安全條例6：人體暴露在頻率范圍從3kHz到300GHz的對(duì)講機(jī)頻率電磁場(chǎng)中的限制.1999·澳大利亞通信特許對(duì)講機(jī)通信（電磁輻射·暴露于人體）標(biāo)準(zhǔn)1999（僅適用于無線電話）·巴西國家電信管理局（ANATEL）“此設(shè)備符合ANATEL針對(duì)電場(chǎng).磁場(chǎng)和電磁場(chǎng)暴露所采用的特定吸收能量比率的限制。
標(biāo)簽： gp2000 對(duì)講機(jī)
上傳時(shí)間： 2022-07-24
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《零死角玩轉(zhuǎn)STM32》系列教程由初級(jí)篇、中級(jí)篇、高級(jí)篇、系統(tǒng)篇、四個(gè)部分組成，根據(jù)野火STM32開發(fā)板舊版教程升級(jí)而來，且經(jīng)過重新深入編寫，重新排版，更適合初學(xué)者，步步為營(yíng)，從入門到精通，從裸奔到系統(tǒng)，讓您零死角玩轉(zhuǎn)STM32。M3的世界，于野火同行，樂意愜無邊。另外，野火團(tuán)隊(duì)歷時(shí)一年精心打造的《STM32庫開發(fā)實(shí)戰(zhàn)指南》將于今年10月份由機(jī)械工業(yè)出版社出版，該書的排版更適于紙質(zhì)書本閱讀以及更有利于查閱資料。內(nèi)容上會(huì)給你帶來更多的驚喜。是一本學(xué)習(xí)STM32必備的工具書。敬請(qǐng)期待！1、如何編譯和下載程序99800V在拿到開發(fā)板之后，很多朋友都想先嘗嘗鮮，想自己燒寫個(gè)程序到開發(fā)板上，看看效果。下面將演示如何將光盤里面自帶的程序燒寫到野火STM32開發(fā)板上。前提是你的電腦上已經(jīng)安裝了J幾INK驅(qū)動(dòng)和如K開發(fā)環(huán)境，如果這一部沒有完成，請(qǐng)參考《2、JINK驅(qū)動(dòng)安裝與如K環(huán)境搭建》。野火STM32開發(fā)板光盤上提供的代碼都是已經(jīng)編譯好的，直接下載即可。
標(biāo)簽： stm32
上傳時(shí)間： 2022-07-27
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VIP專區(qū)-嵌入式/單片機(jī)編程源碼精選合集系列（120）資源包含以下內(nèi)容：1. ARM的一個(gè)GPIO口的應(yīng)用 它使能一個(gè)口 驅(qū)動(dòng)燈亮.2. bit led2=P2^5 // led2對(duì)應(yīng)接在P2.5腳 sbit led3=P2^6 // led3對(duì)應(yīng)接在P2.6腳 sbit led4=P2^7 // led4對(duì)應(yīng)接在P2.7腳.3. EA = 1 //開總中斷 ET0 = 1 //允許定時(shí)器0中斷 TMOD = 1 //定時(shí)器工作方式選擇 TL0 = 0x06 TH0 = 0xf8 //定時(shí)器賦予初值 .4. 嵌入式實(shí)驗(yàn)代碼非常適合全面學(xué)習(xí)ARMS3C2440,有20多個(gè)練習(xí)代碼.5. 基于C8051F340單片機(jī)的串行flash芯片SST25VF016B的應(yīng)用,配合一般的串口調(diào)試程序即可完成對(duì)板上器件的讀寫操作..6. 飛思卡爾MC9S12DG128的PORTP7中斷試驗(yàn).7. 微細(xì)間距QFP器件手工焊接指南,希望對(duì)大家有用.8. 金鵬OCMJ8*10D的觸摸屏驅(qū)動(dòng)程序.9. CODE for embedded C ,hand coding version.10. konqueror3 embedded版本, KDE環(huán)境下的當(dāng)家瀏覽器的嵌入式版本源碼包..11. 三菱PLC編寫用與點(diǎn)焊機(jī)上的PLC程序,另包括完整電氣原理圖..12. 24CXXX存儲(chǔ)數(shù)碼管 24C02讀寫(c) 24C02讀寫(匯編).13. 電機(jī)控制類 步進(jìn)電機(jī)正反轉(zhuǎn)控制 步進(jìn)電機(jī)調(diào)速控制.14. 個(gè)人設(shè)計(jì)的基于VHDL的數(shù)字電子日歷 在MAX+PLUSH軟件平臺(tái)上編譯、仿真.15. 超聲波倒車?yán)走_(dá)的設(shè)計(jì)程序 利用SPCE061A單片機(jī)實(shí)現(xiàn)超聲波倒車?yán)走_(dá)的測(cè)量計(jì)算方法。程序中采用軟件校正.16. PATTERNS FOR TIME-TRIGGERED EMBEDDED SYSTEMS by Michael J. Pont This code is copyright (c) 200.17. EP9315 開發(fā)板手冊(cè) cirrus logic(思睿邏輯)公司在2005年推出的一款A(yù)RM920T.18. 譯本嵌入式數(shù)據(jù)庫sqlite的電子書,值得大家參考..19. 1302是用來輸出北京時(shí)間的,18b20用來檢測(cè)溫度,輸出在ds1302上顯示,有仿真文件.20. 可將其需要的文件轉(zhuǎn)換成數(shù)組,主要應(yīng)用在嵌入式或單片機(jī)編程中將要分析的文件生成一個(gè)數(shù)組參加程序編譯.21. 這是關(guān)于TDOA_AOA得一篇混合定位算法,有助于研究算發(fā)的人學(xué)習(xí)和使用..22. 51串口通訊程序.23. 一個(gè)開源的Modbus協(xié)議棧.24. 能夠詳細(xì)測(cè)量正負(fù)溫度的且小數(shù)點(diǎn)后四位的測(cè)溫系統(tǒng).25. 一本關(guān)于嵌入式系統(tǒng)實(shí)時(shí)概念的著作.26. C語言寫的Ibutton的讀寫文件,硬件資料 AT89s51+at24c02,編譯通過,可以使用.27. arm的原理圖設(shè)計(jì).28. 本書深入淺出的介紹了可重用的理念與實(shí)現(xiàn).29. 德州儀器的關(guān)于cc2430評(píng)估模塊的原理圖及PCB資料.30. CC2430DB Reference Design TI的cc2430開發(fā)板設(shè)計(jì)資料.31. 嵌入式MCU可靠性接口及在車載定位系統(tǒng)中的應(yīng)用.32. au1200下的boot代碼.33. ARM嵌入式系統(tǒng)開發(fā)：軟件設(shè)計(jì)與優(yōu)化.34. 友善之臂－－－QQ2440V3原理圖.35. zigbee協(xié)議棧.36. 國外自制頻率計(jì),很全,有原理圖,有源代碼,有說明..37. ECOS2.0的源碼.38. trf7960開發(fā)板原理圖,是TI公司的.39. c8051f的多機(jī)通信程序 在c語言環(huán)境下.40. 祥細(xì)介紹液晶顯示器原理祥細(xì)介紹液晶顯示器原理.
標(biāo)簽： 通信
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VIP專區(qū)-嵌入式/單片機(jī)編程源碼精選合集系列（161）資源包含以下內(nèi)容：1. 溫度監(jiān)視器.2. 通過按鍵在3位一體的數(shù)碼管上顯示數(shù)字.3. 在IAR 環(huán)境下.4. pruotues仿真教程 pruotues仿真教程 pruotues仿真教程.5. 嵌入式系統(tǒng)設(shè)計(jì)的好書.6. i2c總線的verilog代碼.7. 1、實(shí)驗(yàn)?zāi)康? 掌握編寫一般GUI程序的基本步驟.8. 紅色颶風(fēng)原理圖.9. G代碼生成軟件.10. msp430F437三相電表DEMO(編譯器 IAR 3.42A）.11. 鍵盤程序：基于cpld開發(fā)環(huán)境的4*4鍵盤程序.12. ADS下開發(fā)的A/D轉(zhuǎn)換器AD7892及LCD顯示程序.13. mcs51單片機(jī)鍵盤掃描程序.14. 給出了一種基于$3C2410嵌入式SoC的網(wǎng)絡(luò)視頻會(huì)議終端的實(shí)現(xiàn)方案.15. 在仿真軟件protues7.1上仿真arm7的GUI的代碼和protues的工程文件。是學(xué)習(xí)arm的一個(gè)好東西.16. c51的原理圖啊.17. 溫度傳感器ds18b20的完整程序.18. 中興MG815+CDMA模塊USB轉(zhuǎn)接原理圖及PCB圖（基于CP2102的USB TO RS232轉(zhuǎn)接原理.19. Michael J. Pont 的嵌入式系統(tǒng)編程講座1.20. PIC 的ip 有用的著的拿去看看吧 對(duì)于開發(fā)pci總線會(huì)有很大幫助的.21. AT91RM9260PMC程序,程序和ATMEL9260EK開發(fā)板配套.22. Embedded VC++ 4 Programmer s Guide.23. ylp2410的bootloader源碼.24. McCraw-Hill - Wap A Beginner s Guide Ebook-fly.25. 能夠?qū)崿F(xiàn)步進(jìn)電機(jī)的正轉(zhuǎn)反轉(zhuǎn).26. 很好的資料和大家分享 颶風(fēng)板的原理圖.27. 文章的內(nèi)容是有關(guān)嵌入式編程用到的工具-MAKE的中文手冊(cè)..28. 飛思卡爾智能車攝像頭的完整程序.29. STM32的程序.30. 基于PLC控制交流變頻調(diào)速電梯系統(tǒng)的研究的一篇pdf格式說明文檔。.31. This a GUI that manages DSP analysis functions for wav-files (e.g., speech signals). Two functions (.32. 《嵌入式系統(tǒng)設(shè)計(jì)與實(shí)例開發(fā)》王田苗 北航出版社.33. 嵌入式開發(fā)中用于自制JTAG的dll文件.34. 黑色經(jīng)典系列 arm嵌入式系統(tǒng)開發(fā)典型模塊.35. 51系列的軟件包,有i2c驅(qū)動(dòng),各種芯片的介紹.36. 此程序是在AVR單片機(jī)atmega169P處理器的程序.37. 關(guān)于手機(jī)BOOTLADER相關(guān).38. 華中機(jī)床的plc程序.39. 鍵盤的源碼的程序.40. 是北京智心工作室的基于MPC8280設(shè)計(jì)的核心板使用手冊(cè).
標(biāo)簽： 微帶天線
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資源包含以下內(nèi)容：1.GBT2423.07-1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分 試驗(yàn)方法試驗(yàn)ec和導(dǎo)則傾跌與翻倒(主要用于設(shè)備型樣品).pdf2.GBT2423.08-1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分 試驗(yàn)方法試驗(yàn)ed自由跌落.pdf3.GBT2423.09-2001 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分 試驗(yàn)方法試驗(yàn)cb設(shè)備用恒定濕熱.pdf4.GBT2423.10-1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分 試驗(yàn)方法試驗(yàn)fc和導(dǎo)則振動(dòng)(正弦).pdf5.GBT2423.11-1997 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分 試驗(yàn)方法試驗(yàn)fd寬頻帶隨機(jī)振動(dòng)--一般要求 .pdf6.GBT2423.12-1997 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分 試驗(yàn)方法試驗(yàn)fda寬頻帶隨機(jī)振動(dòng)--高再現(xiàn)性.pdf7.GBT2423.13-1997 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分 試驗(yàn)方法試驗(yàn)fdb寬頻帶隨機(jī)振動(dòng)中再現(xiàn)性.pdf8.GBT2423.14-1997 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分 試驗(yàn)方法試驗(yàn)fdc寬頻帶隨機(jī)振動(dòng)低再現(xiàn)性.pdf9.GBT2423.15-1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分 試驗(yàn)方法試驗(yàn)ga和導(dǎo)則穩(wěn)態(tài)加速度.pdf10.GBT2423.16-1999 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分 試驗(yàn)方法試驗(yàn)j和導(dǎo)則長(zhǎng)霉.pdf11.GBT2423.17-1993 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)ka 鹽霧試驗(yàn)方法.pdf12.GBT2423.18-2000 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第二部分 試驗(yàn)--試驗(yàn)kb 鹽霧,交變(氯化鈉溶液).pdf13.GBT2423.19-1981 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)kc 接觸點(diǎn)和連接件的二氧化硫試驗(yàn)方法.pdf14.GBT2423.20-1981 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)kd 接觸點(diǎn)和連接件的硫化氫試驗(yàn)方法.pdf15.GBT2423.21-1991 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)m 低氣壓試驗(yàn)方法.pdf16.GBT2423.22-2002 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分試驗(yàn)方法試驗(yàn)n 溫度變化.pdf17.GBT2423.23-1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)試驗(yàn)q 密封.pdf18.GBT2423.24-1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第二部分 試驗(yàn)方法試驗(yàn)sa 模擬地面上的太陽輻射.pdf19.GBT2423.25-1992 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)zam 低溫低氣壓綜合試驗(yàn).pdf20.GBT2423.26-1992 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)zbm 高溫低氣壓綜合試驗(yàn).pdf21.GBT2423.27-1981 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)zamd 低溫低氣壓濕熱連續(xù)綜合試驗(yàn)方法.pdf22.GBT2423.28-1982 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)t 錫焊試驗(yàn)方法.pdf23.GBT2423.29-1999 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分試驗(yàn)方法試驗(yàn)u 引出端及整體安裝件強(qiáng)度.pdf24.GBT2423.30-1999 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分試驗(yàn)方法試驗(yàn)xa 和導(dǎo)則在清洗劑中浸漬.pdf25.GBT2423.31-1985 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程傾斜和搖擺試驗(yàn)方法.pdf26.GBT2423.32-1985 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程潤(rùn)濕稱量法可焊性試驗(yàn)方法.pdf27.GBT2423.33-1989 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)kca 高濃度二氧化硫試驗(yàn)方法.pdf28.GBT2423.34-1986 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)zad 溫度濕度組合循環(huán)試驗(yàn)方法.pdf29.GBT2423.35-1986 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)zafc 散熱和非散熱試驗(yàn)樣品的低溫振動(dòng)(正弦)綜合試驗(yàn)方法.pdf30.GBT2423.36-1986 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)zbfc 散熱和非散熱樣品的高溫振動(dòng)(正弦)綜合試驗(yàn)方法.pdf31.GBT2423.37-1989 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)l砂塵試驗(yàn)方法.pdf32.GBT2423.38-1990 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)r 水試驗(yàn)方法.pdf33.GBT2423.39-1990 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)ee 彈跳試驗(yàn)方法.pdf34.GBT2423.40-1997 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分試驗(yàn)方法試驗(yàn)cx 未飽和高壓蒸汽恒定濕熱.pdf35.GBT2423.41-1994 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程風(fēng)壓試驗(yàn)方法.pdf36.GBT2423.42-1995 工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)低溫低氣壓振動(dòng)(正弦)綜合試驗(yàn)方法.pdf37.GBT2423.43-1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第二部分 試驗(yàn)方法元件、設(shè)備和其他產(chǎn)品在沖擊,碰撞,振動(dòng),和穩(wěn)態(tài)加速度,等動(dòng)力學(xué)試驗(yàn)中的安裝要求和導(dǎo)則.pdf38.GBT2423.44-1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第二部分 試驗(yàn)方法試驗(yàn)eg 撞擊彈簧錘.pdf39.GBT2423.45-1997 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)zabdm：氣候順序.pdf40.GBT2423.46-1997 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)ef：撞擊擺錘.pdf41.GBT2423.47-1997 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分 試驗(yàn)方法試驗(yàn)fg 聲振.pdf42.GBT2423.48-1997 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分 試驗(yàn)方法試驗(yàn)ff 振動(dòng)--時(shí)間歷程法.pdf43.GBT2423.49-1997 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分 試驗(yàn)方法試驗(yàn)fe 振動(dòng)--正弦拍頻法.pdf44.GBT2423.50-1999 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分 試驗(yàn)方法試驗(yàn)cy 恒定濕熱主要用于元件的加速試驗(yàn).pdf45.GBT2423.51-2000 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分 試驗(yàn)方法試驗(yàn)ke 流動(dòng)混合氣體腐蝕試驗(yàn).pdf46.電子產(chǎn)品老化相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)資料
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GBT2423.51-2000 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分 試驗(yàn)方法試驗(yàn)ke 流動(dòng)混合氣體腐蝕試驗(yàn).pdf 535KB2019-03-29 13:34 GBT2423.50-1999 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分 試驗(yàn)方法試驗(yàn)cy 恒定濕熱主要用于元件的加速試驗(yàn).pdf 319KB2019-03-29 13:34 GBT2423.49-1997 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分 試驗(yàn)方法試驗(yàn)fe 振動(dòng)--正弦拍頻法.pdf 832KB2019-03-29 13:34 GBT2423.48-1997 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分 試驗(yàn)方法試驗(yàn)ff 振動(dòng)--時(shí)間歷程法.pdf 708KB2019-03-29 13:34 GBT2423.47-1997 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分 試驗(yàn)方法試驗(yàn)fg 聲振.pdf 773KB2019-03-29 13:34 GBT2423.46-1997 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)ef：撞擊擺錘.pdf 423KB2019-03-29 13:34 GBT2423.45-1997 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)zabdm：氣候順序.pdf 418KB2019-03-29 13:34 GBT2423.44-1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第二部分 試驗(yàn)方法試驗(yàn)eg 撞擊彈簧錘.pdf 356KB2019-03-29 13:34 GBT2423.43-1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第二部分 試驗(yàn)方法元件、設(shè)備和其他產(chǎn)品在沖擊,碰撞,振動(dòng),和穩(wěn)態(tài)加速度,等動(dòng)力學(xué)試驗(yàn)中的安裝要求和導(dǎo)則.pdf 496KB2019-03-29 13:34 GBT2423.42-1995 工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)低溫低氣壓振動(dòng)(正弦)綜合試驗(yàn)方法.pdf 246KB2019-03-29 13:34 GBT2423.41-1994 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程風(fēng)壓試驗(yàn)方法.pdf 213KB2019-03-29 13:34 GBT2423.40-1997 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分試驗(yàn)方法試驗(yàn)cx 未飽和高壓蒸汽恒定濕熱.pdf 532KB2019-03-29 13:34 GBT2423.39-1990 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)ee 彈跳試驗(yàn)方法.pdf 331KB2019-03-29 13:34 GBT2423.38-1990 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)r 水試驗(yàn)方法.pdf 357KB2019-03-29 13:34 GBT2423.37-1989 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)l砂塵試驗(yàn)方法.pdf 236KB2019-03-29 13:34 GBT2423.36-1986 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)zbfc 散熱和非散熱樣品的高溫振動(dòng)(正弦)綜合試驗(yàn)方法.pdf 273KB2019-03-29 13:34 GBT2423.35-1986 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)zafc 散熱和非散熱試驗(yàn)樣品的低溫振動(dòng)(正弦)綜合試驗(yàn)方法.pdf 270KB2019-03-29 13:34 GBT2423.34-1986 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)zad 溫度濕度組合循環(huán)試驗(yàn)方法.pdf 290KB2019-03-29 13:34 GBT2423.33-1989 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)kca 高濃度二氧化硫試驗(yàn)方法.pdf 146KB2019-03-29 13:34 GBT2423.32-1985 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程潤(rùn)濕稱量法可焊性試驗(yàn)方法.pdf 172KB2019-03-29 13:34 GBT2423.31-1985 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程傾斜和搖擺試驗(yàn)方法.pdf 143KB2019-03-29 13:34 GBT2423.30-1999 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分試驗(yàn)方法試驗(yàn)xa 和導(dǎo)則在清洗劑中浸漬.pdf 104KB2019-03-29 13:34 GBT2423.29-1999 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分試驗(yàn)方法試驗(yàn)u 引出端及整體安裝件強(qiáng)度.pdf 421KB2019-03-29 13:34 GBT2423.28-1982 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)t 錫焊試驗(yàn)方法.pdf 697KB2019-03-29 13:34 GBT2423.27-1981 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)zamd 低溫低氣壓濕熱連續(xù)綜合試驗(yàn)方法.pdf 128KB2019-03-29 13:34 GBT2423.26-1992 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)zbm 高溫低氣壓綜合試驗(yàn).pdf 211KB2019-03-29 13:34 GBT2423.25-1992 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)zam 低溫低氣壓綜合試驗(yàn).pdf 202KB2019-03-29 13:34 GBT2423.24-1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第二部分 試驗(yàn)方法試驗(yàn)sa 模擬地面上的太陽輻射.pdf 176KB2019-03-29 13:34 GBT2423.23-1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)試驗(yàn)q 密封.pdf 1.2M2019-03-29 13:34 GBT2423.22-2002 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分試驗(yàn)方法試驗(yàn)n 溫度變化.pdf 302KB2019-03-29 13:34 GBT2423.21-1991 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)m 低氣壓試驗(yàn)方法.pdf 107KB2019-03-29 13:34 GBT2423.20-1981 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)kd 接觸點(diǎn)和連接件的硫化氫試驗(yàn)方法.pdf 140KB2019-03-29 13:34 GBT2423.19-1981 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)kc 接觸點(diǎn)和連接件的二氧化硫試驗(yàn)方法.pdf 145KB2019-03-29 13:34 GBT2423.18-2000 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第二部分 試驗(yàn)--試驗(yàn)kb 鹽霧,交變(氯化鈉溶液).pdf 163KB2019-03-29 13:34 GBT2423.17-1993 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)ka 鹽霧試驗(yàn)方法.pdf 105KB2019-03-29 13:34 GBT2423.16-1999 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分 試驗(yàn)方法試驗(yàn)j和導(dǎo)則長(zhǎng)霉.pdf 531KB2019-03-29 13:34 GBT2423.15-1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分 試驗(yàn)方法試驗(yàn)ga和導(dǎo)則穩(wěn)態(tài)加速度.pdf 297KB2019-03-29 13:34 GBT2423.14-1997 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分 試驗(yàn)方法試驗(yàn)fdc寬頻帶隨機(jī)振動(dòng)低再現(xiàn)性.pdf 444KB2019-03-29 13:34 GBT2423.13-1997 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分 試驗(yàn)方法試驗(yàn)fdb寬頻帶隨機(jī)振動(dòng)中再現(xiàn)性.pdf 805KB2019-03-29 13:34 GBT2423.12-1997 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分 試驗(yàn)方法試驗(yàn)fda寬頻帶隨機(jī)振動(dòng)--高再現(xiàn)性.pdf 842KB2019-03-29 13:34 GBT2423.11-1997 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分 試驗(yàn)方法試驗(yàn)fd寬頻帶隨機(jī)振動(dòng)--一般要求 .pdf 635KB2019-03-29 13:34 GBT2423.10-1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分 試驗(yàn)方法試驗(yàn)fc和導(dǎo)則振動(dòng)(正弦).pdf 1M2019-03-29 13:34 GBT2423.09-2001 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分 試驗(yàn)方法試驗(yàn)cb設(shè)備用恒定濕熱.pdf 149KB2019-03-29 13:34 GBT2423.08-1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分 試驗(yàn)方法試驗(yàn)ed自由跌落.pdf 301KB2019-03-29 13:34 GBT2423.07-1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分 試驗(yàn)方法試驗(yàn)ec和導(dǎo)則傾跌與翻倒(主要用于設(shè)備型樣品).pdf 237KB2019-03-29 13:34 GBT2423.06-1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分 試驗(yàn)方法試驗(yàn)eb和導(dǎo)則：碰撞.pdf 545KB2019-03-29 13:34 GBT2423.05-1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)ea和導(dǎo)則沖擊.pdf 892KB2019-03-29 13:34 GBT2423.04-1993 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)db 交變濕熱試驗(yàn)方法.pdf 192KB2019-03-29 13:34 GBT2423.03-1993 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)ca 恒定濕熱試驗(yàn)方法.pdf 124KB2019-03-29 13:34 GBT2423.02-2001 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分 試驗(yàn)方法試驗(yàn)b高溫.pdf 744KB2019-03-29 13:34 GBT2423.01-2001 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分 試驗(yàn)方法試驗(yàn)a低溫.pdf 499KB2019-03-29 13:34 GB2421-89 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程總則.pdf
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臺(tái)灣成功大學(xué)的關(guān)于無人機(jī)自動(dòng)駕駛控制的論文集(1) 這包共4篇，分別為： 無人飛機(jī)速度控制器設(shè)計(jì)與實(shí)現(xiàn) 無人飛行船自主性控制設(shè)計(jì)與實(shí)現(xiàn) 無人飛行載具導(dǎo)引飛控整合自動(dòng)駕駛儀參數(shù)選取之研究 無人飛行載具導(dǎo)引飛控之軟體與硬體模擬
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