?? 芯片測(cè)試技術(shù)資料

?? 資源總數(shù):23412
?? 源代碼:26892

?? 芯片測(cè)試全部資料 (23412個(gè))

BU-61580芯片測(cè)試系統(tǒng)用于檢測(cè)DDC公司的BU-61580系列芯片的總線協(xié)議功能和電氣特性,篩選失效芯片,并具備芯片接口時(shí)序調(diào)整功能,可檢驗(yàn)芯片在不同的接口環(huán)境和工作方式下的特殊表現(xiàn)。以Wind...

??

這是我做項(xiàng)目時(shí)的一個(gè)NX25P40(FLASH)芯片測(cè)試程序。相信對(duì)做單片機(jī)開(kāi)發(fā)需要大容量FLASH的朋友有幫助。該測(cè)試程序采用keil51開(kāi)發(fā),完全通過(guò)測(cè)試。...

??