圖論中最小生成樹Kruskal算法 及畫圖程序 M-函數 格式 [Wt,Pp]=mintreek(n,W)：n為圖頂點數,W為圖的帶權鄰接矩陣，不構成邊的兩頂點之間的權用inf表示。顯示最小生成樹的邊及頂點, Wt為最小生成樹的權,Pp(:,1:2)為最小生成樹邊的兩頂點,Pp(:,3)為最小生成樹的邊權,Pp(:,4)為最小生成樹邊的序號 附圖,紅色連線為最小生成樹的圖 例如 n=6 w=inf*ones(6) w(1,[2,3,4])=[6,1,5] w(2,[3,5])=[5,3] w(3,[4,5,6])=[5,6,4] w(4,6)=2 w(5,6)=6 [a,b]=mintreek(n,w)
上傳時間： 2015-11-30
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確定符號表的組織方式，一般應包括名字欄和信息欄，其中名字欄作為關鍵字。要考慮能夠存儲有關名字的信息，并可以高效地完成如下操作： a.查找：根據給定的名字，在符號表中查找其信息。如果該名字在符號表中不存在，則將其加入到符號表中，否則返回指向該名字的指針； b.刪除：從符號表中刪除給定名字的表項。
上傳時間： 2016-03-06
上傳用戶：zhangyi99104144
介紹了可編程控制器PLC產生的時代背景，以及其設計理念和發展歷程。著重分析了其特點及應用領域，回顧了PLC的國內外發展狀況，并就PLC的未來發展作出了展望。
上傳時間： 2013-12-10
上傳用戶：Divine
msp430的flash測試代碼，這個是對430的A，B信息段作測試
上傳時間： 2013-12-17
上傳用戶：鳳臨西北
主要介紹了如何使用E8仿真器在以Renesas芯片為MCU的開發板上進行仿真調試。 第1 章 概要 第2 章 E8 仿真器功能 第3 章 使用前的準備 第4 章 調試的準備 第5 章 調試 第6 章 教程示例 附錄A E8 仿真器的構成 附錄B 窗口功能一覽 附錄C 命令行功能 附錄D High-performance Embedded Workshop 的注意事項 附錄E 有關硬件診斷程序 E.1 為了執行診斷程序的系統設置 E.2 診斷程序的執行 E.3 錯誤發生時的處理
上傳時間： 2013-12-26
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詞法分析器的實現，1） 輸入:字符串(待進行詞法分析的源程序),輸出:由(種別碼,自身值)所組成的二元組序列。 2） 功能: a. 濾空格 b. 識別保留字 c. 識別標識符 d. 拼數 e. 拼復合單詞: 例如： >=、 <=、 := 3） 檢查如下錯誤： a. 程序語言的字符集以外的非法字符 b. 單詞拼錯,如9A88,而對于將begin拼寫成begon的錯誤,只須把begon當成標識符即可
標簽： 分析器
上傳時間： 2016-05-18
上傳用戶：c12228
這是一三層電梯的程序，是利用西門子PLC，s7-200的環境下開發的。對于想學習PLC的人很有幫助
上傳時間： 2014-01-25
上傳用戶：四只眼
用AT89S51單片機的P0.0/AD0－P0.7/AD7端口接數碼管的a－h端，8位數碼管的S1－S8通過74LS138譯碼器的Y0－Y7來控制選通每個數碼管的位選端。AT89S51單片機的P1.0－P1.2控制74LS138的A，B，C端子。在8位數碼管上從右向左循環顯示“12345678”。能夠比較平滑地看到拉幕的效果。
上傳時間： 2016-06-17
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用過采樣和求均值提高ADC分辨率 很多應用需要使用模/數轉換器 ADC 進行測量 這些應用所需要的分辨率取決于信號的動 態范圍 必須測量的參數的最小變化和信噪比 SNR 因此 很多系統使用較高分辨率的片外ADC 然而也可以通過使用一些技術來達到較高的分辨率和SNR 本應用筆記介紹用過采樣和求均值的方 法來提高模數轉換的分辨率和SNR 過采樣和求均值技術可以在不使用昂貴的片外ADC的情況下提 高測量分辨率 本應用筆記討論如何使用過采樣和求均值的方法來提高模/數轉換 ADC 測量的分辨率 另 外 本文最后的附錄A B和C分別給出了對ADC噪聲的深入分析 最適合過采樣技術的ADC噪聲 類型和使用過采樣和求均值技術的示例代碼
上傳時間： 2016-06-21
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按照Clifford A . Shaffer《數據結構與算法分析（第二版）》指導，用C#實現的B+樹，接口定義良好。最好重寫“從文件載入新建樹部分”的代碼以提高建樹效率。實現細節之一：當“需要插入子節點的節點”已滿而相鄰節點未滿時會平分兩者節點而不是分裂該節點。
標簽： Clifford Shaffer 數據結構 算法分析
上傳時間： 2016-07-02
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