中興通訊硬件一部巨作－信號(hào)完整性 近年來(lái)，通訊技術(shù)、計(jì)算機(jī)技術(shù)的發(fā)展越來(lái)越快，高速數(shù)字電路在設(shè)計(jì)中的運(yùn)用越來(lái) 越多，數(shù)字接入設(shè)備的交換能力已從百兆、千兆發(fā)展到幾十千兆。高速數(shù)字電路設(shè)計(jì)對(duì)信 號(hào)完整性技術(shù)的需求越來(lái)越迫切。 在中、 大規(guī)模電子系統(tǒng)的設(shè)計(jì)中， 系統(tǒng)地綜合運(yùn)用信號(hào)完整性技術(shù)可以帶來(lái)很多好處， 如縮短研發(fā)周期、降低產(chǎn)品成本、降低研發(fā)成本、提高產(chǎn)品性能、提高產(chǎn)品可靠性。 數(shù)字電路在具有邏輯電路功能的同時(shí)，也具有豐富的模擬特性，電路設(shè)計(jì)工程師需要 通過(guò)精確測(cè)定、或估算各種噪聲的幅度及其時(shí)域變化，將電路抗干擾能力精確分配給各種 噪聲，經(jīng)過(guò)精心設(shè)計(jì)和權(quán)衡，控制總噪聲不超過(guò)電路的抗干擾能力，保證產(chǎn)品性能的可靠 實(shí)現(xiàn)。 為了滿足中興上研一所的科研需要， 我們?cè)谌ツ旰徒衲觋P(guān)于信號(hào)完整性技術(shù)合作的基 礎(chǔ)上，克服時(shí)間緊、任務(wù)重的困難，編寫(xiě)了這份硬件設(shè)計(jì)培訓(xùn)系列教材的“信號(hào)完整性” 部分。由于我們的經(jīng)驗(yàn)和知識(shí)所限，這部分教材肯定有不完善之處，歡迎廣大讀者和專(zhuān)家 批評(píng)指正。 本教材的對(duì)象是所內(nèi)硬件設(shè)計(jì)工程師， 針對(duì)我所的實(shí)際情況， 選編了第一章——導(dǎo)論、 第二章——數(shù)字電路工作原理、第三章——傳輸線理論、第四章——直流供電系統(tǒng)設(shè)計(jì)， 相信會(huì)給大家?guī)?lái)益處。同時(shí)，也希望通過(guò)我們的不懈努力能消除大家在信號(hào)完整性方面 的煩腦。 在編寫(xiě)本教材的過(guò)程中，得到了沙國(guó)海、張亞?wèn)|、沈煜、何廣敏、鐘建兔、劉輝、曹 俊等的指導(dǎo)和幫助，尤其在審稿時(shí)提出了很多建設(shè)性的意見(jiàn)，在此一并致謝！
標(biāo)簽： 中興通訊 硬件 信號(hào)完整性 基礎(chǔ)知識(shí)
上傳時(shí)間： 2013-11-15
上傳用戶：大三三
PCB LAYOUT 術(shù)語(yǔ)解釋(TERMS)1. COMPONENT SIDE(零件面、正面)︰大多數(shù)零件放置之面。2. SOLDER SIDE(焊錫面、反面)。3. SOLDER MASK(止焊膜面)︰通常指Solder Mask Open 之意。4. TOP PAD︰在零件面上所設(shè)計(jì)之零件腳PAD，不管是否鑽孔、電鍍。5. BOTTOM PAD：在銲錫面上所設(shè)計(jì)之零件腳PAD，不管是否鑽孔、電鍍。6. POSITIVE LAYER：?jiǎn)巍㈦p層板之各層線路；多層板之上、下兩層線路及內(nèi)層走線皆屬之。7. NEGATIVE LAYER：通常指多層板之電源層。8. INNER PAD：多層板之POSITIVE LAYER 內(nèi)層PAD。9. ANTI-PAD：多層板之NEGATIVE LAYER 上所使用之絕緣範(fàn)圍，不與零件腳相接。10. THERMAL PAD：多層板內(nèi)NEGATIVE LAYER 上必須零件腳時(shí)所使用之PAD，一般稱(chēng)為散熱孔或?qū)住?1. PAD (銲墊)：除了SMD PAD 外，其他PAD 之TOP PAD、BOTTOM PAD 及INNER PAD 之形狀大小皆應(yīng)相同。12. Moat : 不同信號(hào)的 Power& GND plane 之間的分隔線13. Grid : 佈線時(shí)的走線格點(diǎn)2. Test Point : ATE 測(cè)試點(diǎn)供工廠ICT 測(cè)試治具使用ICT 測(cè)試點(diǎn) LAYOUT 注意事項(xiàng):PCB 的每條TRACE 都要有一個(gè)作為測(cè)試用之TEST PAD(測(cè)試點(diǎn))，其原則如下：1. 一般測(cè)試點(diǎn)大小均為30-35mil，元件分布較密時(shí)，測(cè)試點(diǎn)最小可至30mil.測(cè)試點(diǎn)與元件PAD 的距離最小為40mil。2. 測(cè)試點(diǎn)與測(cè)試點(diǎn)間的間距最小為50-75mil，一般使用75mil。密度高時(shí)可使用50mil,3. 測(cè)試點(diǎn)必須均勻分佈於PCB 上，避免測(cè)試時(shí)造成板面受力不均。4. 多層板必須透過(guò)貫穿孔(VIA)將測(cè)試點(diǎn)留於錫爐著錫面上(Solder Side)。5. 測(cè)試點(diǎn)必需放至於Bottom Layer6. 輸出test point report(.asc 檔案powerpcb v3.5)供廠商分析可測(cè)率7. 測(cè)試點(diǎn)設(shè)置處:Setuppadsstacks
標(biāo)簽： layout design pcb 硬件工程師
上傳時(shí)間： 2013-10-22
上傳用戶：pei5
下一代蜂窩電話將擁有高質(zhì)量的照相功能。為了獲得上佳的照相性能，基於閃光燈的照明是至關(guān)重要的
上傳時(shí)間： 2013-12-28
上傳用戶：xuanjie
高可用性繫統(tǒng)常常采用雙路饋送功率分配，旨在實(shí)現(xiàn)冗餘並增強(qiáng)系統(tǒng)的可靠性。“或”二極管把兩路電源一起連接在負(fù)載點(diǎn)上，最常用的是肖特基二極管，目的在於實(shí)現(xiàn)低損耗
標(biāo)簽： 理想二極管 保護(hù) 電源布線 錯(cuò)誤
上傳時(shí)間： 2013-10-19
上傳用戶：BOBOniu
PC電源測(cè)試系統(tǒng)chroma8000簡(jiǎn)介
標(biāo)簽： chroma 8000 電源測(cè)試系統(tǒng)
上傳時(shí)間： 2013-11-08
上傳用戶：xiehao13
數(shù)字電子技朮
標(biāo)簽：
上傳時(shí)間： 2013-10-09
上傳用戶：1101055045
美信ESD保護(hù)之路
上傳時(shí)間： 2013-12-24
上傳用戶：黃華強(qiáng)
本內(nèi)容提供了FR-E500-CH變頻用戶手冊(cè)
標(biāo)簽： FR-E 500 CH 用戶手冊(cè)
上傳時(shí)間： 2013-11-13
上傳用戶：xhz1993
利用AT89S52單片機(jī)實(shí)現(xiàn)GSM短信的防火報(bào)警系統(tǒng)設(shè)計(jì)
上傳時(shí)間： 2013-11-04
上傳用戶：liangliang123
基于單片機(jī)的GSM短信系統(tǒng)
上傳時(shí)間： 2013-10-28
上傳用戶：hasan2015
蟲(chóng)蟲(chóng)下載站版權(quán)所有 京ICP備2021023401號(hào)-1
