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電信運(yùn)營商

  • 向量矩陣運(yùn)算包 電腦視覺常會(huì)使用到的向量矩陣的複雜運(yùn)算, 可利用此數(shù)學(xué)模組簡化你程式的複雜度 是非常有用的工具

    向量矩陣運(yùn)算包 電腦視覺常會(huì)使用到的向量矩陣的複雜運(yùn)算, 可利用此數(shù)學(xué)模組簡化你程式的複雜度 是非常有用的工具

    標(biāo)簽: 向量 程式

    上傳時(shí)間: 2016-03-19

    上傳用戶:CHENKAI

  • verilog除頻器可用於編碼段運(yùn)用可以穩(wěn)定電路設(shè)計(jì)

    verilog除頻器可用於編碼段運(yùn)用可以穩(wěn)定電路設(shè)計(jì)

    標(biāo)簽: verilog

    上傳時(shí)間: 2013-12-26

    上傳用戶:372825274

  • 各個(gè)運(yùn)營商的短信源代碼

    各個(gè)運(yùn)營商的短信源代碼,非常實(shí)用哦,對(duì)研究短信的朋友非常有用。

    標(biāo)簽: 短信 源代碼

    上傳時(shí)間: 2013-12-04

    上傳用戶:star_in_rain

  • 電源供應(yīng)器analog電壓電流回受控制備PID功能並將運(yùn)算結(jié)果透過SPI介面回傳另一顆單片機(jī)

    電源供應(yīng)器analog電壓電流回受控制備PID功能並將運(yùn)算結(jié)果透過SPI介面回傳另一顆單片機(jī)

    標(biāo)簽: analog PID SPI 控制

    上傳時(shí)間: 2017-03-19

    上傳用戶:duoshen1989

  • 電源供應(yīng)器設(shè)計(jì)利用鍵盤介面輸入電源電壓值以SPI界面?zhèn)髦亮硪活wCPU做前端之運(yùn)算結(jié)果傳回做LED顯示

    電源供應(yīng)器設(shè)計(jì)利用鍵盤介面輸入電源電壓值以SPI界面?zhèn)髦亮硪活wCPU做前端之運(yùn)算結(jié)果傳回做LED顯示

    標(biāo)簽: SPI CPU LED 鍵盤

    上傳時(shí)間: 2017-03-19

    上傳用戶:二驅(qū)蚊器

  • 運(yùn)算放大器

    理想的放大器 目前,廠商在線性IC研發(fā)上都有重大的突破。使IC型運(yùn)算放大器的特性和理想相當(dāng)接近。尤其在低頻操作下,OP Amp電路的工作情形實(shí)在太像一個(gè)理想放大器,幾乎與理論的推測完全相符。→理想的放大器該具備什麼特性?

    標(biāo)簽: 算放大器原理

    上傳時(shí)間: 2016-07-16

    上傳用戶:WALTER

  • pcb layout design(臺(tái)灣硬件工程師15年經(jīng)驗(yàn)

    PCB LAYOUT 術(shù)語解釋(TERMS)1. COMPONENT SIDE(零件面、正面)︰大多數(shù)零件放置之面。2. SOLDER SIDE(焊錫面、反面)。3. SOLDER MASK(止焊膜面)︰通常指Solder Mask Open 之意。4. TOP PAD︰在零件面上所設(shè)計(jì)之零件腳PAD,不管是否鑽孔、電鍍。5. BOTTOM PAD:在銲錫面上所設(shè)計(jì)之零件腳PAD,不管是否鑽孔、電鍍。6. POSITIVE LAYER:單、雙層板之各層線路;多層板之上、下兩層線路及內(nèi)層走線皆屬之。7. NEGATIVE LAYER:通常指多層板之電源層。8. INNER PAD:多層板之POSITIVE LAYER 內(nèi)層PAD。9. ANTI-PAD:多層板之NEGATIVE LAYER 上所使用之絕緣範(fàn)圍,不與零件腳相接。10. THERMAL PAD:多層板內(nèi)NEGATIVE LAYER 上必須零件腳時(shí)所使用之PAD,一般稱為散熱孔或?qū)住?1. PAD (銲墊):除了SMD PAD 外,其他PAD 之TOP PAD、BOTTOM PAD 及INNER PAD 之形狀大小皆應(yīng)相同。12. Moat : 不同信號(hào)的 Power& GND plane 之間的分隔線13. Grid : 佈線時(shí)的走線格點(diǎn)2. Test Point : ATE 測試點(diǎn)供工廠ICT 測試治具使用ICT 測試點(diǎn) LAYOUT 注意事項(xiàng):PCB 的每條TRACE 都要有一個(gè)作為測試用之TEST PAD(測試點(diǎn)),其原則如下:1. 一般測試點(diǎn)大小均為30-35mil,元件分布較密時(shí),測試點(diǎn)最小可至30mil.測試點(diǎn)與元件PAD 的距離最小為40mil。2. 測試點(diǎn)與測試點(diǎn)間的間距最小為50-75mil,一般使用75mil。密度高時(shí)可使用50mil,3. 測試點(diǎn)必須均勻分佈於PCB 上,避免測試時(shí)造成板面受力不均。4. 多層板必須透過貫穿孔(VIA)將測試點(diǎn)留於錫爐著錫面上(Solder Side)。5. 測試點(diǎn)必需放至於Bottom Layer6. 輸出test point report(.asc 檔案powerpcb v3.5)供廠商分析可測率7. 測試點(diǎn)設(shè)置處:Setup􀃆pads􀃆stacks

    標(biāo)簽: layout design pcb 硬件工程師

    上傳時(shí)間: 2013-10-22

    上傳用戶:pei5

  • HT45F23 OPA 功能

    HT45F23 MCU 含有兩個(gè)運(yùn)算放大器,OPA1 和OPA2,可用於用戶特定的模擬信號(hào)處理,通 過控制暫存器,OPA 相關(guān)的應(yīng)用可以很容易實(shí)現(xiàn)。本文主要介紹OPA 的操作,暫存器設(shè)定 以及基本OPA 應(yīng)用,例如:同相放大器、反相放大器和電壓跟隨器。 HT45F23 運(yùn)算放大器OPA1/OPA2 具有多個(gè)開關(guān),輸入路徑可選以及多種參考電壓選擇,此 外OPA2 內(nèi)部有8 種增益選項(xiàng),直接通過軟體設(shè)定。適應(yīng)於各種廣泛的應(yīng)用。

    標(biāo)簽: 45F F23 OPA HT

    上傳時(shí)間: 2013-11-21

    上傳用戶:immanuel2006

  • 在FPGA中基于信元的FIFO設(shè)計(jì)方法實(shí)戰(zhàn)方法

      設(shè)計(jì)工程師通常在FPGA上實(shí)現(xiàn)FIFO(先進(jìn)先出寄存器)的時(shí)候,都會(huì)使用由芯片提供商所提供的FIFO。但是,由于其通用性使得其針對(duì)性變差,某些情況下會(huì)變得不方便或者將增加硬件成本。此時(shí),需要進(jìn)行自行FIFO設(shè)計(jì)。本文提供了一種基于信元的FIFO設(shè)計(jì)方法以供設(shè)計(jì)者在適當(dāng)?shù)臅r(shí)候選用。這種方法也適合于不定長包的處理。

    標(biāo)簽: FPGA FIFO 信元 設(shè)計(jì)方法

    上傳時(shí)間: 2014-01-13

    上傳用戶:mengmeng444425

  • 在FPGA中基于信元的FIFO設(shè)計(jì)方法實(shí)戰(zhàn)方法

      設(shè)計(jì)工程師通常在FPGA上實(shí)現(xiàn)FIFO(先進(jìn)先出寄存器)的時(shí)候,都會(huì)使用由芯片提供商所提供的FIFO。但是,由于其通用性使得其針對(duì)性變差,某些情況下會(huì)變得不方便或者將增加硬件成本。此時(shí),需要進(jìn)行自行FIFO設(shè)計(jì)。本文提供了一種基于信元的FIFO設(shè)計(jì)方法以供設(shè)計(jì)者在適當(dāng)?shù)臅r(shí)候選用。這種方法也適合于不定長包的處理。

    標(biāo)簽: FPGA FIFO 信元 設(shè)計(jì)方法

    上傳時(shí)間: 2013-11-05

    上傳用戶:ch3ch2oh

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