delphi登陸窗體的制作,就我知道的,可以有兩種方法,一種是在工程文件中實現登陸窗體的動態調用,另一種就是在主窗體的OnCreate事件中動態創建登陸窗體,兩種方法都需要將主窗體設置為Auto-create form,將登陸窗體設
標簽: OnCreate Auto-cr delphi 工程
上傳時間: 2016-08-04
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股市分析K線,測試版本,可以研究修正,勿用於商業販賣
標簽: 分 版本 正 商
上傳時間: 2014-01-04
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MicroShip IIC 使用的範例程式 , 測試成功
標簽: MicroShip IIC 程式
上傳時間: 2013-12-17
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MicroShip CAN Bus 範例 , 測試成功 , 新版的喔
標簽: MicroShip CAN Bus
上傳時間: 2014-01-27
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這是用 PIC16F690 做的電話來電號碼辨識開門的程序
標簽: F690 PIC 16F 690
上傳時間: 2013-12-16
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這是用 MICROCHIP PIC 做的可控制單相馬達且可電話遙控開門
標簽: MICROCHIP PIC 控制
上傳時間: 2016-08-08
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基於MCU c51/8051 讀寫SD/MMC card 再以USB 傳回電腦的範例程序
標簽: 8051 card MCU MMC
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delphi skn 皮膚﹐請大家試試看好不好﹗
標簽: delphi skn 家
上傳時間: 2016-08-14
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OPEN-JTAG ARM JTAG 測試原理 1 前言 本篇報告主要介紹ARM JTAG測試的基本原理。基本的內容包括了TAP (TEST ACCESS PORT) 和BOUNDARY-SCAN ARCHITECTURE的介紹,在此基礎上,結合ARM7TDMI詳細介紹了的JTAG測試原理。 2 IEEE Standard 1149.1 - Test Access Port and Boundary-Scan Architecture 從IEEE的JTAG測試標準開始,JTAG是JOINT TEST ACTION GROUP的簡稱。IEEE 1149.1標準最初是由JTAG這個組織提出,最終由IEEE批準並且標準化,所以,IEEE 1149.1這個標準一般也俗稱JTAG測試標準。 接下來介紹TAP (TEST ACCESS PORT) 和BOUNDARY-SCAN ARCHITECTURE的基本架構。
標簽: JTAG BOUNDARY-SCAN OPEN-JTAG ARM
上傳時間: 2016-08-16
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verilog除頻器可用於編碼段運用可以穩定電路設計
標簽: verilog
上傳時間: 2013-12-26
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