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  • 電源供應器analog電壓電流回受控制備PID功能並將運算結果透過SPI介面回傳另一顆單片機

    電源供應器analog電壓電流回受控制備PID功能並將運算結果透過SPI介面回傳另一顆單片機

    標簽: analog PID SPI 控制

    上傳時間: 2017-03-19

    上傳用戶:duoshen1989

  • 可使用FFT將影像轉至某個頻率後,將某一固定頻率上的影像顯現與濾除! 在對於背景複雜的影像處理上有很大的幫助

    可使用FFT將影像轉至某個頻率後,將某一固定頻率上的影像顯現與濾除! 在對於背景複雜的影像處理上有很大的幫助

    標簽: FFT 背景

    上傳時間: 2014-01-17

    上傳用戶:王小奇

  • 三軸伺服馬達控制程式利用軟體DDA方式讀回目前位置然後以取樣時間計算出下一點位置取誤差後利用DA將命令電壓送出做三軸控制

    三軸伺服馬達控制程式利用軟體DDA方式讀回目前位置然後以取樣時間計算出下一點位置取誤差後利用DA將命令電壓送出做三軸控制

    標簽: DDA 控制 伺服 命令

    上傳時間: 2017-04-02

    上傳用戶:firstbyte

  • 利用LTC2624 將數位信號轉類比信號

    利用LTC2624 將數位信號轉類比信號

    標簽: 2624 LTC

    上傳時間: 2013-12-16

    上傳用戶:zl5712176

  • busybox 配置錯誤的解決方法 2007-07-26 11:04 1. 如何編譯 2. 常見問題 - 如何將 busybox 編譯成 static linking - make menu

    busybox 配置錯誤的解決方法 2007-07-26 11:04 1. 如何編譯 2. 常見問題 - 如何將 busybox 編譯成 static linking - make menuconfig 出現下列錯誤

    標簽: busybox linking static 2007

    上傳時間: 2014-01-23

    上傳用戶:tfyt

  • 透過微處裡器4520將可變電阻的值透過ADC功能轉換結果秀在LCD上

    透過微處裡器4520將可變電阻的值透過ADC功能轉換結果秀在LCD上

    標簽: 4520 ADC LCD

    上傳時間: 2014-01-17

    上傳用戶:15736969615

  • 在嵌入系統中將系統從IDLE喚起

    在嵌入系統中將系統從IDLE喚起,開發環境為EVC

    標簽: IDLE 系統

    上傳時間: 2014-01-24

    上傳用戶:ecooo

  • PWM將每個EVA/B都開通

    PWM將每個EVA/B都開通,只要改一些地方就可以變成你要的資料PWM

    標簽: PWM EVA

    上傳時間: 2017-09-06

    上傳用戶:yan2267246

  • pcb layout design(臺灣硬件工程師15年經驗

    PCB LAYOUT 術語解釋(TERMS)1. COMPONENT SIDE(零件面、正面)︰大多數零件放置之面。2. SOLDER SIDE(焊錫面、反面)。3. SOLDER MASK(止焊膜面)︰通常指Solder Mask Open 之意。4. TOP PAD︰在零件面上所設計之零件腳PAD,不管是否鑽孔、電鍍。5. BOTTOM PAD:在銲錫面上所設計之零件腳PAD,不管是否鑽孔、電鍍。6. POSITIVE LAYER:單、雙層板之各層線路;多層板之上、下兩層線路及內層走線皆屬之。7. NEGATIVE LAYER:通常指多層板之電源層。8. INNER PAD:多層板之POSITIVE LAYER 內層PAD。9. ANTI-PAD:多層板之NEGATIVE LAYER 上所使用之絕緣範圍,不與零件腳相接。10. THERMAL PAD:多層板內NEGATIVE LAYER 上必須零件腳時所使用之PAD,一般稱為散熱孔或導通孔。11. PAD (銲墊):除了SMD PAD 外,其他PAD 之TOP PAD、BOTTOM PAD 及INNER PAD 之形狀大小皆應相同。12. Moat : 不同信號的 Power& GND plane 之間的分隔線13. Grid : 佈線時的走線格點2. Test Point : ATE 測試點供工廠ICT 測試治具使用ICT 測試點 LAYOUT 注意事項:PCB 的每條TRACE 都要有一個作為測試用之TEST PAD(測試點),其原則如下:1. 一般測試點大小均為30-35mil,元件分布較密時,測試點最小可至30mil.測試點與元件PAD 的距離最小為40mil。2. 測試點與測試點間的間距最小為50-75mil,一般使用75mil。密度高時可使用50mil,3. 測試點必須均勻分佈於PCB 上,避免測試時造成板面受力不均。4. 多層板必須透過貫穿孔(VIA)將測試點留於錫爐著錫面上(Solder Side)。5. 測試點必需放至於Bottom Layer6. 輸出test point report(.asc 檔案powerpcb v3.5)供廠商分析可測率7. 測試點設置處:Setup􀃆pads􀃆stacks

    標簽: layout design pcb 硬件工程師

    上傳時間: 2013-10-22

    上傳用戶:pei5

  • IC封裝製程簡介(IC封裝制程簡介)

    半導體的產品很多,應用的場合非常廣泛,圖一是常見的幾種半導體元件外型。半導體元件一般是以接腳形式或外型來劃分類別,圖一中不同類別的英文縮寫名稱原文為   PDID:Plastic Dual Inline Package SOP:Small Outline Package SOJ:Small Outline J-Lead Package PLCC:Plastic Leaded Chip Carrier QFP:Quad Flat Package PGA:Pin Grid Array BGA:Ball Grid Array         雖然半導體元件的外型種類很多,在電路板上常用的組裝方式有二種,一種是插入電路板的銲孔或腳座,如PDIP、PGA,另一種是貼附在電路板表面的銲墊上,如SOP、SOJ、PLCC、QFP、BGA。    從半導體元件的外觀,只看到從包覆的膠體或陶瓷中伸出的接腳,而半導體元件真正的的核心,是包覆在膠體或陶瓷內一片非常小的晶片,透過伸出的接腳與外部做資訊傳輸。圖二是一片EPROM元件,從上方的玻璃窗可看到內部的晶片,圖三是以顯微鏡將內部的晶片放大,可以看到晶片以多條銲線連接四周的接腳,這些接腳向外延伸並穿出膠體,成為晶片與外界通訊的道路。請注意圖三中有一條銲線從中斷裂,那是使用不當引發過電流而燒毀,致使晶片失去功能,這也是一般晶片遭到損毀而失效的原因之一。   圖四是常見的LED,也就是發光二極體,其內部也是一顆晶片,圖五是以顯微鏡正視LED的頂端,可從透明的膠體中隱約的看到一片方型的晶片及一條金色的銲線,若以LED二支接腳的極性來做分別,晶片是貼附在負極的腳上,經由銲線連接正極的腳。當LED通過正向電流時,晶片會發光而使LED發亮,如圖六所示。     半導體元件的製作分成兩段的製造程序,前一段是先製造元件的核心─晶片,稱為晶圓製造;後一段是將晶中片加以封裝成最後產品,稱為IC封裝製程,又可細分成晶圓切割、黏晶、銲線、封膠、印字、剪切成型等加工步驟,在本章節中將簡介這兩段的製造程序。

    標簽: 封裝 IC封裝 制程

    上傳時間: 2014-01-20

    上傳用戶:蒼山觀海

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