XAPP503-針對Xilinx器件的SVF和XSVF文件格式
This application note provides users with a general understanding of the SVF and XSVF fileformats as they apply to Xilinx devices. Some familiarity ...
1149技術資料
?? 資源總數：16
?? 源代碼：152
1149標準是IEEE定義的一種用于數字系統測試的邊界掃描技術，廣泛應用于復雜電路板的設計與故障診斷。通過該技術，工程師能夠實現對芯片間連接的有效檢測，極大提升了硬件調試效率及產品質量。掌握1149規范不僅有助于提升個人技能水平，在產品開發過程中也能顯著減少成本開支。本站提供16份精選1149相關資料，涵蓋從基礎理論到高級應用案例分析，助力您快速成為領域專家！
?? 1149熱門資料
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This application note provides users with a general understanding of the SVF and XSVF fileformats as they apply to Xilinx devices. Some familiarity ...
高性能、低功耗的8 位AVR® 微處理器 • 先進的RISC 結構
高性能、低功耗的8 位AVR® 微處理器 • 先進的RISC 結構，JTAG 接口( 與IEEE 1149.1 標準兼容)...
OPEN-JTAG ARM JTAG 測試原理 1 前言 本篇報告主要介紹ARM JTAG測試的基本原理。基本的內容包括了TAP (TEST ACCESS PORT) 和BOUNDARY-SCAN
OPEN-JTAG ARM JTAG 測試原理 1 前言 本篇報告主要介紹ARM JTAG測試的基本原理。基本的內容包括了TAP (TEST ACCESS PORT) 和BOUNDARY-SCAN ARCHITECTURE的介紹，在此基礎上，結合ARM7TDMI詳細介紹了的JTAG測試原理。 ...
CPU可測試性設計
可測試性設計（Design-For-Testability，DFT）已經成為芯片設計中不可或缺的重要組成部分。它通過在芯片的邏輯設計中加入測試邏輯提高芯片的可測試性。在高性能通用 CPU 的設計中，可測試性設計技術得到了廣泛的應用。本文結合幾款流行的 CPU，綜述了可應用于通用 CPU 等高性能芯片...
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