?? AdC技術(shù)資料

?? 資源總數(shù)：1087
?? 源代碼：16876
?? 電路圖：10
ADC帶進(jìn)位的加法指令A(yù)DCReg/Mem,Reg/Mem/Imm功能。

高性能ADC產(chǎn)品的出現(xiàn)，給混合信號(hào)測(cè)試領(lǐng)域帶來前所未有的挑戰(zhàn)。并行ADC測(cè)試方案實(shí)現(xiàn)了多個(gè)ADC測(cè)試過程的并行化和實(shí)時(shí)化，減少了單個(gè)ADC的平均測(cè)試時(shí)間，從而降低ADC測(cè)試成本。 本文實(shí)現(xiàn)了基于FPGA的ADC并行測(cè)試方法。在閱讀相關(guān)文獻(xiàn)的基礎(chǔ)上，總結(jié)了常用ADC參數(shù)測(cè)試方法和測(cè)試流程。使用FPGA...

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隨著現(xiàn)代通信與信號(hào)處理技術(shù)的不斷發(fā)展，對(duì)于高速高精度AD轉(zhuǎn)換器的需求越來越大。但是，隨著集成電路工藝中電路特征線寬的不斷減小，在傳統(tǒng)單通道ADC框架下同時(shí)實(shí)現(xiàn)高速、高精度的數(shù)模轉(zhuǎn)換愈加困難。此時(shí)，時(shí)分交替ADC 作為......

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高性能ADC產(chǎn)品的出現(xiàn)，給混合信號(hào)測(cè)試領(lǐng)域帶來前所未有的挑戰(zhàn)。并行ADC測(cè)試方案實(shí)現(xiàn)了多個(gè)ADC測(cè)試過程的并行化和實(shí)時(shí)化，減少了單個(gè)ADC的平均測(cè)試時(shí)間，從而降低ADC測(cè)試成本。本文實(shí)現(xiàn)了基于FPGA的ADC并行測(cè)試方法。在閱讀相關(guān)文獻(xiàn)的基礎(chǔ)上，總結(jié)了常用ADC參數(shù)測(cè)試方法和測(cè)試流程。使用FPGA實(shí)...

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