這篇文章主要介紹ARM JTAG調試的基本原理。基本的內容包括了TAP (TEST ACCESS PORT) 和BOUNDARY-SCAN ARCHITECTURE的介紹
這篇文章主要介紹ARM JTAG調試的基本原理。基本的內容包括了TAP (TEST ACCESS PORT) 和BOUNDARY-SCAN ARCHITECTURE的介紹，在此基礎上，結合ARM7TD...
BOUNDARY-SCAN技術資料
?? 資源總數：143
?? 源代碼：13159
?? BOUNDARY-SCAN全部資料 (143個)
Boundary-Scan Description file (BSD) for the AT91SAM7X256 in LQFP package
Boundary-Scan Description file (BSD) for the AT91SAM7X256 in LQFP package...
Boundary-Scan Description file (BSD) for the AT91SAM7X256, AT91SAM7X128, AT91SAM7XC256, AT91SAM7XC12
Boundary-Scan Description file (BSD) for the AT91SAM7X256, AT91SAM7X128, AT91SAM7XC256, AT91SAM7XC12...
這篇文章主要介紹ARM JTAG調試的基本原理。基本的內容包括了TAP (TEST ACCESS PORT) 和BOUNDARY-SCAN ARCHITECTURE的介紹
這篇文章主要介紹ARM JTAG調試的基本原理。基本的內容包括了TAP (TEST ACCESS PORT) 和BOUNDARY-SCAN ARCHITECTURE的介紹，在此基礎上，結合ARM7TD...
OPEN-JTAG ARM JTAG 測試原理 1 前言 本篇報告主要介紹ARM JTAG測試的基本原理。基本的內容包括了TAP (TEST ACCESS PORT) 和BOUNDARY-SCAN
OPEN-JTAG ARM JTAG 測試原理 1 前言 本篇報告主要介紹ARM JTAG測試的基本原理。基本的內容包括了TAP (TEST ACCESS PORT) 和BOUNDARY-SCAN...
xapp069 - 使用XC9500 JTAG邊界掃描接口
This application note explains the XC9500™/XL/XV Boundary Scan interface anddemonstrates the...
xapp069 - 使用XC9500 JTAG邊界掃描接口
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CPU可測試性設計
可測試性設計（Design-For-Testability，DFT）已經成為芯片設計中不可或缺的重要組成部分。它通過在芯片的邏輯設計中加入測試邏輯提高芯片的可測試性。在高性能通用 CPU 的設計中，可...
JTAG基礎知識
IEEE1149.1的產生1985年由IBM、AT&T、Texas Instruments、Philips Electronics NV、Siemens、Alcatel和Ericsson等公司...
VIP專區-嵌入式/單片機編程源碼精選合集系列（39）
VIP專區-嵌入式/單片機編程源碼精選合集系列（39）資源包含以下內容：1. 這是有關SPI總線的一段讀寫程序.2. 這是一段MAX7219的驅動C51源程序.3. 利用msp430的通用I/O端口模...