BMA射頻同軸連接器系列
上傳時(shí)間： 2013-04-15
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二叉排序樹（Binary Sort Tree--BST）或者是一棵空樹；或者是具有下列性質(zhì)的二叉樹： ⑴ 若左子樹不空，則左子樹上所有結(jié)點(diǎn)的值均小于根結(jié)點(diǎn)的值；若右子樹不空，則右子樹上所有結(jié)點(diǎn)的值均大于根結(jié)點(diǎn)的值。 ⑵ 左右子樹也都是二叉排序樹。 (3) 中序遍歷BST可得到一個(gè)關(guān)鍵字的有序序列 文本文件單詞索引是指將文本中單詞按字母順序列出并且列出每個(gè)單詞在文本中出現(xiàn)的次數(shù)，它也是關(guān)鍵字列表的一種特例，即單詞為關(guān)鍵字并附加每個(gè)關(guān)鍵字在文中出現(xiàn)次數(shù).文本文件單詞索引常用于作者著作分析以此決定有爭(zhēng)議作品作者身份。 實(shí)驗(yàn)?zāi)康呐c目標(biāo)
上傳時(shí)間： 2013-12-19
上傳用戶：410805624
source code about BST on Java
標(biāo)簽： source about code Java
上傳時(shí)間： 2013-12-16
上傳用戶：nairui21
給出了糾錯(cuò)編碼中BCh碼BMA迭代譯碼方法的整個(gè)流程及仿真程序
標(biāo)簽： BCh BMA 糾錯(cuò)編碼 流程
上傳時(shí)間： 2013-12-13
上傳用戶：jyycc
關(guān)于BST的基本功能和基本操作~適合初初學(xué)者使用~
上傳時(shí)間： 2014-01-18
上傳用戶：lhc9102
元器件樣本專輯 116冊(cè) 3.03GBMA射頻同軸連接器系列.pdf
標(biāo)簽：
上傳時(shí)間： 2014-05-05
上傳用戶：時(shí)代將軍
現(xiàn)場(chǎng)可編程門陣列(FPGA)是一種新型器件,它將門陣列的通用結(jié)構(gòu)與現(xiàn)場(chǎng)可編程的特性結(jié)合于一體.如今,FPGA系列器件已成為最受歡迎的器件之一.隨著FPGA器件的廣泛應(yīng)用,它在數(shù)字系統(tǒng)中的作用日益變得重要,它所要求的準(zhǔn)確性也變得更高.因此,對(duì)FPGA器件的故障測(cè)試和故障診斷方法進(jìn)行更全面的研究具有重要意義.隨著集成電路規(guī)模的迅速膨脹,電路結(jié)構(gòu)變得復(fù)雜,使大量的故障不可測(cè).所以,人們把視線轉(zhuǎn)向了可測(cè)性設(shè)計(jì)(DFT)問題.可測(cè)性設(shè)計(jì)的提出為解決測(cè)試問題開辟了新的有效途徑,而邊界掃描測(cè)試方法(BST)是其中一個(gè)重要的技術(shù).本文闡述了FPGA系列器件的結(jié)構(gòu)特點(diǎn),邊界掃描測(cè)試相關(guān)的基本概念與基本理論,給出利用布爾矩陣?yán)碚摻⒌倪吔鐠呙铚y(cè)試過程的數(shù)學(xué)描述和數(shù)學(xué)模型.論文中主要討論了邊界掃描測(cè)試中的測(cè)試優(yōu)化問題,給出解決兩類優(yōu)化問題的現(xiàn)有算法,對(duì)它們的優(yōu)缺點(diǎn)進(jìn)行了對(duì)比,并且提出對(duì)兩種現(xiàn)有算法的改進(jìn),比較了改進(jìn)前后優(yōu)化算法的性能.最后總結(jié)了利用邊界掃描測(cè)試FPGA的具體過程.
標(biāo)簽： FPGA 邊界掃描 測(cè)試 方法研究
上傳時(shí)間： 2013-08-06
上傳用戶：mdrd3080
隨著印制電路板功能的日益增強(qiáng)，結(jié)構(gòu)日趨復(fù)雜，系統(tǒng)中各個(gè)功能單元之間的連線間距越來(lái)越細(xì)密，基于探針的電路系統(tǒng)測(cè)試方法已經(jīng)很難滿足現(xiàn)在的測(cè)試需要。邊界掃描測(cè)試(BST)技術(shù)通過將邊界掃描寄存器單元安插在集成電路內(nèi)部的每個(gè)引腳上，相當(dāng)于設(shè)置了施加激勵(lì)和觀測(cè)響應(yīng)的內(nèi)建虛擬探頭，通過該技術(shù)可以大大的提高數(shù)字系統(tǒng)的可觀測(cè)性和可控性，降低測(cè)試難度。針對(duì)這種測(cè)試需求，本文給出了基于FPGA的邊界掃描控制器設(shè)計(jì)方法。 完整的邊界掃描測(cè)試系統(tǒng)主要由測(cè)試控制部分和目標(biāo)器件構(gòu)成，其中測(cè)試控制部分由測(cè)試圖形、數(shù)據(jù)的生成與分析及邊界掃描控制器兩部分構(gòu)成。而邊界掃描控制器是整個(gè)系統(tǒng)的核心，它主要實(shí)現(xiàn)JTAG協(xié)議的自動(dòng)轉(zhuǎn)換，產(chǎn)生符合IEEE標(biāo)準(zhǔn)的邊界掃描測(cè)試總線信號(hào)，而邊界掃描測(cè)試系統(tǒng)工作性能主要取決與邊界掃描控制器的工作效率。因此，設(shè)計(jì)一個(gè)能夠快速、準(zhǔn)確的完成JTAG協(xié)議轉(zhuǎn)換，并且具有通用性的邊界掃描控制器是本文的主要研究工作。 本文首先從邊界掃描技術(shù)的基本原理入手，分析邊界掃描測(cè)試的物理基礎(chǔ)、邊界掃描的測(cè)試指令及與可測(cè)性設(shè)計(jì)相關(guān)的標(biāo)準(zhǔn)，提出了邊界掃描控制器的總體設(shè)計(jì)方案。其次，采用模塊化設(shè)計(jì)思想、VHDL語(yǔ)言描述來(lái)完成要實(shí)現(xiàn)的邊界掃描控制器的硬件設(shè)計(jì)。然后，利用自頂向下的驗(yàn)證方法，在對(duì)控制器內(nèi)功能模塊進(jìn)行基于Testbench驗(yàn)證的基礎(chǔ)上，利用嵌入式系統(tǒng)的設(shè)計(jì)思想，將所設(shè)計(jì)的邊界掃描控制器集成到SOPC中，構(gòu)成了基于SOPC的邊界掃描測(cè)試系統(tǒng)。并且對(duì)SOPC系統(tǒng)進(jìn)行軟硬件協(xié)同仿真，實(shí)現(xiàn)對(duì)邊界掃描控制器的功能驗(yàn)證后將其應(yīng)用到實(shí)際的測(cè)試電路當(dāng)中。最后，在基于SignalTapⅡ硬件調(diào)試的基礎(chǔ)上，軟硬件結(jié)合對(duì)整個(gè)系統(tǒng)可行性進(jìn)行了測(cè)試。從測(cè)試結(jié)果看，達(dá)到了預(yù)期的設(shè)計(jì)目標(biāo)，該邊界掃描控制器的設(shè)計(jì)方案是正確可行的。 本文設(shè)計(jì)的邊界掃描控制器具有自主知識(shí)產(chǎn)權(quán)，可以與其他處理器結(jié)合構(gòu)成完整的邊界掃描測(cè)試系統(tǒng)，并且為SOPC系統(tǒng)提供了一個(gè)很有實(shí)用價(jià)值的組件，具有很明顯的現(xiàn)實(shí)意義。
上傳時(shí)間： 2013-07-20
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博士BMA250的datesee
上傳時(shí)間： 2013-11-08
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數(shù)據(jù)結(jié)構(gòu)，由陳起峰創(chuàng)作，是一種優(yōu)秀的bst，用size控制，稱為sbt
標(biāo)簽： 數(shù)據(jù)結(jié)構(gòu)
上傳時(shí)間： 2016-11-05
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