DesignSpark PCB 第3版現(xiàn)已推出! 包括3種全新功能: 1. 模擬介面 Simulation Interface 2. 設(shè)計(jì)計(jì)算機(jī) Design Calculator 3. 零件群組 Component Grouping 第3版新功能介紹 (含資料下載) 另外, 中文版的教學(xué)已經(jīng)準(zhǔn)備好了, 備有簡(jiǎn)體和繁體版, 趕快下載來(lái)看看! 設(shè)計(jì)PCB產(chǎn)品激活：激活入品 Lorem ipsum dolor sit amet, consectetur adipisicing elit, sed do eiusmod tempor incididunt ut labore et dolore magna aliqua. Ut enim ad minim veniam, quis nostrud exercitation ullamco laboris nisi ut aliquip ex ea commodo consequat. Duis aute irure dolor in reprehenderit in voluptate velit esse cillum dolore eu fugiat nulla pariatur. Excepteur sint occaecat cupidatat non proident, sunt in culpa qui officia deserunt mollit anim id est laborum。
標(biāo)簽： DesignSpark PCB 設(shè)計(jì)工具 免費(fèi)下載
上傳時(shí)間： 2013-10-07
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PCB LAYOUT 術(shù)語(yǔ)解釋(TERMS)1. COMPONENT SIDE(零件面、正面)︰大多數(shù)零件放置之面。2. SOLDER SIDE(焊錫面、反面)。3. SOLDER MASK(止焊膜面)︰通常指Solder Mask Open 之意。4. TOP PAD︰在零件面上所設(shè)計(jì)之零件腳PAD，不管是否鑽孔、電鍍。5. BOTTOM PAD：在銲錫面上所設(shè)計(jì)之零件腳PAD，不管是否鑽孔、電鍍。6. POSITIVE LAYER：?jiǎn)巍㈦p層板之各層線路；多層板之上、下兩層線路及內(nèi)層走線皆屬之。7. NEGATIVE LAYER：通常指多層板之電源層。8. INNER PAD：多層板之POSITIVE LAYER 內(nèi)層PAD。9. ANTI-PAD：多層板之NEGATIVE LAYER 上所使用之絕緣範(fàn)圍，不與零件腳相接。10. THERMAL PAD：多層板內(nèi)NEGATIVE LAYER 上必須零件腳時(shí)所使用之PAD，一般稱為散熱孔或?qū)住?1. PAD (銲墊)：除了SMD PAD 外，其他PAD 之TOP PAD、BOTTOM PAD 及INNER PAD 之形狀大小皆應(yīng)相同。12. Moat : 不同信號(hào)的 Power& GND plane 之間的分隔線13. Grid : 佈線時(shí)的走線格點(diǎn)2. Test Point : ATE 測(cè)試點(diǎn)供工廠ICT 測(cè)試治具使用ICT 測(cè)試點(diǎn) LAYOUT 注意事項(xiàng):PCB 的每條TRACE 都要有一個(gè)作為測(cè)試用之TEST PAD(測(cè)試點(diǎn))，其原則如下：1. 一般測(cè)試點(diǎn)大小均為30-35mil，元件分布較密時(shí)，測(cè)試點(diǎn)最小可至30mil.測(cè)試點(diǎn)與元件PAD 的距離最小為40mil。2. 測(cè)試點(diǎn)與測(cè)試點(diǎn)間的間距最小為50-75mil，一般使用75mil。密度高時(shí)可使用50mil,3. 測(cè)試點(diǎn)必須均勻分佈於PCB 上，避免測(cè)試時(shí)造成板面受力不均。4. 多層板必須透過(guò)貫穿孔(VIA)將測(cè)試點(diǎn)留於錫爐著錫面上(Solder Side)。5. 測(cè)試點(diǎn)必需放至於Bottom Layer6. 輸出test point report(.asc 檔案powerpcb v3.5)供廠商分析可測(cè)率7. 測(cè)試點(diǎn)設(shè)置處:Setuppadsstacks
標(biāo)簽： layout design pcb 硬件工程師
上傳時(shí)間： 2013-11-17
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半導(dǎo)體的產(chǎn)品很多，應(yīng)用的場(chǎng)合非常廣泛，圖一是常見(jiàn)的幾種半導(dǎo)體元件外型。半導(dǎo)體元件一般是以接腳形式或外型來(lái)劃分類別，圖一中不同類別的英文縮寫名稱原文為 PDID：Plastic Dual Inline Package SOP：Small Outline Package SOJ：Small Outline J-Lead Package PLCC：Plastic Leaded Chip Carrier QFP：Quad Flat Package PGA：Pin Grid Array BGA：Ball Grid Array 雖然半導(dǎo)體元件的外型種類很多，在電路板上常用的組裝方式有二種，一種是插入電路板的銲孔或腳座，如PDIP、PGA，另一種是貼附在電路板表面的銲墊上，如SOP、SOJ、PLCC、QFP、BGA。 從半導(dǎo)體元件的外觀，只看到從包覆的膠體或陶瓷中伸出的接腳，而半導(dǎo)體元件真正的的核心，是包覆在膠體或陶瓷內(nèi)一片非常小的晶片，透過(guò)伸出的接腳與外部做資訊傳輸。圖二是一片EPROM元件，從上方的玻璃窗可看到內(nèi)部的晶片，圖三是以顯微鏡將內(nèi)部的晶片放大，可以看到晶片以多條銲線連接四周的接腳，這些接腳向外延伸並穿出膠體，成為晶片與外界通訊的道路。請(qǐng)注意圖三中有一條銲線從中斷裂，那是使用不當(dāng)引發(fā)過(guò)電流而燒毀，致使晶片失去功能，這也是一般晶片遭到損毀而失效的原因之一。 圖四是常見(jiàn)的LED，也就是發(fā)光二極體，其內(nèi)部也是一顆晶片，圖五是以顯微鏡正視LED的頂端，可從透明的膠體中隱約的看到一片方型的晶片及一條金色的銲線，若以LED二支接腳的極性來(lái)做分別，晶片是貼附在負(fù)極的腳上，經(jīng)由銲線連接正極的腳。當(dāng)LED通過(guò)正向電流時(shí)，晶片會(huì)發(fā)光而使LED發(fā)亮，如圖六所示。 半導(dǎo)體元件的製作分成兩段的製造程序，前一段是先製造元件的核心─晶片，稱為晶圓製造；後一段是將晶中片加以封裝成最後產(chǎn)品，稱為IC封裝製程，又可細(xì)分成晶圓切割、黏晶、銲線、封膠、印字、剪切成型等加工步驟，在本章節(jié)中將簡(jiǎn)介這兩段的製造程序。
上傳時(shí)間： 2013-11-04
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隨著軟件產(chǎn)業(yè)的迅速發(fā)展,軟件產(chǎn)品的版權(quán)保護(hù)已成為一個(gè)十分重要的問(wèn)題.詳細(xì)介紹了軟件水印這 種新興軟件版權(quán)保護(hù)技術(shù),深入分析了軟件水印的現(xiàn)狀、分類、攻擊方法以及已有的各種算法,并分別討論了這 些算法的利弊,最后提出軟件水印的下一步發(fā)展方向.
上傳時(shí)間： 2015-04-06
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這是臺(tái)灣鳥哥linux私房菜的電子書檔，內(nèi)容是一些linux的基礎(chǔ)教學(xué)與架設(shè)伺服器的設(shè)定，希望大家會(huì)喜歡
標(biāo)簽： linux
上傳時(shí)間： 2014-01-18
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IP反向追蹤技術(shù)綜述 拒絕服務(wù)攻擊(DoS)給政府部門和商業(yè)機(jī)構(gòu)造成了嚴(yán)重的經(jīng)濟(jì)損失和社會(huì)威脅。IP追蹤技術(shù)能夠反向追蹤IP數(shù)據(jù)包到它 們的源頭，所以是識(shí)別和阻止DoS攻擊的重要一步。本文針對(duì)DoS攻擊，對(duì)比分析了各個(gè)IP反向追蹤方法的基本原理和優(yōu)缺點(diǎn)。 關(guān)鍵詞 DoS攻擊 主動(dòng)追蹤 反應(yīng)追蹤
上傳時(shí)間： 2014-01-15
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使用md5校驗(yàn)和算法保護(hù)文件 通俗的說(shuō)，就是為保證數(shù)據(jù)的完整性，用一種指定的算法對(duì)原始數(shù)據(jù)計(jì)算出的一個(gè)校驗(yàn)值。接收方用同樣的算法計(jì)算一次校驗(yàn)值，如果和隨數(shù)據(jù)提供的校驗(yàn)值一樣，就說(shuō)明數(shù)據(jù)是完整的。
上傳時(shí)間： 2015-11-21
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說(shuō)明 除了自身之外，無(wú)法被其它整數(shù)整除的數(shù)稱之為質(zhì)數(shù)，要求質(zhì)數(shù)很簡(jiǎn)單，但如何快速的求出質(zhì)數(shù)則一直是程式設(shè)計(jì)人員與數(shù)學(xué)家努力的課題，在這邊介紹一個(gè)著名的 Eratosthenes求質(zhì)數(shù)方法 解。 以背包問(wèn)題為例，我們使用兩個(gè)陣列value與item，value表示目前的最佳解所得之總價(jià)，item表示最後一個(gè)放至背包的水果，假設(shè)有負(fù)重量 1～8的背包8個(gè)，並對(duì)每個(gè)背包求其最佳解。
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上傳時(shí)間： 2013-12-22
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struts源代碼，手把手教你struts開發(fā)步驟 讓你成爲(wèi)真正的struts開發(fā)高手，包括一個(gè)真實(shí)的案例開發(fā)。
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上傳時(shí)間： 2014-12-07
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介紹lr語(yǔ)法分析器的自動(dòng)構(gòu)造過(guò)程，具體分析語(yǔ)法分析器生成的每一步
標(biāo)簽： 語(yǔ)法分析器 自動(dòng) 過(guò)程
上傳時(shí)間： 2014-12-08
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