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PCb

為了描述控制進(jìn)程的運(yùn)行,系統(tǒng)中存放進(jìn)程的管理和控制信息的數(shù)據(jù)結(jié)構(gòu)稱為進(jìn)程控制塊(PCbProcessControlBlock),它是進(jìn)程實體的一部分,是操作系統(tǒng)中最重要的記錄性數(shù)據(jù)結(jié)構(gòu)。它是進(jìn)程管理和控制的最重要的數(shù)據(jù)結(jié)構(gòu),每一個進(jìn)程均有一個PCb,在創(chuàng)建進(jìn)程時,建立PCb,伴隨進(jìn)程運(yùn)行的全過程,直到進(jìn)程撤消而撤消。
  • PCb可測性設(shè)計布線規(guī)則之建議―從源頭改善可測率

    P C B 可測性設(shè)計布線規(guī)則之建議― ― 從源頭改善可測率PCb 設(shè)計除需考慮功能性與安全性等要求外,亦需考慮可生產(chǎn)與可測試。這里提供可測性設(shè)計建議供設(shè)計布線工程師參考。1. 每一個銅箔電路支點,至少需要一個可測試點。如無對應(yīng)的測試點,將可導(dǎo)致與之相關(guān)的開短路不可檢出,并且與之相連的零件會因無測試點而不可測。2. 雙面治具會增加制作成本,且上針板的測試針定位準(zhǔn)確度差。所以Layout 時應(yīng)通過Via Hole 盡可能將測試點放置于同一面。這樣就只要做單面治具即可。3. 測試選點優(yōu)先級:A.測墊(Test Pad) B.通孔(Through Hole) C.零件腳(Component Lead) D.貫穿孔(Via Hole)(未Mask)。而對于零件腳,應(yīng)以AI 零件腳及其它較細(xì)較短腳為優(yōu)先,較粗或較長的引腳接觸性誤判多。4. PCb 厚度至少要62mil(1.35mm),厚度少于此值之PCb 容易板彎變形,影響測點精準(zhǔn)度,制作治具需特殊處理。5. 避免將測點置于SMT 之PAD 上,因SMT 零件會偏移,故不可靠,且易傷及零件。6. 避免使用過長零件腳(>170mil(4.3mm))或過大的孔(直徑>1.5mm)為測點。7. 對于電池(Battery)最好預(yù)留Jumper,在ICT 測試時能有效隔離電池的影響。8. 定位孔要求:(a) 定位孔(Tooling Hole)直徑最好為125mil(3.175mm)及其以上。(b) 每一片PCb 須有2 個定位孔和一個防呆孔(也可說成定位孔,用以預(yù)防將PCb反放而導(dǎo)致機(jī)器壓破板),且孔內(nèi)不能沾錫。(c) 選擇以對角線,距離最遠(yuǎn)之2 孔為定位孔。(d) 各定位孔(含防呆孔)不應(yīng)設(shè)計成中心對稱,即PCb 旋轉(zhuǎn)180 度角后仍能放入PCb,這樣,作業(yè)員易于反放而致機(jī)器壓破板)9. 測試點要求:(e) 兩測點或測點與預(yù)鉆孔之中心距不得小于50mil(1.27mm),否則有一測點無法植針。以大于100mil(2.54mm)為佳,其次是75mil(1.905mm)。(f) 測點應(yīng)離其附近零件(位于同一面者)至少100mil,如為高于3mm 零件,則應(yīng)至少間距120mil,方便治具制作。(g) 測點應(yīng)平均分布于PCb 表面,避免局部密度過高,影響治具測試時測試針壓力平衡。(h) 測點直徑最好能不小于35mil(0.9mm),如在上針板,則最好不小于40mil(1.00mm),圓形、正方形均可。小于0.030”(30mil)之測點需額外加工,以導(dǎo)正目標(biāo)。(i) 測點的Pad 及Via 不應(yīng)有防焊漆(Solder Mask)。(j) 測點應(yīng)離板邊或折邊至少100mil。(k) 錫點被實踐證實是最好的測試探針接觸點。因為錫的氧化物較輕且容易刺穿。以錫點作測試點,因接觸不良導(dǎo)致誤判的機(jī)會極少且可延長探針使用壽命。錫點尤其以PCb 光板制作時的噴錫點最佳。PCb 裸銅測點,高溫后已氧化,且其硬度高,所以探針接觸電阻變化而致測試誤判率很高。如果裸銅測點在SMT 時加上錫膏再經(jīng)回流焊固化為錫點,雖可大幅改善,但因助焊劑或吃錫不完全的緣故,仍會出現(xiàn)較多的接觸誤判。

    標(biāo)簽: PCb 可測性設(shè)計 布線規(guī)則

    上傳時間: 2014-01-14

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  • 新版交通燈模組(包括PCb圖、使用說明書和產(chǎn)品說明書)

    新版交通燈模組范例代碼、電路原理圖、PCb圖、使用說明書和產(chǎn)品說明書(快速上手)。

    標(biāo)簽: PCb 交通燈 模組 使用說明書

    上傳時間: 2013-10-20

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  • 單片機(jī)萬年歷設(shè)計(含程序和原理圖以及PCb文件)

    單片機(jī)萬年歷設(shè)計(含程序和原理圖以及PCb文件),盡供學(xué)習(xí)哦。

    標(biāo)簽: PCb 單片機(jī) 萬年歷 程序

    上傳時間: 2013-12-18

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  • 2407最小系統(tǒng)PCb

    DSP 2407 的最小系統(tǒng)板原理圖(PCb),可以直接拿來自己做一個,不用買開發(fā)板,設(shè)計時加個外圍擴(kuò)展RAM

    標(biāo)簽: 2407 PCb 最小系統(tǒng)

    上傳時間: 2013-10-19

    上傳用戶:zhangyi99104144

  • 《EDA工具手冊》PCb設(shè)計分冊

    《EDA工具手冊》PCb設(shè)計分冊

    標(biāo)簽: EDA PCb

    上傳時間: 2013-11-02

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  • 射頻電路PCb的設(shè)計技巧

    針對多層線路板中射頻電路板的布局和布線,根據(jù)本人在射頻電路PCb設(shè)計中的經(jīng)驗積累,總結(jié)了一些布局布線的設(shè)計技巧。并就這些技巧向行業(yè)里的同行和前輩咨詢,同時查閱相關(guān)資料,得到認(rèn)可,是該行業(yè)里的普遍做法。多次在射頻電路的PCb設(shè)計中采用這些技巧,在后期PCb的硬件調(diào)試中得到證實,對減少射頻電路中的干擾有很不錯的效果,是較優(yōu)的方案。

    標(biāo)簽: PCb 射頻電路 設(shè)計技巧

    上傳時間: 2013-10-21

    上傳用戶:467368609

  • FPGA數(shù)字存儲掃頻儀(源代碼+電路圖+PCb圖)

      頻率特征測試儀是用來測量電路傳輸特性和阻抗特性的儀器,簡稱掃頻儀。掃頻信號源是掃頻儀的主要功能部件,作用是產(chǎn)生測量用的正弦掃頻信號,其 掃頻范圍可調(diào),輸出信號幅度等幅。本設(shè)計采用DDS(數(shù)字頻率合成技術(shù))產(chǎn)生掃頻信號,以Xilinx FPGA為控制核心,通過A/D和D/A等接口電路,實現(xiàn)掃頻信號頻率的步進(jìn)調(diào)整、幅度與相位的測量,創(chuàng)新的使用了計算機(jī)軟件作為儀器面板來顯示被測網(wǎng)絡(luò) 幅頻特性與相頻特性,并且測試結(jié)果可保存到各種存儲介質(zhì)中。

    標(biāo)簽: FPGA PCb 數(shù)字存儲 掃頻儀

    上傳時間: 2013-10-19

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  • AstroII原理圖和PCb

      智能型器件 AstroII原理圖和PCb

    標(biāo)簽: AstroII PCb 原理圖

    上傳時間: 2014-12-28

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  • UG203-Virtex-5 PCb設(shè)計指南

    UG203-Virtex-5 PCb設(shè)計指南

    標(biāo)簽: Virtex 203 PCb UG

    上傳時間: 2014-01-23

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  • 藍(lán)牙模塊原理圖(PCb板+BC3+Flash的芯片)

    藍(lán)牙模塊原理圖內(nèi)容有藍(lán)牙耳機(jī)的PCb板+BC3+Flash的芯片。

    標(biāo)簽: Flash PCb BC 藍(lán)牙模塊

    上傳時間: 2013-11-15

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