利用過采樣技術提高ADC測量分辨率
提出了用“過采樣”技術使在有用的測量頻帶內的信噪比得到改善, 從而提高ADC 測量的分辨率。并利用Matlab 對其結論進行仿真, 且在TMS320L F2407 DSP 上予以實現,結果表明信噪比和測量分辨率明顯提高。 ...
PDB-adc技術資料
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查看全部1099個資源 ?STC12C5A60S2系列ADC測試結果(使用12位DA測試--4096個測試點)
STC12C5A60S2系列ADC測試結果(使用12位DA測試--4096個測試點) ...
Luminary的ADC過采樣應用筆記
Luminary的ADC過采樣應用筆記 本文主要介紹一種Luminary單片機高精度低成本AD轉換的實現方法，解決在某些要求高精度ADC領域的Luminary應用問題。...
基于HT66Fx0使用ADC所有功能
基于HT66Fx0使用ADC所有功能 本范例以HT66F40 為例，連續開啟8 個A/D 通道，啟動A/D 轉換，并將轉換結果進行保存，實現多路電壓采集功能，并介紹如何用一個內建的1.25V 的參考電壓來實現電源電壓的采集，以及實現A/D 精確取樣。...
高速ADC的新型串行接口標準JESD204應用指南
作為具有豐富模擬器件設計經驗的數據轉換器領導企業， NXP半導體公司提供豐富多樣的高質量的數據轉換解決方案。 在NXP半導體公司的高速模數轉換器（ADC）產品中，您可以根據最終應用選擇最適合的產品，無論是行業應用產品，還是消費類電子產品。我們提供完整的解決方案以滿足快速上市的需求，或者提供專用的產...
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