RSA ( Rivest Shamir Adleman )is crypthograph system that used to give a secret information and digital signature . Its security based on Integer Factorization Problem (IFP). RSA uses an asymetric key. RSA was created by Rivest, Shamir, and Adleman in 1977. Every user have a pair of key, public key and private key. Public key (e) . You may choose any number for e with these requirements, 1< e <Æ (n), where Æ (n)= (p-1) (q-1) ( p and q are first-rate), gcd (e,Æ (n))=1 (gcd= greatest common divisor). Private key (d). d=(1/e) mod(Æ (n)) Encyption (C) . C=Mª mod(n), a = e (public key), n=pq Descryption (D) . D=C° mod(n), o = d (private key
標(biāo)簽： crypthograph information Adleman Rivest
上傳時間： 2017-09-01
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產(chǎn)品型號:VKD233DS 封裝形式：DFN-6(超小封裝體積2*2mm) 產(chǎn)品年份：新年份 品牌：臺灣元泰VINTEK 臺灣元泰原廠直銷，原裝現(xiàn)貨更有優(yōu)勢！原廠技術(shù)支持，讓您的生產(chǎn)高枕無憂。 單按鍵觸摸檢測 IC 概 述 - VKD233DS是單按鍵觸摸檢測芯片, 此觸摸檢測芯片內(nèi)建穩(wěn)壓電路, 提供 穩(wěn)定的電壓給觸摸感應(yīng)電路使用, 穩(wěn)定的觸摸檢測效果可以廣泛的滿足不同應(yīng)用的需求, 此觸摸檢測芯片是專為取代傳統(tǒng)按鍵而設(shè)計, 觸摸檢測 PAD 的大小可依不同的靈敏度設(shè) 計在合理的范圍內(nèi), 低功耗與寬工作電壓, 是此觸摸芯片在 DC 或 AC 應(yīng)用上的特性。 特 點 - 工作電壓 2.4V ~ 5.5V - 內(nèi)建穩(wěn)壓電路提供穩(wěn)定的電壓給觸摸檢電路使用 - 內(nèi)建低壓重置(LVR)功能 - 工作電流 @VDD=3V﹐無負(fù)載 快速模式下典型值 4uA?更大值 8uA - 輸出響應(yīng)時間大約為快速模式下 46mS @VDD=3V - 可以由外部電容 (1~50pF) 調(diào)整靈敏度 - 穩(wěn)定的人體觸摸檢測可取代傳統(tǒng)的按鍵開關(guān) - 提供快速模式 - 提供輸出模式選擇 (TOG pin) 可選擇直接輸出或鎖存 (toggle) 輸出 - 提供更長輸出時間約 16 秒(±35% @ VDD=3.0V) - Q pin 為 CMOS 輸出﹐可由 (AHLB pin) 選擇高電平輸出有效或低電平輸出有效 - 上電后約有 0.5 秒的穩(wěn)定時間﹐此期間內(nèi)不要觸摸檢測點﹐此時所有功能都被禁止 - 自動校準(zhǔn)功能 剛上電的 8 秒內(nèi)約每 1 秒刷新一次參考值﹐若在上電后的 8 秒內(nèi)有觸摸按鍵或 8 秒后仍未觸摸 按鍵，則重新校準(zhǔn)周期切換為 4 秒 應(yīng)用范圍 - 各種消費性產(chǎn)品 - 取代按鈕按鍵 ------------------------------------ 產(chǎn)品型號：VKD223EB 產(chǎn)品品牌：VINTEK/元泰 封裝形式：SOT23-6 產(chǎn)品年份：新年份產(chǎn)品 臺灣元泰原廠直銷，原裝現(xiàn)貨具有優(yōu)勢！工程服務(wù)，技術(shù)支持，讓您的生產(chǎn)高枕無憂。 概 述 -VKD223EB是單按鍵觸摸檢測芯片, 穩(wěn)定的觸摸檢測效果可以廣泛的滿足不同應(yīng)用的需求, 此觸摸檢測芯片是專為取代傳統(tǒng)按鍵而設(shè)計, 觸摸檢測 PAD 的大小可依不同的靈敏度設(shè)計在合理的范圍內(nèi), 低功耗與寬工作電壓, 是此觸摸芯片在 DC 或 AC應(yīng)用上的特性。 特 點 - 工作電壓 2.0V ~ 5.5V - 工作電流 @VDD=3V﹐無負(fù)載 低功耗模式下典型值 2.0uA?更大值 4.0uA - 最長響應(yīng)時間大約為低功耗模式 220ms @VDD=3V - 可以由外部電容 (1~50pF) 調(diào)整靈敏度 - 穩(wěn)定的人體觸摸檢測可取代傳統(tǒng)的按鍵開關(guān) - 提供低功耗模式 - 提供輸出模式選擇 (TOG pin)可選擇直接輸出或鎖存 (toggle) 輸出 - Q pin 為 CMOS 輸出﹐可由 (AHLB pin) 選擇高電平輸出有效或低電平輸出有效 - 上電后約有 0.5 秒的穩(wěn)定時間﹐此期間內(nèi)不要觸摸檢測點﹐此時所有功能都被禁止 - 自動校準(zhǔn)功能 剛上電的 8 秒內(nèi)約每 1 秒刷新一次參考值﹐若在上電后的 8 秒內(nèi)有觸摸按鍵或 8 秒后仍未觸摸 按鍵，則重新校準(zhǔn)周期切換為 4 秒 應(yīng)用范圍 - 各種消費性產(chǎn)品 - 取代按鈕按鍵 -------------------------------- 產(chǎn)品型號：VKD233DH 產(chǎn)品品牌：VINTEK/元泰 封裝形式：SOT23-6 產(chǎn)品年份：新年份 臺灣元泰原廠直銷，原裝現(xiàn)貨具有優(yōu)勢！工程服務(wù)，技術(shù)支持，讓您的生產(chǎn)高枕無憂。 單鍵按鍵觸摸檢測 IC 概述 VKD233DH 是單按鍵觸摸檢測芯片，此觸摸檢測芯片內(nèi)建穩(wěn)壓電路，提供穩(wěn)定的電壓給觸摸感應(yīng)電路使用，穩(wěn)定的觸摸檢測效果可以廣泛的滿足不同應(yīng)用的需求，此觸摸檢測芯片是專為取代傳統(tǒng)按鍵而設(shè)計，觸摸檢測PAD的大小可依不同的靈敏度設(shè)計在合理的范圍內(nèi)，低功耗與寬工作電壓，是此觸摸芯片在DC或AC應(yīng)用上的特性。 特點 - 工作電壓2.4～5.5V - 內(nèi)建穩(wěn)壓電路提供穩(wěn)定的電壓給觸摸檢電路使用 - 內(nèi)建低壓重置（LVR）功能 - 工作電流 ＠VDD＝3V，無負(fù)載 低功耗模式下典型值 2.5uA、更大值 5uA - 最長響應(yīng)時間大約為低功耗模式220ms ＠VDD＝3V - 可以由外部電容（1～50pF） 調(diào)整靈敏度 - 穩(wěn)定的人體觸摸檢測可取代傳統(tǒng)的按鍵開關(guān) - 提供低功耗模式 - 提供輸出模式選擇（TOG pin） 可選擇直接輸出或鎖存（toggle）輸出 - 提供最長輸出時間約 16秒（±50％） - Q pin 為 CMOS 輸出，可由（AHLB pin）選擇高電平輸出有效或低電平輸出有效 - 上電后約有0.5秒的穩(wěn)定時間，此期間內(nèi)不要觸摸檢測點，此時所有功能都被禁止 - 自動校準(zhǔn)功能 剛上電的8秒內(nèi)約每一秒刷新一次參考值，若在上電后的8秒內(nèi)有觸摸按鍵 或8秒后仍未觸摸按鍵，則重新校準(zhǔn)周期切換為4秒 - 此篇產(chǎn)品敘述為功能簡介，如需要完整產(chǎn)品PDF資料可以聯(lián)系許先生索取！ 應(yīng)用范圍 - 各種消費性產(chǎn)品 - 取代按鈕按鍵 ------------------------------ 產(chǎn)品型號：VKD233DB 產(chǎn)品品牌：VINTEK/元泰 封裝形式：SOT23-6 產(chǎn)品年份：新年份 臺灣元泰原廠直銷，原裝現(xiàn)貨具有優(yōu)勢！工程服務(wù)，技術(shù)支持，讓您的生產(chǎn)高枕無憂。 單按鍵觸摸檢測IC 概述 - VKD233DB 是單按鍵觸摸檢測芯片，此觸摸檢測芯片內(nèi)建穩(wěn)壓電路，提供穩(wěn)定的電壓給觸摸感應(yīng)電路使用，穩(wěn)定的觸摸檢測效果可以廣泛的滿足不同應(yīng)用的需求，此觸摸檢測芯片是專為取代傳統(tǒng)按鍵而設(shè)計，觸摸檢測PAD的大小可依不同的靈敏度設(shè)計在合理的范圍內(nèi)，低功耗與寬工作電壓，是此觸摸芯片在DC或AC應(yīng)用上的特性。 特性 - 工作電壓2.4～5.5V - 內(nèi)建穩(wěn)壓電路提供穩(wěn)定的電壓給觸摸檢電路使用 - 內(nèi)建低壓重置(LVR)功能 - 工作電流重置 ＠VDD＝3V，無負(fù)載 低功耗模式下典型值 2.5uA、更大值 5uA - 最長響應(yīng)時間大約為低功耗模式220ms ＠VDD＝3V - 可以由外部電容（1～50pF）調(diào)整靈敏度 - 穩(wěn)定的人體觸摸檢測可取代傳統(tǒng)的按鍵開關(guān) - 提供低功耗模式 - 提供輸出模式選擇（TOG pin） 可選擇直接輸出或鎖存（toggle） - Q pin為CMOS輸出，可由（AHLB pin）選擇高電平輸出有效或低電平輸出有效 - 上電后因有0.5秒的穩(wěn)定時間，此 期間內(nèi)不要觸摸檢測點，此時所有功能都被禁止 - 自動校準(zhǔn)功能 剛上電的8秒內(nèi)約每一秒刷新一次參考值 ，若在上電后的8秒內(nèi)有 觸摸 按鍵或8秒 后 仍未觸摸按鍵，則重新校準(zhǔn)周期切換為4秒 - 此篇產(chǎn)品敘述為功能簡介，如需要完整產(chǎn)品PDF資料可以聯(lián)系許先生索取！ 應(yīng)用范圍 - 各種消費性產(chǎn)品 - 取代按鈕按鍵 我們的優(yōu)勢 1：我司為VINTEK/臺灣元泰半導(dǎo)體股份有限公司/VINKA的授權(quán)大中華區(qū)代理商，產(chǎn)品渠道正宗，確保原裝，大量庫存現(xiàn)貨！ 2：公司工程力量雄厚，真誠技術(shù)服務(wù)支持，搭配原廠服務(wù)各種應(yīng)用產(chǎn)品客戶。 3：好價格源自連接原廠直銷，你有量，我有價，確保原裝的好價格。 VK原廠代理：許先生 QQ：191 888 5898 TEL：188 9858 2398 優(yōu)勢代理元泰VKD常用觸控按鍵IC，簡介如下： 標(biāo)準(zhǔn)觸控IC-電池供電系列 VKD223EB --- 工作電壓/電流：2.0V-5.5V/5uA-3V 感應(yīng)通道數(shù)：1 通訊接口 更長響應(yīng)時間快速模式60mS，低功耗模式220ms 封裝：SOT23-6 VKD223B --- 工作電壓/電流：2.0V-5.5V/5uA-3V 感應(yīng)通道數(shù)：1 通訊接口 更長響應(yīng)時間快速模式60mS，低功耗模式220ms 封裝：SOT23-6 VKD232C --- 工作電壓/電流： 2.4V-5.5V/2.5uA-3V 感應(yīng)通道數(shù)：2封裝：SOT23-6 通訊接口：直接輸出，低電平有效 固定為多鍵輸出模式，內(nèi)建穩(wěn)壓電路 VKD233DH（更小體積2*2）---工作電壓/電流： 2.4V-5.5V/2.5uA-3V 1按鍵 封裝：DFN6L 通訊接口：直接輸出，鎖存(toggle)輸出 有效鍵更長時間檢測16S VKD233DB(推薦) --- 工作電壓/電流： 2.4V-5.5V/2.5uA-3V 1感應(yīng)按鍵 封裝：SOT23-6 通訊接口：直接輸出，鎖存(toggle)輸出 低功耗模式電流2.5uA-3V VKD233DH（推薦）---工作電壓/電流： 2.4V-5.5V/2.5uA-3V 1感應(yīng)按鍵 封裝：SOT23-6 通訊接口：直接輸出，鎖存(toggle)輸出 有效鍵更長時間檢測16S 標(biāo)準(zhǔn)觸控IC-多鍵觸摸按鈕系列 VKD104SB/N --- 工作電壓/電流：2.4V-5.5V/13uA-3V 感應(yīng)通道數(shù)/按鍵數(shù)：4 通訊接口：直接輸出,鎖存輸出,開漏輸出 封裝：SSOP-16 VKD104BC --- 工作電壓/電流：2.4V-5.5V/13uA-3V 感應(yīng)通道數(shù)/按鍵數(shù)：4 通訊接口：直接輸出,鎖存輸出,開漏輸出 封裝：SOP-16 VKD104BR --- 工作電壓/電流：2.4V-5.5V/13uA-3V 感應(yīng)通道數(shù)/按鍵數(shù)：2 通訊接口：直接輸出, toggle輸出 封裝：SOP-8 VKD104QB --- 工作電壓/電流：2.4V-5.5V/13uA-3V 感應(yīng)通道數(shù)/按鍵數(shù)：4 通訊接口：直接輸出,鎖存輸出,開漏輸出 封裝：QFN-16 VKD1016B --- 工作電壓/電流：2.4V-5.5V/20uA-3V 感應(yīng)通道數(shù)/按鍵數(shù)：16-8 通訊接口：直接輸出,鎖存輸出,開漏輸出 封裝：SSOP-28 VKD1016L --- 工作電壓/電流：2.4V-5.5V/20uA-3V 感應(yīng)通道數(shù)：16-8 通訊接口：直接輸出,鎖存輸出,開漏輸出 封裝：SSOP-28 (元泰原廠授權(quán) 原裝保障 工程技術(shù)支持 大量現(xiàn)貨庫存) 標(biāo)準(zhǔn)觸控IC-VK36系列 VK3601SS --- 工作電壓/電流：2.4V-5.5V/1mA-5.0V 感應(yīng)通道數(shù)：1 通訊接口：1 INPUT/1PWM OUT 封裝：SOP-8 VK3601S --- 工作電壓/電流：2.4V-5.5V/4mA-3.3V 感應(yīng)通道數(shù)：1 通訊接口：1 INPUT/1PWM OUT 封裝：SOP-8 VK3602XS --- 工作電壓/電流：2.4V-5.5V/ 60uA-3V 感應(yīng)通道數(shù)：2 通訊接口：2對2 toggle輸出 封裝：SOP-8 VK3602K --- 工作電壓/電流：2.4V-5.5V/ 60uA-3V 感應(yīng)通道數(shù)：2 通訊接口：2對2 toggle輸出 封裝：SOP-8 VK3606DM --- 工作電壓/電流：3.1V-5.5V/ 3mA-5V 感應(yīng)通道數(shù)：6 通訊接口：1對1直接輸出 封裝：SOP-16 VK3606OM --- 工作電壓/電流：3.1V-5.5V/ 3mA-5V 感應(yīng)通道數(shù)：6 通訊接口：1對1開漏輸出 封裝：SOP-16 VK3608BM --- 工作電壓/電流：3.1V-5.5V/ 3mA-5V 感應(yīng)通道數(shù)：6 通訊接口：BCD碼直接輸出 封裝：SOP-16 VK3610IM --- 工作電壓/電流：3.1V-5.5V/ 3mA-5V 感應(yīng)通道數(shù)：6 通訊接口：SCL/SDA/INT通訊口 封裝：SOP-16 標(biāo)準(zhǔn)觸控IC-VK37系列 VK3702DM --- 工作電壓/電流：3.1V-5.5V/ 3mA-5V 感應(yīng)通道數(shù)：2 通訊接口：1對1直接輸出 封裝：SOP-8 VK3702OM --- 工作電壓/電流：3.1V-5.5V/ 3mA-5V 感應(yīng)通道數(shù)：2 通訊接口：1對1開漏輸出 封裝：SOP-8 VK3702TM --- 工作電壓/電流：3.1V-5.5V/ 3mA-5V 感應(yīng)通道數(shù)：2 通訊接口：1對1toggle輸出 封裝：SOP-8 VK3706DM --- 工作電壓/電流：3.1V-5.5V/ 3mA-5V 感應(yīng)通道數(shù)：6 通訊接口：1對1直接輸出 封裝：SOP-16 VK3706OM --- 工作電壓/電流：3.1V-5.5V/ 3mA-5V 感應(yīng)通道數(shù)：6 通訊接口：1對1開漏輸出 封裝：SOP-16 VK3708BM --- 工作電壓/電流：3.1V-5.5V/ 3mA-5V 感應(yīng)通道數(shù)：8 通訊接口：BCD碼直接輸出 封裝：SOP-16 VK3710IM --- 工作電壓/電流：3.1V-5.5V/ 3mA-5V 感應(yīng)通道數(shù)：10 通訊接口：SCL/SDA/INT通訊口 封裝：SOP-16 標(biāo)準(zhǔn)觸控IC-VK38系列 VK3809IP --- 工作電壓/電流：2.5V-5.5V/1.1mA-3V 感應(yīng)通道數(shù)：9 通訊接口：IIC/INT通訊口 封裝：SSOP-16 VK3813IP --- 工作電壓/電流：2.5V-5.5V/1.1mA-3V 感應(yīng)通道數(shù)：13 通訊接口：IIC/INT通訊口 封裝：SSOP-20 VK3816IP --- 工作電壓/電流：2.5V-5.5V/1.1mA-3V 感應(yīng)通道數(shù)：16 通訊接口：IIC/INT通訊口 封裝：SSOP-28 VK3816IP-A --- 工作電壓/電流：2.5V-5.5V/1.1mA-3V 感應(yīng)通道數(shù)：16 通訊接口：IIC/INT通訊口 封裝：SSOP-28 以上介紹內(nèi)容為IC參數(shù)簡介，難免有錯漏，且相關(guān)IC型號眾多，未能一一收錄。歡迎聯(lián)系索取完整資料及樣品！ 生意無論大小，做人首重誠信！本公司全體員工將既往開來，再接再厲。爭取為各位帶來更專業(yè)的技術(shù)支持，更優(yōu)質(zhì)的銷售服務(wù)，更高性價比的好產(chǎn)品.竭誠希望能與各位客戶朋友深入溝通，攜手共進，共同成長，合作共贏！謝謝。 聯(lián) 系 人：許先生 聯(lián) 系 QQ：191 888 5898 聯(lián)系手機：188 9858 2398
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資源包含以下內(nèi)容：1.GBT2423.07-1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分 試驗方法試驗ec和導(dǎo)則傾跌與翻倒(主要用于設(shè)備型樣品).pdf2.GBT2423.08-1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分 試驗方法試驗ed自由跌落.pdf3.GBT2423.09-2001 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分 試驗方法試驗cb設(shè)備用恒定濕熱.pdf4.GBT2423.10-1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分 試驗方法試驗fc和導(dǎo)則振動(正弦).pdf5.GBT2423.11-1997 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分 試驗方法試驗fd寬頻帶隨機振動--一般要求 .pdf6.GBT2423.12-1997 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分 試驗方法試驗fda寬頻帶隨機振動--高再現(xiàn)性.pdf7.GBT2423.13-1997 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分 試驗方法試驗fdb寬頻帶隨機振動中再現(xiàn)性.pdf8.GBT2423.14-1997 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分 試驗方法試驗fdc寬頻帶隨機振動低再現(xiàn)性.pdf9.GBT2423.15-1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分 試驗方法試驗ga和導(dǎo)則穩(wěn)態(tài)加速度.pdf10.GBT2423.16-1999 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分 試驗方法試驗j和導(dǎo)則長霉.pdf11.GBT2423.17-1993 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗ka 鹽霧試驗方法.pdf12.GBT2423.18-2000 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第二部分 試驗--試驗kb 鹽霧,交變(氯化鈉溶液).pdf13.GBT2423.19-1981 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗kc 接觸點和連接件的二氧化硫試驗方法.pdf14.GBT2423.20-1981 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗kd 接觸點和連接件的硫化氫試驗方法.pdf15.GBT2423.21-1991 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗m 低氣壓試驗方法.pdf16.GBT2423.22-2002 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分試驗方法試驗n 溫度變化.pdf17.GBT2423.23-1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗試驗q 密封.pdf18.GBT2423.24-1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第二部分 試驗方法試驗sa 模擬地面上的太陽輻射.pdf19.GBT2423.25-1992 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗zam 低溫低氣壓綜合試驗.pdf20.GBT2423.26-1992 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗zbm 高溫低氣壓綜合試驗.pdf21.GBT2423.27-1981 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗zamd 低溫低氣壓濕熱連續(xù)綜合試驗方法.pdf22.GBT2423.28-1982 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗t 錫焊試驗方法.pdf23.GBT2423.29-1999 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分試驗方法試驗u 引出端及整體安裝件強度.pdf24.GBT2423.30-1999 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分試驗方法試驗xa 和導(dǎo)則在清洗劑中浸漬.pdf25.GBT2423.31-1985 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程傾斜和搖擺試驗方法.pdf26.GBT2423.32-1985 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程潤濕稱量法可焊性試驗方法.pdf27.GBT2423.33-1989 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗kca 高濃度二氧化硫試驗方法.pdf28.GBT2423.34-1986 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗zad 溫度濕度組合循環(huán)試驗方法.pdf29.GBT2423.35-1986 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗zafc 散熱和非散熱試驗樣品的低溫振動(正弦)綜合試驗方法.pdf30.GBT2423.36-1986 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗zbfc 散熱和非散熱樣品的高溫振動(正弦)綜合試驗方法.pdf31.GBT2423.37-1989 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗l砂塵試驗方法.pdf32.GBT2423.38-1990 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗r 水試驗方法.pdf33.GBT2423.39-1990 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗ee 彈跳試驗方法.pdf34.GBT2423.40-1997 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分試驗方法試驗cx 未飽和高壓蒸汽恒定濕熱.pdf35.GBT2423.41-1994 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程風(fēng)壓試驗方法.pdf36.GBT2423.42-1995 工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗低溫低氣壓振動(正弦)綜合試驗方法.pdf37.GBT2423.43-1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第二部分 試驗方法元件、設(shè)備和其他產(chǎn)品在沖擊,碰撞,振動,和穩(wěn)態(tài)加速度,等動力學(xué)試驗中的安裝要求和導(dǎo)則.pdf38.GBT2423.44-1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第二部分 試驗方法試驗eg 撞擊彈簧錘.pdf39.GBT2423.45-1997 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗zabdm：氣候順序.pdf40.GBT2423.46-1997 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗ef：撞擊擺錘.pdf41.GBT2423.47-1997 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分 試驗方法試驗fg 聲振.pdf42.GBT2423.48-1997 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分 試驗方法試驗ff 振動--時間歷程法.pdf43.GBT2423.49-1997 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分 試驗方法試驗fe 振動--正弦拍頻法.pdf44.GBT2423.50-1999 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分 試驗方法試驗cy 恒定濕熱主要用于元件的加速試驗.pdf45.GBT2423.51-2000 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分 試驗方法試驗ke 流動混合氣體腐蝕試驗.pdf46.電子產(chǎn)品老化相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)資料
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GBT2423.51-2000 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分 試驗方法試驗ke 流動混合氣體腐蝕試驗.pdf 535KB2019-03-29 13:34 GBT2423.50-1999 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分 試驗方法試驗cy 恒定濕熱主要用于元件的加速試驗.pdf 319KB2019-03-29 13:34 GBT2423.49-1997 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分 試驗方法試驗fe 振動--正弦拍頻法.pdf 832KB2019-03-29 13:34 GBT2423.48-1997 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分 試驗方法試驗ff 振動--時間歷程法.pdf 708KB2019-03-29 13:34 GBT2423.47-1997 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分 試驗方法試驗fg 聲振.pdf 773KB2019-03-29 13:34 GBT2423.46-1997 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗ef：撞擊擺錘.pdf 423KB2019-03-29 13:34 GBT2423.45-1997 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗zabdm：氣候順序.pdf 418KB2019-03-29 13:34 GBT2423.44-1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第二部分 試驗方法試驗eg 撞擊彈簧錘.pdf 356KB2019-03-29 13:34 GBT2423.43-1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第二部分 試驗方法元件、設(shè)備和其他產(chǎn)品在沖擊,碰撞,振動,和穩(wěn)態(tài)加速度,等動力學(xué)試驗中的安裝要求和導(dǎo)則.pdf 496KB2019-03-29 13:34 GBT2423.42-1995 工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗低溫低氣壓振動(正弦)綜合試驗方法.pdf 246KB2019-03-29 13:34 GBT2423.41-1994 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程風(fēng)壓試驗方法.pdf 213KB2019-03-29 13:34 GBT2423.40-1997 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分試驗方法試驗cx 未飽和高壓蒸汽恒定濕熱.pdf 532KB2019-03-29 13:34 GBT2423.39-1990 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗ee 彈跳試驗方法.pdf 331KB2019-03-29 13:34 GBT2423.38-1990 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗r 水試驗方法.pdf 357KB2019-03-29 13:34 GBT2423.37-1989 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗l砂塵試驗方法.pdf 236KB2019-03-29 13:34 GBT2423.36-1986 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗zbfc 散熱和非散熱樣品的高溫振動(正弦)綜合試驗方法.pdf 273KB2019-03-29 13:34 GBT2423.35-1986 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗zafc 散熱和非散熱試驗樣品的低溫振動(正弦)綜合試驗方法.pdf 270KB2019-03-29 13:34 GBT2423.34-1986 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗zad 溫度濕度組合循環(huán)試驗方法.pdf 290KB2019-03-29 13:34 GBT2423.33-1989 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗kca 高濃度二氧化硫試驗方法.pdf 146KB2019-03-29 13:34 GBT2423.32-1985 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程潤濕稱量法可焊性試驗方法.pdf 172KB2019-03-29 13:34 GBT2423.31-1985 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程傾斜和搖擺試驗方法.pdf 143KB2019-03-29 13:34 GBT2423.30-1999 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分試驗方法試驗xa 和導(dǎo)則在清洗劑中浸漬.pdf 104KB2019-03-29 13:34 GBT2423.29-1999 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分試驗方法試驗u 引出端及整體安裝件強度.pdf 421KB2019-03-29 13:34 GBT2423.28-1982 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗t 錫焊試驗方法.pdf 697KB2019-03-29 13:34 GBT2423.27-1981 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗zamd 低溫低氣壓濕熱連續(xù)綜合試驗方法.pdf 128KB2019-03-29 13:34 GBT2423.26-1992 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗zbm 高溫低氣壓綜合試驗.pdf 211KB2019-03-29 13:34 GBT2423.25-1992 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗zam 低溫低氣壓綜合試驗.pdf 202KB2019-03-29 13:34 GBT2423.24-1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第二部分 試驗方法試驗sa 模擬地面上的太陽輻射.pdf 176KB2019-03-29 13:34 GBT2423.23-1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗試驗q 密封.pdf 1.2M2019-03-29 13:34 GBT2423.22-2002 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分試驗方法試驗n 溫度變化.pdf 302KB2019-03-29 13:34 GBT2423.21-1991 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗m 低氣壓試驗方法.pdf 107KB2019-03-29 13:34 GBT2423.20-1981 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗kd 接觸點和連接件的硫化氫試驗方法.pdf 140KB2019-03-29 13:34 GBT2423.19-1981 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗kc 接觸點和連接件的二氧化硫試驗方法.pdf 145KB2019-03-29 13:34 GBT2423.18-2000 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第二部分 試驗--試驗kb 鹽霧,交變(氯化鈉溶液).pdf 163KB2019-03-29 13:34 GBT2423.17-1993 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗ka 鹽霧試驗方法.pdf 105KB2019-03-29 13:34 GBT2423.16-1999 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分 試驗方法試驗j和導(dǎo)則長霉.pdf 531KB2019-03-29 13:34 GBT2423.15-1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分 試驗方法試驗ga和導(dǎo)則穩(wěn)態(tài)加速度.pdf 297KB2019-03-29 13:34 GBT2423.14-1997 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分 試驗方法試驗fdc寬頻帶隨機振動低再現(xiàn)性.pdf 444KB2019-03-29 13:34 GBT2423.13-1997 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分 試驗方法試驗fdb寬頻帶隨機振動中再現(xiàn)性.pdf 805KB2019-03-29 13:34 GBT2423.12-1997 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分 試驗方法試驗fda寬頻帶隨機振動--高再現(xiàn)性.pdf 842KB2019-03-29 13:34 GBT2423.11-1997 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分 試驗方法試驗fd寬頻帶隨機振動--一般要求 .pdf 635KB2019-03-29 13:34 GBT2423.10-1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分 試驗方法試驗fc和導(dǎo)則振動(正弦).pdf 1M2019-03-29 13:34 GBT2423.09-2001 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分 試驗方法試驗cb設(shè)備用恒定濕熱.pdf 149KB2019-03-29 13:34 GBT2423.08-1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分 試驗方法試驗ed自由跌落.pdf 301KB2019-03-29 13:34 GBT2423.07-1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分 試驗方法試驗ec和導(dǎo)則傾跌與翻倒(主要用于設(shè)備型樣品).pdf 237KB2019-03-29 13:34 GBT2423.06-1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分 試驗方法試驗eb和導(dǎo)則：碰撞.pdf 545KB2019-03-29 13:34 GBT2423.05-1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗ea和導(dǎo)則沖擊.pdf 892KB2019-03-29 13:34 GBT2423.04-1993 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗db 交變濕熱試驗方法.pdf 192KB2019-03-29 13:34 GBT2423.03-1993 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗ca 恒定濕熱試驗方法.pdf 124KB2019-03-29 13:34 GBT2423.02-2001 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分 試驗方法試驗b高溫.pdf 744KB2019-03-29 13:34 GBT2423.01-2001 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分 試驗方法試驗a低溫.pdf 499KB2019-03-29 13:34 GB2421-89 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程總則.pdf
上傳時間： 2013-06-08
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隨著國內(nèi)交流伺服電機等硬件技術(shù)逐步成熟，高運算能力的控制芯片與電機控制技術(shù)相結(jié)合，具有高效、節(jié)能和可移植性好等特點，這樣使得交流伺服系統(tǒng)成為現(xiàn)代電機伺服驅(qū)動系統(tǒng)的一個發(fā)展趨勢。 本文主要是基于MCU研究和設(shè)計了交流永磁電機位置伺服控制系統(tǒng)。針對三相永磁同步電機的物理方程，通過坐標(biāo)轉(zhuǎn)換，在d-q旋轉(zhuǎn)坐標(biāo)系下建立轉(zhuǎn)矩方程，采用Id=0的矢量控制策略，建立一套完整的全數(shù)字交流位置伺服控制系統(tǒng)。 硬件方面，采用的是瑞薩公司專用電機控制Tiny系列芯片M30262F8作為控制芯片，并由三菱公司的第三代IPM模塊PS21564實現(xiàn)功率驅(qū)動，簡化了系統(tǒng)電路，縮小了系統(tǒng)的體積，提高了系統(tǒng)的可靠性。由交流電流傳感器檢測三相定子繞組電流；由增量式磁性編碼器檢測永磁轉(zhuǎn)子位置，并設(shè)計一種比較快速的轉(zhuǎn)子初始檢測方法。 軟件方面，采用結(jié)構(gòu)化語言C和單片機M16C匯編語言混編，實現(xiàn)了單片機初始化、三環(huán)控制、電流跟隨型PWM控制，提高編寫代碼的效率，同時保證系統(tǒng)的實時控制性能；由軟件方式實現(xiàn)經(jīng)典PID控制和簡單模糊控制相結(jié)合構(gòu)成“串聯(lián)校正”閉環(huán)控制系統(tǒng)，提高了系統(tǒng)的快速性和抗干擾能力。此外，本文對控制策略進行了研究，闡述了模糊PID控制策略；還介紹了SPWM、SVPWM和跟隨型PWM調(diào)制。 實驗結(jié)果表明，本文所設(shè)計的伺服控制系統(tǒng)能實現(xiàn)電機的啟動，調(diào)速和定位等，并能達到系統(tǒng)的性能指標(biāo)。
標(biāo)簽： 位置伺服 控制系統(tǒng)
上傳時間： 2013-05-19
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隨著數(shù)字時代的到來，信息化程度的不斷提高，人們相互之間的信息和數(shù)據(jù)交換日益增加。正交幅度調(diào)制器(QAM Modulator)作為一種高頻譜利用率的數(shù)字調(diào)制方式，在數(shù)字電視廣播、固定寬帶無線接入、衛(wèi)星通信、數(shù)字微波傳輸?shù)葘拵ㄐ蓬I(lǐng)域得到了廣泛應(yīng)用。 近年來，集成電路和數(shù)字通信技術(shù)飛速發(fā)展，F(xiàn)PGA作為集成度高、使用方便、代碼可移植性等優(yōu)點的通用邏輯開發(fā)芯片，在電子設(shè)計行業(yè)深受歡迎，市場占有率不斷攀升。本文研究基于FPGA與AD9857實現(xiàn)四路QAM調(diào)制的全過程。FPGA實現(xiàn)信源處理、信道編碼輸出四路基帶I/Q信號，AD9857實現(xiàn)對四路I/Q信號的調(diào)制，輸出中頻信號。本文具體內(nèi)容總結(jié)如下: 1.介紹國內(nèi)數(shù)字電視發(fā)展?fàn)顩r、國內(nèi)國際的數(shù)字電視標(biāo)準(zhǔn)，并詳細(xì)介紹國內(nèi)有線電視的系統(tǒng)組成及QAM調(diào)制器的發(fā)展過程。 2.研究了QAM調(diào)制原理，其中包括信源編碼、TS流標(biāo)準(zhǔn)格式轉(zhuǎn)換、信道編碼的原理及AD9857的工作原理等。并著重研究了信道編碼過程，包括能量擴散、RS編碼、數(shù)據(jù)交織、星座映射與差分編碼等。 3.深入研究了基于FPAG與AD9857電路設(shè)計，其中包括詳細(xì)研究了FPGA與AD9857的電路設(shè)計、在allegro下的PCB設(shè)計及光繪文件的制作，并做成成品。 4.簡單介紹了FPGA的開發(fā)流程。 5.深入研究了基于FPAG代碼開發(fā)，其中主要包括I2C接口實現(xiàn)，ASI到SPI的轉(zhuǎn)換，信道編碼中的TS流包處理、能量擴散、RS編碼、數(shù)據(jù)交織、星座映射與差分編碼的實現(xiàn)及AD9857的FPGA控制使其實現(xiàn)四路QAM的調(diào)制。 6.介紹代碼測試、電路測試及系統(tǒng)指標(biāo)測試。 最終系統(tǒng)指標(biāo)測試表明基于FPGA與AD9857的四路DVB-C調(diào)制器基本達到了國標(biāo)的要求。
上傳時間： 2013-04-24
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采用現(xiàn)場可編程門陣列(FPGA)可以快速實現(xiàn)數(shù)字電路，但是用于生成FPGA編程的比特流文件的CAD工具在編制大規(guī)模電路時常常需要數(shù)小時的時間，以至于許多設(shè)計者甚至通過在給定FPGA上采用更多的資源，或者以犧牲電路速度為代價來提高編制速度。電路編制過程中大部分時間花費在布線階段，因此有效的布線算法能極大地減少布線時間。 許多布線算法已經(jīng)被開發(fā)并獲得應(yīng)用，其中布爾可滿足性(SAT)布線算法及幾何查找布線算法是當(dāng)前最為流行的兩種。然而它們各有缺點：基于SAT的布線算法在可擴展性上有很大缺陷；幾何查找布線算法雖然具有廣泛的拆線重布線能力，但當(dāng)實際問題具有嚴(yán)格的布線約束條件時，它在布線方案的收斂方面存在很大困難。基于此，本文致力于探索一種能有效解決以上問題的新型算法，具體研究工作和結(jié)果可歸納如下。 1、在全面調(diào)查FPGA結(jié)構(gòu)的最新研究動態(tài)的基礎(chǔ)上，確定了一種FPGA布線結(jié)構(gòu)模型，即一個基于SRAM的對稱陣列(島狀)FPGA結(jié)構(gòu)作為研究對象，該模型僅需3個適合的參數(shù)即能表示布線結(jié)構(gòu)。為使所有布線算法可在相同平臺上運行，選擇了美國北卡羅來納州微電子中心的20個大規(guī)模電路作為基準(zhǔn)，并在布線前采用VPR399對每個電路都生成30個布局，從而使所有的布線算法都能夠直接在這些預(yù)制電路上運行。 2、詳細(xì)研究了四種幾何查找布線算法，即一種基本迷宮布線算法Lee，一種基于協(xié)商的性能驅(qū)動的布線算法PathFinder，一種快速的時延驅(qū)動的布線算法VPR430和一種協(xié)商A
上傳時間： 2013-05-18
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隨著數(shù)字時代的到來，信息化程度的不斷提高，人們相互之間的信息和數(shù)據(jù)交換日益增加。正交幅度調(diào)制器(QAM Modulator)作為一種高頻譜利用率的數(shù)字調(diào)制方式，在數(shù)字電視廣播、固定寬帶無線接入、衛(wèi)星通信、數(shù)字微波傳輸?shù)葘拵ㄐ蓬I(lǐng)域得到了廣泛應(yīng)用。 近年來，集成電路和數(shù)字通信技術(shù)飛速發(fā)展，F(xiàn)PGA作為集成度高、使用方便、代碼可移植性等優(yōu)點的通用邏輯開發(fā)芯片，在電子設(shè)計行業(yè)深受歡迎，市場占有率不斷攀升。本文研究基于FPGA與AD9857實現(xiàn)四路QAM調(diào)制的全過程。FPGA實現(xiàn)信源處理、信道編碼輸出四路基帶I/Q信號，AD9857實現(xiàn)對四路I/Q信號的調(diào)制，輸出中頻信號。本文具體內(nèi)容總結(jié)如下: 1.介紹國內(nèi)數(shù)字電視發(fā)展?fàn)顩r、國內(nèi)國際的數(shù)字電視標(biāo)準(zhǔn)，并詳細(xì)介紹國內(nèi)有線電視的系統(tǒng)組成及QAM調(diào)制器的發(fā)展過程。 2.研究了QAM調(diào)制原理，其中包括信源編碼、TS流標(biāo)準(zhǔn)格式轉(zhuǎn)換、信道編碼的原理及AD9857的工作原理等。并著重研究了信道編碼過程，包括能量擴散、RS編碼、數(shù)據(jù)交織、星座映射與差分編碼等。 3.深入研究了基于FPAG與AD9857電路設(shè)計，其中包括詳細(xì)研究了FPGA與AD9857的電路設(shè)計、在allegro下的PCB設(shè)計及光繪文件的制作，并做成成品。 4.簡單介紹了FPGA的開發(fā)流程。 5.深入研究了基于FPAG代碼開發(fā)，其中主要包括I2C接口實現(xiàn)，ASI到SPI的轉(zhuǎn)換，信道編碼中的TS流包處理、能量擴散、RS編碼、數(shù)據(jù)交織、星座映射與差分編碼的實現(xiàn)及AD9857的FPGA控制使其實現(xiàn)四路QAM的調(diào)制。 6.介紹代碼測試、電路測試及系統(tǒng)指標(biāo)測試。 最終系統(tǒng)指標(biāo)測試表明基于FPGA與AD9857的四路DVB-C調(diào)制器基本達到了國標(biāo)的要求。
上傳時間： 2013-07-05
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摘要：設(shè)計并實現(xiàn)了一個USB/EPP 轉(zhuǎn)接系統(tǒng)，給出其硬件設(shè)計方案并討論了相關(guān)技術(shù)細(xì)節(jié)， 使其實現(xiàn)USB 接口到EPP接口的相互數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)發(fā)。使僅具有EPP 接口的傳統(tǒng)儀器設(shè)備借助于USB/EPP 轉(zhuǎn)接系統(tǒng)擁有USB 總線所提供的即插即用和設(shè)備插架特性， 方便其通過USB 接口靈活接入同時擁有多個外設(shè)的計算機主機系統(tǒng)。關(guān)鍵詞：USB；EPP；轉(zhuǎn)接系統(tǒng)中圖分類號：TP368.3 文獻標(biāo)識碼：A文章編號:1008- 0570(2005)11- 2- 0166- 03 在傳統(tǒng)的I/O 模式中，計算機外設(shè)通常映射為CPU 中固定I/O 地址，要求由主機分配一個指定的IRQ 中斷請求。由于PC 機的端口和中斷資源有限，因而使外設(shè)的可擴展性受到局限；同時，隨著電腦應(yīng)用的拓展，PC 機的外設(shè)接口越來越多，外設(shè)對系統(tǒng)資源的獨占性也容易導(dǎo)致系統(tǒng)資源沖突。由于各種外部設(shè)備不斷增加，容易導(dǎo)致各種I/O 沖突。由Intel、Compaq、Microsoft、IBM等廠商所提出的USB 總線標(biāo)準(zhǔn)，基于即插即用和設(shè)備插架技術(shù)，設(shè)備接入時不影響應(yīng)用程序的運行，具有良好的可擴充性和擴展的方便性。目前USB 協(xié)議已經(jīng)發(fā)展到了最新的2.0 版本，可支持峰值傳輸速率為480Mbps 的高速外設(shè)，可提供4～8 個USB 2.0 接口，同時通過USB 集線器（HUB）的擴展還可以支持多達127 個外設(shè)同時連接，基本上解決了各種外設(shè)同時存在同時使用的所有問題。基于USB 接口的上述優(yōu)點，目前的計算機，特別是筆記本計算機基本上都只配備USB 接口，而取消了傳統(tǒng)的串口和并口，這對那些以前購置的需要與計算機進行通信而只有串口或并口的各種儀器的繼續(xù)使用造成了極大的障礙。 針對傳統(tǒng)的數(shù)字化儀器與計算機通信中存在的接口不足的問題，本文設(shè)計了一個USB/EPP 轉(zhuǎn)接系統(tǒng)，使其能夠從計算機的USB 接口接收數(shù)據(jù)，經(jīng)過格式轉(zhuǎn)換，從USB/EPP 轉(zhuǎn)接系統(tǒng)的并行接口EPP 發(fā)送給傳統(tǒng)的儀器設(shè)備；同時也能夠從USB/EPP 轉(zhuǎn)接系統(tǒng)的并行接口EPP 接收數(shù)據(jù)，將其轉(zhuǎn)化為USB 幀格式，并發(fā)送到計算機的USB 接口。從而使僅具有EPP 接口的傳統(tǒng)儀器設(shè)備借助于USB/EPP 轉(zhuǎn)接系統(tǒng)，可以繼續(xù)正常使用。2 USB 總線2.1 USB 系統(tǒng)描述及總線協(xié)議USB 是一種電纜總線，支持在主機和各種即插即用外設(shè)之間進行數(shù)據(jù)傳輸。由主機預(yù)定的標(biāo)準(zhǔn)協(xié)議使各種設(shè)備分享USB 帶寬，當(dāng)其它設(shè)備和主機在運行時，總線允許添加、設(shè)置、使用以及拆除外設(shè)，這為多個儀器設(shè)備共享同一個主計算機提供了可能。USB 協(xié)議采用了管道模型的軟硬件協(xié)議，摒棄了一般外設(shè)協(xié)議的端口映射方式，從而有效地避免了計算機應(yīng)用系統(tǒng)I/O 端口地址沖突。根據(jù)功能劃分，一個USB 系統(tǒng)由三個部分組成：即USB 互連、USB 主機和USB 設(shè)備。圖1 給出了USB系統(tǒng)的通用拓?fù)浣Y(jié)構(gòu)。
上傳時間： 2013-10-09
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練習(xí)程序，問題如下：進行高精度整數(shù)的加、減、乘運算。輸入兩個十進制大整數(shù)M和N（M、N最長可達50位），計算運算結(jié)果并輸出。【輸入形式】標(biāo)準(zhǔn)輸入上依次分行輸入以下內(nèi)容：1.第一行輸入第一個大整數(shù)M。M可能帶有負(fù)號，后面是最長可達50位的數(shù)字序列。2.第二行只有一個字符，可以是“+”、“-”、“*”，分別代表加、減、乘三種運算符。3. 第三行輸入大整數(shù)N，格式與M相同M、N均不帶有前綴的多余的0【輸出形式】在標(biāo)準(zhǔn)輸出上打印運算結(jié)果，輸出一行字符序列，是大整數(shù)M和N和運算結(jié)果。如果該運算結(jié)果是正數(shù)，則直接輸出各位數(shù)字序列；如果是負(fù)數(shù)，則首先要輸出負(fù)號。各位數(shù)字緊密輸出，不帶有前綴的多余的0。
標(biāo)簽： 程序
上傳時間： 2015-03-07
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