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usb control test by java ,very userfu
標簽： control userfu test java
上傳時間： 2016-06-04
上傳用戶：zjf3110
this a test hello how are you
標簽： hello this test are
上傳時間： 2016-06-05
上傳用戶：xfbs821
This article descrice how to use unnecessary I／O in the 51MCU to test the temperature, circuit is simple.
標簽： temperature unnecessary the descrice
上傳時間： 2016-06-11
上傳用戶：13517191407
linux unix test dd linux unix test
標簽： linux unix test dd
上傳時間： 2014-01-21
上傳用戶：cxl274287265
S3C2410 FIQ, Priority Interrupt Test
標簽： Interrupt Priority S3C2410 Test
上傳時間： 2016-06-15
上傳用戶：myworkpost
External interrupt test
標簽： interrupt External test
上傳時間： 2013-12-03
上傳用戶：luopoguixiong
S3C2410 Test Main Menu
標簽： S3C2410 Main Menu Test
上傳用戶：jennyzai
Design and test a category called Rectangle rectangular, rectangular attribute to the lower left corner of the upper-right corner and the coordinates of two points, to calculate the size of rectangular
標簽： rectangular Rectangle attribute category
上傳時間： 2013-12-09
上傳用戶：sssl
這篇文章主要介紹ARM JTAG調試的基本原理。基本的內容包括了TAP (TEST ACCESS PORT) 和BOUNDARY-SCAN ARCHITECTURE的介紹，在此基礎上，結合ARM7TDMI詳細介紹了的JTAG調試原理。 這篇文章主要是總結了前段時間的一些心得體會，希望對想了解ARM JTAG調試的網友們有所幫助。我個人對ARM JTAG的理解還不是很透徹，在文章中，難免會有偏失和不準確的地方，希望精通JTAG調試原理的大俠們不要拍磚，有什么問題提出來，我一定盡力糾正。同時也歡迎對ARM JTAG調試感興趣的朋友們一起交流學習。
標簽： BOUNDARY-SCAN ARCHITECTURE ACCESS JTAG
上傳時間： 2016-06-22
上傳用戶：kikye
lcc source code enjoy your self
標簽： source enjoy code self
上傳時間： 2014-01-14
上傳用戶：hphh
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