this unit test code
標(biāo)簽： this test code unit
上傳時(shí)間： 2014-01-31
上傳用戶：498732662
QQ2440 linux development examples ,it is test well,good luck for you use it.
標(biāo)簽： development examples linux 2440
上傳時(shí)間： 2013-11-30
上傳用戶：lunshaomo
這篇文章主要介紹ARM JTAG調(diào)試的基本原理。基本的內(nèi)容包括了TAP (TEST ACCESS PORT) 和BOUNDARY-SCAN ARCHITECTURE的介紹，在此基礎(chǔ)上，結(jié)合ARM7TDMI詳細(xì)介紹了的JTAG調(diào)試原理。
標(biāo)簽： BOUNDARY-SCAN ARCHITECTURE ACCESS JTAG
上傳時(shí)間： 2016-05-24
上傳用戶：qilin
介紹了Embedded Deterministic Test的詳細(xì)結(jié)構(gòu)和原理
標(biāo)簽： Deterministic Embedded Test
上傳用戶：釣鰲牧馬
source for s3c2410 test program,including lcd ,nand flash ,uart and so on
標(biāo)簽： including s3c2410 program source
上傳時(shí)間： 2016-05-25
上傳用戶：silenthink
test file nucleus source
標(biāo)簽： nucleus source test file
上傳時(shí)間： 2014-01-16
上傳用戶：氣溫達(dá)上千萬的
Help you join the test work.
標(biāo)簽： Help join test work
上傳時(shí)間： 2013-12-27
上傳用戶：頂?shù)弥?/p>
My stuying help you can past this test.
標(biāo)簽： stuying help past this
上傳時(shí)間： 2016-06-01
上傳用戶：watch100
Avr mega162 bootloader IAP test
標(biāo)簽： bootloader mega test Avr
上傳時(shí)間： 2014-01-05
上傳用戶：lacsx
簡單的議程管理的小實(shí)驗(yàn),包含可運(yùn)行BAT文件和TEST用例
標(biāo)簽： TEST BAT 實(shí)驗(yàn) 運(yùn)行
上傳時(shí)間： 2014-12-08
上傳用戶：ynzfm
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