ARM 的基本組合語(yǔ)言介紹~裡面從簡(jiǎn)到的到進(jìn)階的~都有範(fàn)例...蠻淺顯易懂的
標(biāo)簽： ARM
上傳時(shí)間： 2013-11-25
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基于AVR的RTL8309網(wǎng)絡(luò)交換芯片的控制程序（SMI接口協(xié)議）
標(biāo)簽： 8309 AVR RTL SMI
上傳時(shí)間： 2016-05-10
上傳用戶：wanqunsheng
TagReader完全介紹,含Demo Kit簡(jiǎn)介,指令介紹
標(biāo)簽： TagReader Demo Kit 指令
上傳時(shí)間： 2013-12-24
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CRC演算法原理及C語(yǔ)言實(shí)現(xiàn)（介紹了3種方法）.pdf
標(biāo)簽： CRC 算法原理
上傳時(shí)間： 2016-05-29
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Quartus_II教學(xué)文件..介紹的滿深入的
標(biāo)簽： Quartus_II
上傳時(shí)間： 2016-06-13
上傳用戶：edisonfather
C++源碼類型介紹及其分析,較為使用,效果不錯(cuò)
標(biāo)簽： 分
上傳時(shí)間： 2016-06-20
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Intel XScale 系統(tǒng)晶片核心介紹
標(biāo)簽： XScale Intel 系統(tǒng) 晶片
上傳時(shí)間： 2013-12-11
上傳用戶：ynzfm
OPEN-JTAG ARM JTAG 測(cè)試原理 1 前言 本篇報(bào)告主要介紹ARM JTAG測(cè)試的基本原理。基本的內(nèi)容包括了TAP (TEST ACCESS PORT) 和BOUNDARY-SCAN ARCHITECTURE的介紹，在此基礎(chǔ)上，結(jié)合ARM7TDMI詳細(xì)介紹了的JTAG測(cè)試原理。 2 IEEE Standard 1149.1 - Test Access Port and Boundary-Scan Architecture 從IEEE的JTAG測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)開(kāi)始，JTAG是JOINT TEST ACTION GROUP的簡(jiǎn)稱。IEEE 1149.1標(biāo)準(zhǔn)最初是由JTAG這個(gè)組織提出，最終由IEEE批準(zhǔn)並且標(biāo)準(zhǔn)化，所以，IEEE 1149.1這個(gè)標(biāo)準(zhǔn)一般也俗稱JTAG測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)。 接下來(lái)介紹TAP (TEST ACCESS PORT) 和BOUNDARY-SCAN ARCHITECTURE的基本架構(gòu)。
標(biāo)簽： JTAG BOUNDARY-SCAN OPEN-JTAG ARM
上傳時(shí)間： 2016-08-16
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關(guān)於一些面板的介紹，包括音波式面板、電阻式面板、電容式面板等資料。
標(biāo)簽： 面板
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介紹stack的使用 v
標(biāo)簽： stack
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