采用軟件校正的TMS320f2812內(nèi)置ADC采樣值方案.rar
采用軟件校正的TMS320f2812內(nèi)置ADC采樣值方案...
adc-brush技術(shù)資料
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基于FPGA的ADC并行測(cè)試方法研究.rar
高性能ADC產(chǎn)品的出現(xiàn)，給混合信號(hào)測(cè)試領(lǐng)域帶來(lái)前所未有的挑戰(zhàn)。并行ADC測(cè)試方案實(shí)現(xiàn)了多個(gè)ADC測(cè)試過程的并行化和實(shí)時(shí)化，減少了單個(gè)ADC的平均測(cè)試時(shí)間，從而降低ADC測(cè)試成本。 本文實(shí)現(xiàn)了基于FPG...
時(shí)分交替ADC系統(tǒng)數(shù)字校準(zhǔn)算法
隨著現(xiàn)代通信與信號(hào)處理技術(shù)的不斷發(fā)展，對(duì)于高速高精度AD轉(zhuǎn)換器的需求越來(lái)越大。但是，隨著集成電路工藝中電路特征線寬的不斷減小，在傳統(tǒng)單通道ADC框架下同時(shí)實(shí)現(xiàn)高速、高精度的數(shù)模轉(zhuǎn)換愈加困難。此時(shí)，時(shí)分...
基于FPGA的ADC并行測(cè)試方法研究
高性能ADC產(chǎn)品的出現(xiàn)，給混合信號(hào)測(cè)試領(lǐng)域帶來(lái)前所未有的挑戰(zhàn)。并行ADC測(cè)試方案實(shí)現(xiàn)了多個(gè)ADC測(cè)試過程的并行化和實(shí)時(shí)化，減少了單個(gè)ADC的平均測(cè)試時(shí)間，從而降低ADC測(cè)試成本。本文實(shí)現(xiàn)了基于FPGA...
LM3S ADC例程多種采樣觸發(fā)方式
LM3S系列ADC例程：多種采樣觸發(fā)方式...
LM3S系列ADC例程內(nèi)置的溫度傳感器
LM3S系列ADC例程：內(nèi)置的溫度傳感器...
freescale k40/k60 adc 例程
freescale k40/k60 adc 例程...
freescale k40/k60 pdb-adc 例程
freescale k40/k60 cortex m4 pdb-adc 例程...
STM32F4-Discovery ADC-Interleaved_DMAmode2 例程
STM32F4-Discovery ADC-Interleaved_DMAmode2 keil&iar例程...
DSP的ADC原理
DSP的ADC原理，對(duì)軟硬件AD采樣精度有幫助...