這篇文章主要介紹ARM JTAG調試的基本原理。基本的內容包括了TAP (TEST ACCESS PORT) 和boundary-scan ARCHITECTURE的介紹，在此基礎上，結合ARM7TDMI詳細介紹了的JTAG調試原理。
標簽： boundary-scan ARCHITECTURE ACCESS JTAG
上傳時間： 2016-05-24
上傳用戶：qilin
boundary-scan Description file (BSD) for the AT91SAM7X256 in LQFP package
標簽： boundary-scan Description package file
上傳時間： 2013-12-11
上傳用戶：小鵬
boundary-scan Description file (BSD) for the AT91SAM7X256, AT91SAM7X128, AT91SAM7XC256, AT91SAM7XC128 in BGA package.
標簽： SAM AT 91 boundary-scan
上傳時間： 2016-05-29
上傳用戶：lyy1234
這篇文章主要介紹ARM JTAG調試的基本原理。基本的內容包括了TAP (TEST ACCESS PORT) 和boundary-scan ARCHITECTURE的介紹，在此基礎上，結合ARM7TDMI詳細介紹了的JTAG調試原理。 這篇文章主要是總結了前段時間的一些心得體會，希望對想了解ARM JTAG調試的網友們有所幫助。我個人對ARM JTAG的理解還不是很透徹，在文章中，難免會有偏失和不準確的地方，希望精通JTAG調試原理的大俠們不要拍磚，有什么問題提出來，我一定盡力糾正。同時也歡迎對ARM JTAG調試感興趣的朋友們一起交流學習。
標簽： boundary-scan ARCHITECTURE ACCESS JTAG
上傳時間： 2016-06-22
上傳用戶：kikye
OPEN-JTAG ARM JTAG 測試原理 1 前言 本篇報告主要介紹ARM JTAG測試的基本原理。基本的內容包括了TAP (TEST ACCESS PORT) 和boundary-scan ARCHITECTURE的介紹，在此基礎上，結合ARM7TDMI詳細介紹了的JTAG測試原理。 2 IEEE Standard 1149.1 - Test Access Port and boundary-scan Architecture 從IEEE的JTAG測試標準開始，JTAG是JOINT TEST ACTION GROUP的簡稱。IEEE 1149.1標準最初是由JTAG這個組織提出，最終由IEEE批準並且標準化，所以，IEEE 1149.1這個標準一般也俗稱JTAG測試標準。 接下來介紹TAP (TEST ACCESS PORT) 和boundary-scan ARCHITECTURE的基本架構。
標簽： JTAG boundary-scan OPEN-JTAG ARM
上傳時間： 2016-08-16
上傳用戶：sssl
This application note explains the XC9500™/XL/XV Boundary Scan interface anddemonstrates the software available for programming and testing XC9500/XL/XV CPLDs. Anappendix summarizes the iMPACT software operations and provides an overview of theadditional operations supported by XC9500/XL/XV CPLDs for in-system programming.
上傳時間： 2013-11-15
上傳用戶：fengweihao158@163.com
This application note explains the XC9500™/XL/XV Boundary Scan interface anddemonstrates the software available for programming and testing XC9500/XL/XV CPLDs. Anappendix summarizes the iMPACT software operations and provides an overview of theadditional operations supported by XC9500/XL/XV CPLDs for in-system programming.
上傳時間： 2013-11-01
上傳用戶：南國時代
可測試性設計（Design-For-Testability，DFT）已經成為芯片設計中不可或缺的重要組成部分。它通過在芯片的邏輯設計中加入測試邏輯提高芯片的可測試性。在高性能通用 CPU 的設計中，可測試性設計技術得到了廣泛的應用。本文結合幾款流行的 CPU，綜述了可應用于通用 CPU 等高性能芯片設計中的各種可測試性方法，包括掃描設計（Scan Design），內建自測試（Built-In Self-Test，BIST），測試點插入（Test Point Insertion），與 IEEE 1149.1標準兼容的邊界掃描設計（Boundary Scan Design，BSD）等技術。
上傳時間： 2021-10-15
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IEEE1149.1的產生1985年由IBM、AT&T、Texas Instruments、Philips Electronics NV、Siemens、Alcatel和Ericsson等公司成立的JETAG（Joint European Test Action Group）提出了邊界掃描技術。1986年由于其它地區的一些公司的加入，JETAG改名為JTAG。1988年JTAG提出了標準的邊界掃描體系結構，名稱叫boundary-scan Architecture Standard Proposal，Version2.0，1990年IEEE正式承認了JTAG標準，經過補充和修訂以后命名命名為IEEE1149.1-90。同年又提出了BSDL（Boundary Scan Description Lauguage，邊界掃描描述語言）。后來成為IEEE1149.1-93標準的一部分。
標簽： jtag
上傳時間： 2022-07-06
上傳用戶：canderile
VIP專區-嵌入式/單片機編程源碼精選合集系列（39）資源包含以下內容：1. 這是有關SPI總線的一段讀寫程序.2. 這是一段MAX7219的驅動C51源程序.3. 利用msp430的通用I/O端口模擬I2c協議的源代碼.4. 超級下載軟件(progisp ver1.1)包括并口下載器與usb isp下載器的詳細制作資料.5. MCS51產單片機上實現的tcp/ip,很全的哦,需要的可以參考一下..6. 嵌入式系統圖形用戶界面編程.7. 05嵌入式大會的部分演講稿.8. 51系列對CH375模塊讀寫.9. test for boundary scan and CPLD ics..10. 這是我個人再學習ARM7s3c2410的 時候用到的試驗代碼.11. 本人水品有限.12. 是在不好意思.13. 入門試驗代碼.14. pxros的使用說明.15. 在NIOS中利用C語言模擬I2C總線時序.16. ALTERA NIOS處理器實驗.17. ALTERA NIOS處理器實驗.18. ALTERA NIOS處理器實驗.19. ALTERA NIOS處理器實驗.20. ALTERA NIOS處理器實驗.21. 隨著高性能計算的需求.22. ADS1.2是一個使用方便的集成開發環境.23. AVR單片機嵌入式操作系統原代碼.24. 有關rtos的書.25. 重要的匯編語言編程......和大家一起分享.26. AT91M55800A材料-BasicTimer.27. I2c代碼.28. WINDOWS系統下灰度的BMP圖片轉換成黑白圖片..29. 在WINDOWS CE.NET 系統中讀RDP連接的用戶名的密碼..30. 嵌入式實時操作系統μCOS-在ARM上的移植應用.31. 在s3c44b0x運行的俄羅斯方塊游戲 DOS參考代碼.32. uCOS-II在C51下的一個完整的LCD項目源碼.33. 石子歸并問題：在一個圓形操場的四周擺放著N堆石子(N<= 100),現要將石子有次序地合并成一堆.規定每次只能選取相鄰的兩堆合并成新的一堆,并將新的一堆的石子數,記為該次合并的得分.編一程序,由.34. 單片機及嵌入式系統web實現的文章 很好的：MCU應用系統與Internet連接的一種新技術.35. 單片機發展趨勢的文章： 從Cygnal C8051F看8位單片機發展之路 好.36. usb host在ARM7上的實現.37. 對arm300的一些簡單的試驗做了詳細地說明和講解.38. arm技術手冊.39. arm7上開發usb的文檔,說得非常好.40. 一個關于s1d13806的應用程序.
上傳時間： 2013-04-15
上傳用戶：eeworm
