摘要:使用Saber軟件,開環仿真了DC/DC開關電源,輸入電壓波動時,輸出紋波電壓較大,不能滿足設計要求。采用小信號分析方法,根據系統伯德圖分析其傳遞函數的結構形式,設計了閉環反饋網絡.將閉環反饋網絡加入系統并仿真,結果表明,閉環反饋網絡不僅使輸出電壓迅速上升,而且減小了輸出電壓的紋波系數,增強了輸出電壓的穩定性關鍵詞:開關電源;Saber;閉環反饋補償;仿真;傳遞函數本文通過一個DC/DC閉環控制電路的仿真、閉環補償電路的設計過程和DC/DC閉環控制電路的仿真結果,系統描述采用saber仿真軟件設計與仿真電路的過程,并詳細分析了仿真結果
上傳時間: 2022-07-24
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saber仿真軟件中的器體模型庫很豐富,各種器件模型多達1萬個,但它們均是一些通用的器件模型,可以滿足大多數情況下的仿真需求。但在下列三種情況下,就要自己建立模型進行仿真。1、SABER提供的仿真模型不能滿足一些特殊要求,如在進行參數掃描仿真分析時,不能將幾個參數同時變化掃描進行仿真。2、在對控制策略和系統進行仿真時,對于特定的控制算法或調節器通用軟件本身不會提供現成的算法模型,此時就必須進行建模。3、SABER提供的模型本身存在缺陷,仿真不能真實地反映電路或系統的工作情況。如果遇到上述情況之一,為了取得較好的仿真結果和現實指導意義,建立仿真模型將不可避免。通常建立仿真模型的方法有兩種,一種是基于SABER模型庫中已有的模型進行組合,將由多個器件組成的電路打包成一個器件,這種方法也稱之為電路等級建模法;另一種是用MAST語言進行編寫,對器件的行為進行描述,這在研究控制算法中應用較多。下面列舉實例,從這兩個方面進行具體介紹建模的操作方法和思路。
標簽: saber
上傳時間: 2022-07-25
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標簽: saber
上傳時間: 2013-06-04
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本示例從簡單的BUCK電路入手,詳細說明了如何進行電源環路的計算和補償,并通過saber仿真驗證環路補償的合理性。
上傳時間: 2013-10-17
上傳用戶:shen954166632
適合學習saber仿真的人參考學習,很好的saber學習幫手
上傳時間: 2018-03-19
上傳用戶:shen1230
saber培訓教材,詳細描述SABER軟件的使用和圖文并茂地講解使用saber仿真
上傳時間: 2018-12-31
上傳用戶:simoncql
隨著軟開關技術和并聯均流技術的發展,高性能的大功率高頻開關電源的研究與開發已成為電力電子領域的重要研究方向。針對大功率電源在性能、重量、體積、效率和可靠性方面的要求,本文主要對高效率的開關電源主電路結構和并聯均流控制技術進行研究,并研制出一種基于LLC諧振的交流電力機車智能控制充電機系統。交流傳動電力機車對其所用的大功率蓄電池充電機的工作效率要求達到90%以上,這是采用硬開關技術的開關電源難以達到的。根據這種開關電源功率大、效率要求高的特點,充電機主電路采用了LLC諧振全橋電路的結構。選取諧振元件參數是設計LLC諧振全橋電路的重點和難點,本文通過建立LLC全橋諧振變換器的線性等效模型,詳細分析了LLC諧振全橋的頻率、短路和空載特性,提出一套完整的LLC諧振全橋電路結構的參數設計方法。本充電機最大輸出電流為150A,為此設計采用了5個30A電源模塊并聯供電的模式。論文依據設計要求選取LLC諧振全橋電路的元件參數,利用 saber仿真驗證了參數的正確性:并完成了整個電源模塊主電路其它器件的參數選擇;控制電路采用通用PWM調制芯片SG2525實現PFM調頻控制。實現了電源模塊的高頻ZVS(零電壓開關)軟開關,有效地提高了電源模塊的轉換效率,減小了單模塊的體積。通過對幾種常用的負載均流方法進行研究和電路分析,根據主從均流控制的特點,采用CAN總線實現主從均流法,數字均流的采用提高了系統的抗干擾能力;設計了監控模塊對各電源模塊和整體輸出進行監控;通過CAN總線接口和人機接口的設計,提高了電源系統的智能化和可操作性。實現了多個電源模塊并聯供電的模式最后給出了電源模塊的實驗結果和電源系統并聯運行的測量數據,實驗證明了理論分析的正確性和設計方法的合理性。
上傳時間: 2022-04-04
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近年來,對器件的失效分析已經成為電力電子領域中一個研究熱點。本論文基于現代電力電子裝置中應用最廣的IGBT器件,利用靜態測試儀3716,SEM(Scanning Electrom Microscope,掃描電子顯微鏡)、EDX(Energy Dispersive X-Ray Spectroscopy、能量色散x射線光譜儀)、FIB(Focused lon beam,聚焦高子束)切割、TEM(Thermal Emmision Microscope,高精度熱成像分析儀)等多種分析手段對模塊應用當中失效的1GBT芯片進行電特性分析、芯片解剖并完成失效分析,并基于相應的失效模式提出了封裝改進方案。1,對于柵極失效的情況,本論文先經過電特性測試完成預分析,并利用THEMOS分析出柵極漏電流通路,找到最小點并進行失效原因分析,針對相應原因提出改進方案。2,針對開通與關斷瞬態過電流失效,采用研磨、劃片等手段進行芯片的解剖。并用SEM與EDX對芯片損傷程度進行評估分析,以文獻為參考進行失效原因分析,利用saber仿真進行失效原因驗證。3,針對通態過電流失效模式,采用解剖分析來評估損傷情況,探究失效原因,并采用電感鉗位電路進行實驗驗證。4,針對過電壓失效模式,采用芯片解剖方式來分析失效點以及失效情況,基于文獻歸納并總結出傳統失效原因,并通過大量實驗得出基于封裝的失效原因,最后采用saber仿真加以驗證。
標簽: igbt
上傳時間: 2022-06-21
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上傳時間: 2022-03-16
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上傳時間: 2022-03-16
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