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spectroscopy

光譜學(xué)是一門主要涉及物理學(xué)及化學(xué)的重要交叉學(xué)科，通過(guò)光譜來(lái)研究電磁波與物質(zhì)之間的相互作用。光是一種由各種波長(zhǎng)（或者頻率）的電磁波疊加起來(lái)的電磁輻射。光譜是一類借助光柵、棱鏡、傅里葉變換等分光手段將一束電磁輻射的某項(xiàng)性質(zhì)解析成此輻射的各個(gè)組成波長(zhǎng)對(duì)此性質(zhì)的貢獻(xiàn)的圖表。例如一幅吸收光譜可以在某個(gè)波段按照從低到高的波長(zhǎng)順序列出物質(zhì)對(duì)于相應(yīng)波長(zhǎng)的吸收程度。隨著科技的進(jìn)展，光譜學(xué)所涉及的電磁波波段越來(lái)越寬廣，從波長(zhǎng)處于皮米級(jí)的γ射線，到X射線，紫外線，可見(jiàn)光區(qū)域，紅外線，微波，再到波長(zhǎng)可達(dá)幾公里的無(wú)線電波，都有其與物質(zhì)作用的特征形式。按照光與物質(zhì)的作用形式，光譜一般可分為吸收光譜、發(fā)射光譜、散射光譜等。通過(guò)光譜學(xué)研究，人們可以解析原子與分子的能級(jí)與幾何結(jié)構(gòu)、特定化學(xué)過(guò)程的反應(yīng)速率、某物質(zhì)在太空中特定區(qū)域的濃度分布等多方面的微觀與宏觀性質(zhì)。

  • the geometry of a diffraction grating, a common illustration in textbooks of optics, spectroscopy,

    the geometry of a diffraction grating, a common illustration in textbooks of optics, spectroscopy, and analytical chemistry. Sliders on the figures allow real-time interactive control of the incidence angle, grating ruling density (lines/mm), wavelength, and diffraction order.

    標(biāo)簽： illustration spectroscopy diffraction textbooks

    上傳時(shí)間： 2016-06-04

    上傳用戶：極客

  • The aqsesGUI software is a software package for processing Magnetic Resonance spectroscopy signals.

    The aqsesGUI software is a software package for processing Magnetic Resonance spectroscopy signals. The software contains methods to load, preprocess and process MRS data.

    標(biāo)簽： software spectroscopy processing Resonance

    上傳時(shí)間： 2016-09-20

    上傳用戶：lanwei

  • Impedance spectroscopy

    Impedance spectroscopy

    標(biāo)簽： spectroscopy Impedance

    上傳時(shí)間： 2013-12-25

    上傳用戶：zsjinju

  • 步進(jìn)電機(jī)控制驅(qū)動(dòng)系統(tǒng)的設(shè)計(jì)

    LAMOST(Large Sky Area Multi-Obiect Fiber spectroscopy Telescope，大天區(qū)面積多目標(biāo)光纖光譜天文望遠(yuǎn)鏡)需要對(duì)焦而上的4 000個(gè)光纖定位單元進(jìn)行精確定位，一個(gè)光纖定位單元需要兩個(gè)步進(jìn)電機(jī)來(lái)驅(qū)動(dòng)，即需要對(duì)8 000個(gè)電機(jī)進(jìn)行驅(qū)動(dòng)控制。如何對(duì)這8 000個(gè)電機(jī)進(jìn)行有效的控制，是本文主要的研究?jī)?nèi)容。 本義引入EDA(Electronic Design Automation)，技術(shù)，以FPGA和CAN總線為硬件載體來(lái)進(jìn)行設(shè)計(jì)。FPGA相比較于DSP，單片機(jī)而言，具有10管腳多，資源豐富，使用靈活等優(yōu)點(diǎn)，可以存片內(nèi)集成多個(gè)電機(jī)的摔制，這樣對(duì)于提高系統(tǒng)的集成度，節(jié)約成本無(wú)疑有著很大的幫助。 在電機(jī)的控制當(dāng)中，其失步和過(guò)沖會(huì)直接影響到系統(tǒng)的精度，所以需要對(duì)電機(jī)脈沖頻率加以控制，對(duì)于在平穩(wěn)狀態(tài)下能正常工作的電機(jī)，失步往往發(fā)生在啟動(dòng)停止等脈沖頻率突然發(fā)生改變的時(shí)刻。具體實(shí)現(xiàn)方法是通過(guò)實(shí)驗(yàn)找出一條理想的加減速曲線，再將曲線離散化，并把離散化后的加減速分頻系數(shù)存儲(chǔ)在FPGA片內(nèi)ROM里而，當(dāng)電機(jī)運(yùn)行到對(duì)應(yīng)的步數(shù)時(shí)，取出分頻系數(shù)來(lái)獲取對(duì)應(yīng)的運(yùn)行頻率。 在LAMOST觀測(cè)中，光纖定位單元的零位是個(gè)很重要的基準(zhǔn)，在每次觀測(cè)之前，電機(jī)都要回零，理論上電氣零位和機(jī)械零位在同一點(diǎn)上，如果電氣檢測(cè)到達(dá)零位則認(rèn)為已經(jīng)到達(dá)機(jī)械零位位置。但是實(shí)際中由于裝配等一些原因，可能會(huì)出現(xiàn)零位短路和零位斷路的情況。零位斷路是指電機(jī)處于機(jī)械零位，但是電氣不能檢測(cè)到；零位短路是指電機(jī)不在機(jī)械零位，但是電氣已經(jīng)檢測(cè)到處于零位。這兩種情況會(huì)造成越界和機(jī)械零位一直被擠壓的后果，有可能會(huì)損壞光纖定位單元，為了防止這些情況出現(xiàn)，軟件程序中加入了計(jì)數(shù)器，從而從有效地保護(hù)了光纖定位單元，同時(shí)將這些狀況向上反饋，以便維護(hù)和檢修。 在本文完成之時(shí)，能夠控制驅(qū)動(dòng)336個(gè)光纖定位單元的小系統(tǒng)已經(jīng)在北京天文臺(tái)興隆觀測(cè)站實(shí)際投入運(yùn)行，并于2007年5月28日獲得首條光譜，取得了不錯(cuò)的效果。

    標(biāo)簽： 步進(jìn)電機(jī)控制 驅(qū)動(dòng)系統(tǒng)

    上傳時(shí)間： 2013-04-24

    上傳用戶：afeiafei309

  • Origin 擬合曲線教程 Contents 1. ORIGIN BASIC FUNCTIONS 2. CHROMATOGRAPHY FUNCTIONS 3. EXPONENTIAL FU

    Origin 擬合曲線教程 Contents 1. ORIGIN BASIC FUNCTIONS 2. CHROMATOGRAPHY FUNCTIONS 3. EXPONENTIAL FUNCTIONS 4. GROWTH/SIGMOIDAL 5. HYPERBOLA FUNCTIONS 6. LOGARITHM FUNCTIONS 7. PEAK FUNCTIONS93 8. PHARMACOLOGY FUNCTIONS 9. POWER FUNCTIONS 10. RATIONAL FUNCTIONS140 11. spectroscopy FUNCTIONS155 12. WAVEFORM FUNCTIONS....................................................................................................................... 163

    標(biāo)簽： FUNCTIONS CHROMATOGRAPHY EXPONENTIAL Contents

    上傳時(shí)間： 2016-12-15

    上傳用戶：qazxsw

  • IGBT失效分析技術(shù)

    近年來(lái)，對(duì)器件的失效分析已經(jīng)成為電力電子領(lǐng)域中一個(gè)研究熱點(diǎn)。本論文基于現(xiàn)代電力電子裝置中應(yīng)用最廣的IGBT器件，利用靜態(tài)測(cè)試儀3716，SEM（Scanning Electrom Microscope，掃描電子顯微鏡）、EDX（Energy Dispersive X-Ray spectroscopy、能量色散x射線光譜儀）、FIB（Focused lon beam，聚焦高子束）切割、TEM（Thermal Emmision Microscope，高精度熱成像分析儀）等多種分析手段對(duì)模塊應(yīng)用當(dāng)中失效的1GBT芯片進(jìn)行電特性分析、芯片解剖并完成失效分析，并基于相應(yīng)的失效模式提出了封裝改進(jìn)方案。1，對(duì)于柵極失效的情況，本論文先經(jīng)過(guò)電特性測(cè)試完成預(yù)分析，并利用THEMOS分析出柵極漏電流通路，找到最小點(diǎn)并進(jìn)行失效原因分析，針對(duì)相應(yīng)原因提出改進(jìn)方案。2，針對(duì)開(kāi)通與關(guān)斷瞬態(tài)過(guò)電流失效，采用研磨、劃片等手段進(jìn)行芯片的解剖。并用SEM與EDX對(duì)芯片損傷程度進(jìn)行評(píng)估分析，以文獻(xiàn)為參考進(jìn)行失效原因分析，利用saber仿真進(jìn)行失效原因驗(yàn)證。3，針對(duì)通態(tài)過(guò)電流失效模式，采用解剖分析來(lái)評(píng)估損傷情況，探究失效原因，并采用電感鉗位電路進(jìn)行實(shí)驗(yàn)驗(yàn)證。4，針對(duì)過(guò)電壓失效模式，采用芯片解剖方式來(lái)分析失效點(diǎn)以及失效情況，基于文獻(xiàn)歸納并總結(jié)出傳統(tǒng)失效原因，并通過(guò)大量實(shí)驗(yàn)得出基于封裝的失效原因，最后采用saber仿真加以驗(yàn)證。

    標(biāo)簽： igbt

    上傳時(shí)間： 2022-06-21

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