這是一篇有關(guān)於向量信號(hào)分析儀(VSA)的文章
上傳時(shí)間: 2014-12-02
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Perl 開發(fā)的電信短信服務(wù)器數(shù)據(jù)采集分析程序
標(biāo)簽: Perl 電信 服務(wù)器 數(shù)據(jù)采集
上傳時(shí)間: 2013-12-28
上傳用戶:nanxia
HT46R47對(duì)AC過零信號(hào)進(jìn)行檢測(cè)
上傳時(shí)間: 2014-01-08
上傳用戶:yph853211
利用LTC2624 將數(shù)位信號(hào)轉(zhuǎn)類比信號(hào)
上傳時(shí)間: 2013-12-16
上傳用戶:zl5712176
處理與接收 gps 信號(hào)的範(fàn)例碼, 使用的平臺(tái)式 HOLUX GR-86.
上傳時(shí)間: 2014-01-03
上傳用戶:lhw888
PCB LAYOUT 術(shù)語解釋(TERMS)1. COMPONENT SIDE(零件面、正面)︰大多數(shù)零件放置之面。2. SOLDER SIDE(焊錫面、反面)。3. SOLDER MASK(止焊膜面)︰通常指Solder Mask Open 之意。4. TOP PAD︰在零件面上所設(shè)計(jì)之零件腳PAD,不管是否鑽孔、電鍍。5. BOTTOM PAD:在銲錫面上所設(shè)計(jì)之零件腳PAD,不管是否鑽孔、電鍍。6. POSITIVE LAYER:?jiǎn)巍㈦p層板之各層線路;多層板之上、下兩層線路及內(nèi)層走線皆屬之。7. NEGATIVE LAYER:通常指多層板之電源層。8. INNER PAD:多層板之POSITIVE LAYER 內(nèi)層PAD。9. ANTI-PAD:多層板之NEGATIVE LAYER 上所使用之絕緣範(fàn)圍,不與零件腳相接。10. THERMAL PAD:多層板內(nèi)NEGATIVE LAYER 上必須零件腳時(shí)所使用之PAD,一般稱為散熱孔或?qū)住?1. PAD (銲墊):除了SMD PAD 外,其他PAD 之TOP PAD、BOTTOM PAD 及INNER PAD 之形狀大小皆應(yīng)相同。12. Moat : 不同信號(hào)的 Power& GND plane 之間的分隔線13. Grid : 佈線時(shí)的走線格點(diǎn)2. Test Point : ATE 測(cè)試點(diǎn)供工廠ICT 測(cè)試治具使用ICT 測(cè)試點(diǎn) LAYOUT 注意事項(xiàng):PCB 的每條TRACE 都要有一個(gè)作為測(cè)試用之TEST PAD(測(cè)試點(diǎn)),其原則如下:1. 一般測(cè)試點(diǎn)大小均為30-35mil,元件分布較密時(shí),測(cè)試點(diǎn)最小可至30mil.測(cè)試點(diǎn)與元件PAD 的距離最小為40mil。2. 測(cè)試點(diǎn)與測(cè)試點(diǎn)間的間距最小為50-75mil,一般使用75mil。密度高時(shí)可使用50mil,3. 測(cè)試點(diǎn)必須均勻分佈於PCB 上,避免測(cè)試時(shí)造成板面受力不均。4. 多層板必須透過貫穿孔(VIA)將測(cè)試點(diǎn)留於錫爐著錫面上(Solder Side)。5. 測(cè)試點(diǎn)必需放至於Bottom Layer6. 輸出test point report(.asc 檔案powerpcb v3.5)供廠商分析可測(cè)率7. 測(cè)試點(diǎn)設(shè)置處:Setuppadsstacks
標(biāo)簽: layout design pcb 硬件工程師
上傳時(shí)間: 2013-10-22
上傳用戶:pei5
PCB LAYOUT 術(shù)語解釋(TERMS)1. COMPONENT SIDE(零件面、正面)︰大多數(shù)零件放置之面。2. SOLDER SIDE(焊錫面、反面)。3. SOLDER MASK(止焊膜面)︰通常指Solder Mask Open 之意。4. TOP PAD︰在零件面上所設(shè)計(jì)之零件腳PAD,不管是否鑽孔、電鍍。5. BOTTOM PAD:在銲錫面上所設(shè)計(jì)之零件腳PAD,不管是否鑽孔、電鍍。6. POSITIVE LAYER:?jiǎn)巍㈦p層板之各層線路;多層板之上、下兩層線路及內(nèi)層走線皆屬之。7. NEGATIVE LAYER:通常指多層板之電源層。8. INNER PAD:多層板之POSITIVE LAYER 內(nèi)層PAD。9. ANTI-PAD:多層板之NEGATIVE LAYER 上所使用之絕緣範(fàn)圍,不與零件腳相接。10. THERMAL PAD:多層板內(nèi)NEGATIVE LAYER 上必須零件腳時(shí)所使用之PAD,一般稱為散熱孔或?qū)住?1. PAD (銲墊):除了SMD PAD 外,其他PAD 之TOP PAD、BOTTOM PAD 及INNER PAD 之形狀大小皆應(yīng)相同。12. Moat : 不同信號(hào)的 Power& GND plane 之間的分隔線13. Grid : 佈線時(shí)的走線格點(diǎn)2. Test Point : ATE 測(cè)試點(diǎn)供工廠ICT 測(cè)試治具使用ICT 測(cè)試點(diǎn) LAYOUT 注意事項(xiàng):PCB 的每條TRACE 都要有一個(gè)作為測(cè)試用之TEST PAD(測(cè)試點(diǎn)),其原則如下:1. 一般測(cè)試點(diǎn)大小均為30-35mil,元件分布較密時(shí),測(cè)試點(diǎn)最小可至30mil.測(cè)試點(diǎn)與元件PAD 的距離最小為40mil。2. 測(cè)試點(diǎn)與測(cè)試點(diǎn)間的間距最小為50-75mil,一般使用75mil。密度高時(shí)可使用50mil,3. 測(cè)試點(diǎn)必須均勻分佈於PCB 上,避免測(cè)試時(shí)造成板面受力不均。4. 多層板必須透過貫穿孔(VIA)將測(cè)試點(diǎn)留於錫爐著錫面上(Solder Side)。5. 測(cè)試點(diǎn)必需放至於Bottom Layer6. 輸出test point report(.asc 檔案powerpcb v3.5)供廠商分析可測(cè)率7. 測(cè)試點(diǎn)設(shè)置處:Setuppadsstacks
標(biāo)簽: layout design pcb 硬件工程師
上傳時(shí)間: 2013-11-17
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Verilog HDL的程式,上網(wǎng)找到SPI程式, vspi.v這程式相當(dāng)好用可用來接收與傳送SPI,並且寫了一個(gè)傳輸信號(hào)測(cè)試,spidatasent.v這程式就是傳送的資料,分別為00 66... 01 77...... 02 55這樣的資料,並透過MAX+PULS II軟體進(jìn)行模擬,而最外層的程式是test_createspi.v!
上傳時(shí)間: 2017-03-06
上傳用戶:onewq
摘要 DAQmx驅(qū)動(dòng)作為N公司的第三代數(shù)據(jù)飛集硬俘驅(qū)動(dòng)程序,減少了傳統(tǒng)數(shù)據(jù)采集硬件驅(qū)動(dòng)程序帶來的編程復(fù)雜性,可被多種編程語言調(diào)用,程序接口功能強(qiáng)大,應(yīng)用起來十分方便。研究并使用DAQmx驅(qū)動(dòng)程序開發(fā)基于PX1總線的數(shù)采系統(tǒng)逐漸成為趨勢(shì)。針對(duì)PXI總線數(shù)采系統(tǒng)開發(fā)中必須解決的采集同步、觸發(fā)等關(guān)鍵技術(shù)問題,重點(diǎn)講迷在LABVIEW中利用DAQmx驅(qū)動(dòng)實(shí)現(xiàn)多塊數(shù)采卡同步采集、多功能數(shù)采卡的橫擬與數(shù)字信導(dǎo)同步采集的程序設(shè)計(jì)技術(shù)以及數(shù)字與模擬信號(hào)觸發(fā)程序設(shè)計(jì)技術(shù)等。利用這些技術(shù)可解決大部分基于PX1總線的數(shù)據(jù)采集儀器設(shè)計(jì)問題。并結(jié)合工程實(shí)際,演示了利用DAQmx工具開發(fā)的32通道多功能PXI總線數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)。DAQmx硬件驅(qū)動(dòng)程序是N公司研制的第三代硬件驅(qū)動(dòng)程序,在LABVIEW環(huán)境下使用可簡(jiǎn)化數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)程序設(shè)計(jì)。且可被C++、VC++、以及LabWindows/CVI等程序調(diào)用,為應(yīng)用其他開發(fā)語言的工程師提供了方便。DAQmx驅(qū)動(dòng)程序在數(shù)據(jù)采集程序設(shè)計(jì)時(shí)具有如下特點(diǎn):對(duì)多功能的數(shù)據(jù)采集卡都使用統(tǒng)一的編程界面,可編寫模擬輸入、模擬輸出、數(shù)字10以及定時(shí)器/計(jì)數(shù)器程序,驅(qū)動(dòng)程序完全支持多線程程序。利用Measurement&Automation(MAX)配置工具,可簡(jiǎn)化數(shù)據(jù)采集卡的配置。在異常條件下運(yùn)行可靠,傳統(tǒng)的DAQ驅(qū)動(dòng)難以處理異常情況,而DAQmx定義并加強(qiáng)了異常條件處理方法,這比傳統(tǒng)DAQ驅(qū)動(dòng)更可靠,一個(gè)最重要的特征是簡(jiǎn)化了采集同步的難題。傳統(tǒng)DAQ中的設(shè)備同步實(shí)現(xiàn)起來相當(dāng)復(fù)雜,必須通過軟件編程路由RTSI總線或PFI信號(hào)線來完成,而DAQmx應(yīng)用時(shí)不必為信號(hào)指定路由,只需確定同步信號(hào),所有路由工作由DAQmx自動(dòng)完成。本文結(jié)合工程開發(fā)實(shí)際介紹在LABVIEW環(huán)境下應(yīng)用DAQmx驅(qū)動(dòng)程序開發(fā)數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)的技術(shù),主要講述利用DAQmx解決多塊卡同步的問題,以及多功能數(shù)據(jù)采集卡的數(shù)字與模擬采集同步以及信號(hào)觸發(fā)等問題。
標(biāo)簽: daqmx驅(qū)動(dòng) labview 數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)
上傳時(shí)間: 2022-06-22
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雪崩光電二極管 (APD) 接收器模塊在光纖通信繫統(tǒng)中被廣泛地使用。APD 模塊包含 APD 和一個(gè)信號(hào)調(diào)理放大器,但並不是完全獨(dú)立。它仍舊需要重要的支持電路,包括一個(gè)高電壓、低噪聲電源和一個(gè)用於指示信號(hào)強(qiáng)度的精準(zhǔn)電流監(jiān)視器
上傳時(shí)間: 2013-11-22
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