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試儀設(shè)計(jì)

  • pcb layout design(臺灣硬件工程師15年經驗

    PCB LAYOUT 術語解釋(TERMS)1. COMPONENT SIDE(零件面、正面)︰大多數零件放置之面。2. SOLDER SIDE(焊錫面、反面)。3. SOLDER MASK(止焊膜面)︰通常指Solder Mask Open 之意。4. TOP PAD︰在零件面上所設計之零件腳PAD,不管是否鑽孔、電鍍。5. BOTTOM PAD:在銲錫面上所設計之零件腳PAD,不管是否鑽孔、電鍍。6. POSITIVE LAYER:單、雙層板之各層線路;多層板之上、下兩層線路及內層走線皆屬之。7. NEGATIVE LAYER:通常指多層板之電源層。8. INNER PAD:多層板之POSITIVE LAYER 內層PAD。9. ANTI-PAD:多層板之NEGATIVE LAYER 上所使用之絕緣範圍,不與零件腳相接。10. THERMAL PAD:多層板內NEGATIVE LAYER 上必須零件腳時所使用之PAD,一般稱為散熱孔或導通孔。11. PAD (銲墊):除了SMD PAD 外,其他PAD 之TOP PAD、BOTTOM PAD 及INNER PAD 之形狀大小皆應相同。12. Moat : 不同信號的 Power& GND plane 之間的分隔線13. Grid : 佈線時的走線格點2. Test Point : ATE 測試點供工廠ICT 測試治具使用ICT 測試點 LAYOUT 注意事項:PCB 的每條TRACE 都要有一個作為測試用之TEST PAD(測試點),其原則如下:1. 一般測試點大小均為30-35mil,元件分布較密時,測試點最小可至30mil.測試點與元件PAD 的距離最小為40mil。2. 測試點與測試點間的間距最小為50-75mil,一般使用75mil。密度高時可使用50mil,3. 測試點必須均勻分佈於PCB 上,避免測試時造成板面受力不均。4. 多層板必須透過貫穿孔(VIA)將測試點留於錫爐著錫面上(Solder Side)。5. 測試點必需放至於Bottom Layer6. 輸出test point report(.asc 檔案powerpcb v3.5)供廠商分析可測率7. 測試點設置處:Setup􀃆pads􀃆stacks

    標簽: layout design pcb 硬件工程師

    上傳時間: 2013-10-22

    上傳用戶:pei5

  • pcb layout design(臺灣硬件工程師15年經驗

    PCB LAYOUT 術語解釋(TERMS)1. COMPONENT SIDE(零件面、正面)︰大多數零件放置之面。2. SOLDER SIDE(焊錫面、反面)。3. SOLDER MASK(止焊膜面)︰通常指Solder Mask Open 之意。4. TOP PAD︰在零件面上所設計之零件腳PAD,不管是否鑽孔、電鍍。5. BOTTOM PAD:在銲錫面上所設計之零件腳PAD,不管是否鑽孔、電鍍。6. POSITIVE LAYER:單、雙層板之各層線路;多層板之上、下兩層線路及內層走線皆屬之。7. NEGATIVE LAYER:通常指多層板之電源層。8. INNER PAD:多層板之POSITIVE LAYER 內層PAD。9. ANTI-PAD:多層板之NEGATIVE LAYER 上所使用之絕緣範圍,不與零件腳相接。10. THERMAL PAD:多層板內NEGATIVE LAYER 上必須零件腳時所使用之PAD,一般稱為散熱孔或導通孔。11. PAD (銲墊):除了SMD PAD 外,其他PAD 之TOP PAD、BOTTOM PAD 及INNER PAD 之形狀大小皆應相同。12. Moat : 不同信號的 Power& GND plane 之間的分隔線13. Grid : 佈線時的走線格點2. Test Point : ATE 測試點供工廠ICT 測試治具使用ICT 測試點 LAYOUT 注意事項:PCB 的每條TRACE 都要有一個作為測試用之TEST PAD(測試點),其原則如下:1. 一般測試點大小均為30-35mil,元件分布較密時,測試點最小可至30mil.測試點與元件PAD 的距離最小為40mil。2. 測試點與測試點間的間距最小為50-75mil,一般使用75mil。密度高時可使用50mil,3. 測試點必須均勻分佈於PCB 上,避免測試時造成板面受力不均。4. 多層板必須透過貫穿孔(VIA)將測試點留於錫爐著錫面上(Solder Side)。5. 測試點必需放至於Bottom Layer6. 輸出test point report(.asc 檔案powerpcb v3.5)供廠商分析可測率7. 測試點設置處:Setup􀃆pads􀃆stacks

    標簽: layout design pcb 硬件工程師

    上傳時間: 2013-11-17

    上傳用戶:cjf0304

  • 以ASAP光學模擬軟體來設計及建構顯示器背光源模組,並測試其可行性

    以ASAP光學模擬軟體來設計及建構顯示器背光源模組,並測試其可行性

    標簽: ASAP 可行性 背光源

    上傳時間: 2015-11-13

    上傳用戶:lacsx

  • MFC 視窗程式設計,視窗作業環境經多年試鍊

    MFC 視窗程式設計,視窗作業環境經多年試鍊,視窗應用程式於架構上已然出現了明顯的分類; 即便是架構不同,其間也存在著諸多共同點,例如:它們通常的都需要有功能表、 工具列等控制元件的設計,需要有用來動態管理資料的矩陣(arrays)、表列(lists) 等物件類別。

    標簽: MFC 程式

    上傳時間: 2016-12-30

    上傳用戶:lixinxiang

  • 德州儀器新款dsp TMS320F28335 看門狗程式設計,簡易重置看門狗計數功能,方便使用者開發程式!

    德州儀器新款dsp TMS320F28335 看門狗程式設計,簡易重置看門狗計數功能,方便使用者開發程式!

    標簽: F28335 28335 320F dsp

    上傳時間: 2013-12-20

    上傳用戶:woshini123456

  • 德州儀器新款DSP TMS320C2834X 晶片 eCAN程式設計.

    德州儀器新款DSP TMS320C2834X 晶片 eCAN程式設計.

    標簽: 2834X C2834 2834 320C

    上傳時間: 2013-12-22

    上傳用戶:13188549192

  • 德州儀器新款DSP TMS320C2834X 晶片 PWM 程式設計.

    德州儀器新款DSP TMS320C2834X 晶片 PWM 程式設計.

    標簽: 2834X C2834 2834 320C

    上傳時間: 2017-09-06

    上傳用戶:壞天使kk

  • 德州儀器新款DSP TMS320C2834X 晶片 SCI 自動 BAUD 偵測程式設計.

    德州儀器新款DSP TMS320C2834X 晶片 SCI 自動 BAUD 偵測程式設計.

    標簽: 2834X C2834 2834 320C

    上傳時間: 2013-12-01

    上傳用戶:ayfeixiao

  • 德州儀器新款DSP TMS320C2834X 晶片 DMA RAM 對 RAM 程式設計.

    德州儀器新款DSP TMS320C2834X 晶片 DMA RAM 對 RAM 程式設計.

    標簽: RAM 2834X C2834 2834

    上傳時間: 2017-09-06

    上傳用戶:ljt101007

  • 德州儀器新款DSP TMS320C2834X 晶片 SCI WATCH DOG 看門狗程式設計.

    德州儀器新款DSP TMS320C2834X 晶片 SCI WATCH DOG 看門狗程式設計.

    標簽: 2834X C2834 WATCH 2834

    上傳時間: 2014-01-15

    上傳用戶:gaome

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