數(shù)字觸摸屏測(cè)試方法
資源簡(jiǎn)介:數(shù)字觸摸屏測(cè)試方法
上傳時(shí)間: 2013-10-29
上傳用戶(hù):凌云御清風(fēng)
資源簡(jiǎn)介:現(xiàn)場(chǎng)可編程門(mén)陣列(FPGA)是一種新型器件,它將門(mén)陣列的通用結(jié)構(gòu)與現(xiàn)場(chǎng)可編程的特性結(jié)合于一體.如今,FPGA系列器件已成為最受歡迎的器件之一.隨著FPGA器件的廣泛應(yīng)用,它在數(shù)字系統(tǒng)中的作用日益變得重要,它所要求的準(zhǔn)確性也變得更高.因此,對(duì)FPGA器件的故障測(cè)試和故...
上傳時(shí)間: 2013-08-06
上傳用戶(hù):mdrd3080
資源簡(jiǎn)介:今天的電子電路(比如手機(jī)、服務(wù)器等領(lǐng)域)的切換速度、信號(hào)擺率比以前更高,同時(shí)芯片的封裝和信號(hào)擺幅卻越來(lái)越小,對(duì)噪聲更加敏感。因此,今天的電路設(shè)計(jì)者們比以前會(huì)更關(guān)心電源噪聲的影響。實(shí)時(shí)示波器是用來(lái)進(jìn)行電源噪聲測(cè)量的一種常用工具,但是如果使用方...
上傳時(shí)間: 2013-11-06
上傳用戶(hù):zq70996813
資源簡(jiǎn)介:AES(The Advanced Encryption Standard)是美國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)與技術(shù)研究所用于加密電子數(shù)據(jù)的規(guī)范。它被預(yù)期能成為人們公認(rèn)的加密包括金融、電信和政府?dāng)?shù)字信息的方法。本文展示了AES的概貌并解析了它使用的算法。包括一個(gè)完整的C#實(shí)現(xiàn)和加密.NET數(shù)據(jù)的舉例。在讀...
上傳時(shí)間: 2015-03-05
上傳用戶(hù):Breathe0125
資源簡(jiǎn)介:AES(The Advanced Encryption Standard)是美國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)與技術(shù)研究所用于加密電子數(shù)據(jù)的規(guī)范。它被預(yù)期能成為人們公認(rèn)的加密包括金融、電信和政府?dāng)?shù)字信息的方法。本文展示了AES的概貌并解析了它使用的算法。包括一個(gè)完整的C#實(shí)現(xiàn)和加密.NET數(shù)據(jù)的舉例。在讀...
上傳時(shí)間: 2015-03-29
上傳用戶(hù):葉山豪
資源簡(jiǎn)介:AES(The Advanced Encryption Standard)是美國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)與技術(shù)研究所用于加密電子數(shù)據(jù)的規(guī)范。它被預(yù)期能成為人們公認(rèn)的加密包括金融、電信和政府?dāng)?shù)字信息的方法。本文展示了AES的概貌并解析了它使用的算法。包括一個(gè)完整的C#實(shí)現(xiàn)和加密.NET數(shù)據(jù)的舉例。在讀...
上傳時(shí)間: 2015-04-01
上傳用戶(hù):我們的船長(zhǎng)
資源簡(jiǎn)介:家用電器安全標(biāo)準(zhǔn)和電氣安全性能簡(jiǎn)易測(cè)試方法
上傳時(shí)間: 2013-06-12
上傳用戶(hù):eeworm
資源簡(jiǎn)介:GB-T4677.3-1984 印制板拉脫強(qiáng)度測(cè)試方法
上傳時(shí)間: 2013-05-29
上傳用戶(hù):eeworm
資源簡(jiǎn)介:GB-T4677.5-1984 印制板翹曲度測(cè)試方法
上傳時(shí)間: 2013-06-12
上傳用戶(hù):eeworm
資源簡(jiǎn)介:GB-T4677.1-1984 印制板表層絕緣電阻測(cè)試方法
上傳時(shí)間: 2013-07-08
上傳用戶(hù):eeworm
資源簡(jiǎn)介:GB-T4677.23-1988 印制板阻燃性能測(cè)試方法
上傳時(shí)間: 2013-05-17
上傳用戶(hù):eeworm
資源簡(jiǎn)介:GB-T4677.2-1984 印制板金屬化孔鍍層厚度測(cè)試方法 微電阻法
上傳時(shí)間: 2013-05-24
上傳用戶(hù):eeworm
資源簡(jiǎn)介:GB-T4677.12-1988 印制板互連電阻測(cè)試方法
上傳時(shí)間: 2013-06-29
上傳用戶(hù):eeworm
資源簡(jiǎn)介:GB-T4677.8-1984 印制板鍍涂覆蓋厚度測(cè)試方法 β反向散射法
上傳時(shí)間: 2013-04-15
上傳用戶(hù):eeworm
資源簡(jiǎn)介:GB-T4677.13-1988 印制板金屬化空電阻的變化 熱循環(huán)測(cè)試方法
上傳時(shí)間: 2013-05-30
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資源簡(jiǎn)介:GB-T4677.9-1984 印制板鍍層空隙率電圖象測(cè)試方法
上傳時(shí)間: 2013-04-15
上傳用戶(hù):eeworm
資源簡(jiǎn)介:GB-T 11297.10-1989 熱釋電材料居里溫度 TC 的測(cè)試方法
上傳時(shí)間: 2013-05-27
上傳用戶(hù):eeworm
資源簡(jiǎn)介:GB-T4677.10-1984 印制板可焊性測(cè)試方法
上傳時(shí)間: 2013-04-15
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資源簡(jiǎn)介:GB-T4677.21-1988 印制板鍍層孔隙率測(cè)試方法 氣體暴露法
上傳時(shí)間: 2013-08-05
上傳用戶(hù):eeworm
資源簡(jiǎn)介:GB 4677.22-1988 印制板表面離子污染測(cè)試方法
上傳時(shí)間: 2013-07-30
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資源簡(jiǎn)介:GB-T4677.19-1988 印制板電路完善性測(cè)試方法
上傳時(shí)間: 2013-05-29
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資源簡(jiǎn)介:GB-T4677.4-1984 印制板抗剝強(qiáng)度測(cè)試方法
上傳時(shí)間: 2013-04-15
上傳用戶(hù):eeworm
資源簡(jiǎn)介:專(zhuān)輯類(lèi)-國(guó)標(biāo)類(lèi)相關(guān)專(zhuān)輯-313冊(cè)-701M GB-T4677.9-1984-印制板鍍層空隙率電圖象測(cè)試方法.pdf
上傳時(shí)間: 2013-07-30
上傳用戶(hù):agent
資源簡(jiǎn)介:專(zhuān)輯類(lèi)-國(guó)標(biāo)類(lèi)相關(guān)專(zhuān)輯-313冊(cè)-701M GB-T4677.21-1988-印制板鍍層孔隙率測(cè)試方法-氣體暴露法.pdf
上傳時(shí)間: 2013-04-24
上傳用戶(hù):sjyy1001
資源簡(jiǎn)介:專(zhuān)輯類(lèi)-國(guó)標(biāo)類(lèi)相關(guān)專(zhuān)輯-313冊(cè)-701M GB-T4677.1-1984-印制板表層絕緣電阻測(cè)試方法.pdf
上傳時(shí)間: 2013-04-24
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資源簡(jiǎn)介:專(zhuān)輯類(lèi)-國(guó)標(biāo)類(lèi)相關(guān)專(zhuān)輯-313冊(cè)-701M GB-T4677.2-1984-印制板金屬化孔鍍層厚度測(cè)試方法-微電阻法.pdf
上傳時(shí)間: 2013-04-24
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資源簡(jiǎn)介:專(zhuān)輯類(lèi)-國(guó)標(biāo)類(lèi)相關(guān)專(zhuān)輯-313冊(cè)-701M GB-T4677.12-1988-印制板互連電阻測(cè)試方法.pdf
上傳時(shí)間: 2013-05-25
上傳用戶(hù):yanming8525826
資源簡(jiǎn)介:專(zhuān)輯類(lèi)-國(guó)標(biāo)類(lèi)相關(guān)專(zhuān)輯-313冊(cè)-701M GB-T4677.5-1984-印制板翹曲度測(cè)試方法.pdf
上傳時(shí)間: 2013-04-24
上傳用戶(hù):ouyangtongze
資源簡(jiǎn)介:高性能ADC產(chǎn)品的出現(xiàn),給混合信號(hào)測(cè)試領(lǐng)域帶來(lái)前所未有的挑戰(zhàn)。并行ADC測(cè)試方案實(shí)現(xiàn)了多個(gè)ADC測(cè)試過(guò)程的并行化和實(shí)時(shí)化,減少了單個(gè)ADC的平均測(cè)試時(shí)間,從而降低ADC測(cè)試成本。 本文實(shí)現(xiàn)了基于FPGA的ADC并行測(cè)試方法。在閱讀相關(guān)文獻(xiàn)的基礎(chǔ)上,總結(jié)了常用ADC參...
上傳時(shí)間: 2013-07-11
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資源簡(jiǎn)介:高性能ADC產(chǎn)品的出現(xiàn),給混合信號(hào)測(cè)試領(lǐng)域帶來(lái)前所未有的挑戰(zhàn)。并行ADC測(cè)試方案實(shí)現(xiàn)了多個(gè)ADC測(cè)試過(guò)程的并行化和實(shí)時(shí)化,減少了單個(gè)ADC的平均測(cè)試時(shí)間,從而降低ADC測(cè)試成本。本文實(shí)現(xiàn)了基于FPGA的ADC并行測(cè)試方法。在閱讀相關(guān)文獻(xiàn)的基礎(chǔ)上,總結(jié)了常用ADC參...
上傳時(shí)間: 2013-06-07
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