射頻識(shí)別(Radio Frequency Identification，RFID)是一種允許非接觸式數(shù)據(jù)采集的自動(dòng)識(shí)別技術(shù)。其中工作在超高頻(Ultra High Frequency，UHF)頻段的無(wú)源RFID系統(tǒng)，由于在物流與供應(yīng)鏈管理等領(lǐng)域的潛在應(yīng)用，近年來(lái)得到了人們的廣泛關(guān)注。這種系統(tǒng)所使用的無(wú)源標(biāo)簽具有識(shí)別距離長(zhǎng)、體積小、成本低廉等突出特點(diǎn)。目前在市場(chǎng)上出現(xiàn)了各種品牌型號(hào)的UHF RFID無(wú)源標(biāo)簽，由于不同品牌型號(hào)的標(biāo)簽在設(shè)計(jì)與制造工藝上的差異，這些標(biāo)簽在性能表現(xiàn)上各不相同，這就給終端用戶選擇合適自己應(yīng)用的標(biāo)簽帶來(lái)了困難。RFID基準(zhǔn)測(cè)試就是在實(shí)際部署RFID系統(tǒng)前對(duì)RFID標(biāo)簽的性能進(jìn)行科學(xué)評(píng)估的有效手段。然而為了在常規(guī)實(shí)驗(yàn)室條件下得到準(zhǔn)確公正的測(cè)試結(jié)果，需要對(duì)基準(zhǔn)測(cè)試的性能指標(biāo)及測(cè)試方法學(xué)開展進(jìn)一步的研究。本文正是研究符合EPC Class1 Gen2標(biāo)準(zhǔn)的RFID標(biāo)簽基準(zhǔn)測(cè)試。 本文首先分析了當(dāng)前廣泛應(yīng)用的超高頻無(wú)源RFID標(biāo)簽基準(zhǔn)測(cè)試性能指標(biāo)與測(cè)試方法上的局限性與不足之處。例如，在真實(shí)的應(yīng)用環(huán)境中，由于受到各種環(huán)境因素的影響，對(duì)同一品牌型號(hào)的標(biāo)簽，很難得到一致的識(shí)讀距離測(cè)試結(jié)果。另外，在某些測(cè)試場(chǎng)景中，使用識(shí)讀速率作為測(cè)試指標(biāo)，所得到的測(cè)試結(jié)果數(shù)值非常接近，以致分辨度不足以區(qū)分不同品牌型號(hào)標(biāo)簽的性能差異。在這些分析基礎(chǔ)上，本文把路徑損耗引入了RFID基準(zhǔn)測(cè)試，通過(guò)有限點(diǎn)的測(cè)量與數(shù)據(jù)擬合分別得到不同類型標(biāo)簽的路徑損耗方程，結(jié)合讀寫器天線的輻射方向圖，進(jìn)一步得到各種標(biāo)簽受限于讀寫器接收靈敏度的覆蓋區(qū)域。無(wú)源標(biāo)簽由于其被動(dòng)式能量獲取方式，其實(shí)際工作區(qū)域仍然受限于前向鏈路。本文通過(guò)實(shí)驗(yàn)測(cè)試出這些標(biāo)簽的最小激活功率后，得出了各種標(biāo)簽在一定讀寫器發(fā)射功率下的激活區(qū)域。完成這些步驟后，根據(jù)這兩種區(qū)域的交集可以確定標(biāo)簽的工作區(qū)域，從而進(jìn)行標(biāo)簽間的比較并達(dá)到基準(zhǔn)測(cè)試的目的，并能找出限制標(biāo)簽工作范圍的瓶頸。 本文最后從功率損耗的角度研究了標(biāo)簽之間的相互干擾，為用戶在密集部署RFID標(biāo)簽的場(chǎng)景中設(shè)置標(biāo)簽之間的最小間隔距離具有重要的參考意義。
