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抗干擾設(shè)計

  • 標(biāo)準(zhǔn)GB17626.5-1999

    電磁兼容 試驗和測量技術(shù)浪涌(沖擊)抗擾度試驗,GB17626.5-1999,等同采用IEC61000-4-5:1995《電磁兼容 第4部分:試驗和測量技術(shù) 第5分部分:浪涌 (沖擊)抗擾度試驗》。從事相關(guān)工作的朋友值得參考。

    標(biāo)簽: 17626.5 1999 GB 標(biāo)準(zhǔn)

    上傳時間: 2013-05-19

    上傳用戶:youke111

  • 基于CCSDS算法的星載圖像壓縮系統(tǒng)

    CCSDS組織(空間數(shù)據(jù)系統(tǒng)咨詢委員會)于2005年公布了新的圖像壓縮標(biāo)準(zhǔn),該標(biāo)準(zhǔn)算法采用基于小波變換的比特平面編碼方法,支持無損有損壓縮編碼和精確碼率控制并具有較好的抗誤碼能力和非常高的圖像壓縮性能,能滿足實際應(yīng)用中的多種需求。同時該算法具有較低的算法復(fù)雜度,易于低功耗硬件實現(xiàn),并且對航天圖像具有較高的適應(yīng)性,因此,在航天應(yīng)用方面具有廣闊的前景。    本論文主要針對CCSDS圖像壓縮算法的FPGA硬件實現(xiàn),在有限的硬件資源下,提出高速高效的CCSDS圖像壓縮編碼器設(shè)計方案并在已有的FPGA硬件平臺上加以實現(xiàn)。本文首先對CCSDS圖像壓縮算法的編碼原理進(jìn)行詳細(xì)介紹;然后提出DWT、BPE和碼流組織這三大模塊的并行化硬件實現(xiàn)方案,并給出了進(jìn)行批量仿真測試的仿真平臺設(shè)計方案。最后在Xilinx VIRTEX-II FPGA平臺上經(jīng)過成功驗證,測試結(jié)果表明系統(tǒng)各項技術(shù)指標(biāo)可滿足星載圖像壓縮的要求。

    標(biāo)簽: CCSDS 算法 星載 圖像壓縮系統(tǒng)

    上傳時間: 2013-06-13

    上傳用戶:wanghui2438

  • 共模電感的設(shè)計

    要使EMI濾波器對EMI信號有最佳的衰減特性,設(shè)計與開關(guān)電源共模、差模噪聲等效電路端接的EMI濾波器時,就要分別設(shè)計抗共模干擾濾波器和抗差模干擾濾波器才能收到滿意的效果。

    標(biāo)簽: 共模電感

    上傳時間: 2013-06-25

    上傳用戶:linlin

  • 共模電感設(shè)計

    近年來,由于政府機(jī)構(gòu)或其他團(tuán)體對EMC(電磁兼容)日益重視,工程師們在設(shè)計產(chǎn) 品時亦是非常注意產(chǎn)品的輻射問題。特別值得一提的是:直流變換器很高的開關(guān)頻率及尖峰 脈沖斜波就是一典型的EMI(電磁干擾)。 共模電感就是一個重要的抗電磁干擾零件,它可以在一寬頻條件下提供非常高的阻 抗。大多數(shù)EMI 濾波器主要部件就是一共模電感。在此文中,主要介紹共模電感的設(shè)計及 磁芯選材問題。

    標(biāo)簽: 電感設(shè)計

    上傳時間: 2013-04-24

    上傳用戶:a155166

  • CIC濾波器的FPGA實現(xiàn)

    CIC濾波器的FPGA實現(xiàn)的一篇文章,軟件無線電中常用cic濾波器進(jìn)行采樣速率的轉(zhuǎn)換,很好的滿足了抗混疊效應(yīng)的要求

    標(biāo)簽: FPGA CIC 濾波器

    上傳時間: 2013-08-09

    上傳用戶:cc1

  • Allegro SPB V15.2 版新增功能

    15.2 已經(jīng)加入了有關(guān)貫孔及銲點的Z軸延遲計算功能. 先開啟 Setup - Constraints - Electrical constraint sets  下的 DRC 選項.  點選 Electrical Constraints dialog box 下 Options 頁面 勾選 Z-Axis delay欄. 

    標(biāo)簽: Allegro 15.2 SPB

    上傳時間: 2013-10-08

    上傳用戶:王慶才

  • 一種適用于射頻集成電路的抗擊穿LDMOS設(shè)計

    提出了一種具有深阱結(jié)構(gòu)的RF LDMOS,該結(jié)構(gòu)改善了表面電場分布,從而提高了器件的擊穿電壓。通過silvaco器件模擬軟件對該結(jié)構(gòu)進(jìn)行驗證,并對器件的摻雜濃度、阱寬、阱深、柵長進(jìn)行優(yōu)化,結(jié)果表明,在保證LDMOS器件參數(shù)不變的條件下,采用深阱工藝可使其擊穿電壓提升50%以上。

    標(biāo)簽: LDMOS 射頻集成電路 擊穿

    上傳時間: 2013-10-18

    上傳用戶:603100257

  • MT-017 過采樣插值DAC

    過采樣和數(shù)字濾波有助于降低對ADC前置的抗混疊濾波器的要求。重構(gòu)DAC可以通過類似的方式運用過采樣和插值原理。

    標(biāo)簽: 017 DAC MT 過采樣

    上傳時間: 2014-12-23

    上傳用戶:561596

  • 非均勻采樣的頻譜研究

    非均勻采樣的一個很大的優(yōu)點就是它具有抗頻率混疊的性能[ ],首先從均勻采樣討論由采樣而引起的頻譜混疊現(xiàn)象,在均勻采樣和非均勻采樣的頻譜圖對比中討論兩種采樣方式引起的不同的頻譜混疊現(xiàn)象,從對比中分析非均勻采樣方式的優(yōu)勢。從最簡單的非均勻采樣方法逐步深入到完全隨機(jī)的非均勻采樣方法,研究由于采樣方法的改變對數(shù)字信號頻譜的影響。最后可以看到非均勻采樣的方法可以將混疊信號的頻譜降低到完全不影響對真實信號的檢測。

    標(biāo)簽: 采樣 頻譜

    上傳時間: 2013-11-11

    上傳用戶:baby25825

  • 基于AD603程控寬帶放大器的設(shè)計

    本設(shè)計是采用AD603可控增益放大器芯片設(shè)計的一款高增益,高寬帶直流放大器,采用兩級級聯(lián)放大電路了,提高了放大增益,擴(kuò)展了通頻帶寬,而且具有良好的抗噪聲系數(shù),采用AT89S52芯片控制數(shù)模轉(zhuǎn)換(DAC0832芯片)進(jìn)行程控放大控制,在0—20MHz頻帶內(nèi),放大倍數(shù)在0-40dB之間進(jìn)行調(diào)節(jié),增益起伏為1dB。系統(tǒng)具有鍵盤輸入預(yù)置,增益可調(diào)和液晶顯示,具有很強的實際應(yīng)用能力。

    標(biāo)簽: 603 AD 程控 寬帶放大器

    上傳時間: 2013-11-03

    上傳用戶:zzbbqq99n

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