一级毛片久久久,成人免费a**址,国产精品v日韩精品v欧美精品网站

測試方法

測試方法（testmethod）是2005年公布的航天科學(xué)技術(shù)名詞。

光伏陣列ⅠⅤ特性曲線測試設(shè)備研究.rar

光伏陣列是光伏系統(tǒng)的重要組成部分，它決定了光伏系統(tǒng)的發(fā)電量，同時也是光伏系統(tǒng)成本的主要部分。因此合理配置光伏陣列，提高光伏陣列的利用效率一直是光伏系統(tǒng)設(shè)計的研究重點，也是降低光伏系統(tǒng)發(fā)電成本的重要措施。本文采用了可變電子負(fù)載現(xiàn)場測試方法，設(shè)計并研制出基于Philips公司的LPC2214的光伏陣列測試儀樣機。本文主要工作及創(chuàng)新在于： 1.在基于LPC2214測試控制部分的硬件電路設(shè)計中，為電壓和電流的采樣各設(shè)置了四路不同量程的采樣通道。采樣時系統(tǒng)自動選擇最合適的量程，提高電壓和電流大范圍測量時的精度； 2.通過對系統(tǒng)進行一次預(yù)采樣來確定光伏陣列的開路電壓和短路電流。預(yù)采樣的方法只需要使可變電子負(fù)載完成一次由阻值為零到阻值為無窮大的操作； 3.對測試得到的數(shù)據(jù)首先將電壓值進行從小到大的升序重組，其對應(yīng)的電流值采用lagrange中值法對進行數(shù)字濾波處理，從而消除由于偶然出現(xiàn)的脈沖性干擾所引起的采樣值偏差； 4.對輔助電源、測試控制電路和液晶顯示進行了一體化的設(shè)計，使光伏陣列特性的測量和顯示可以在本測試儀上一次完成； 5.本測試儀樣機可以利用光伏陣列的數(shù)學(xué)模型以及測量的實時數(shù)據(jù)對光伏陣列的特性曲線進行預(yù)估和分析。通過對光伏陣列進行實際測量，得到的實驗結(jié)果表明：該樣機測試系統(tǒng)運行穩(wěn)定、攜帶方便、測量精度較高、一次完整的測試只需14ms左右，測試速度快，并且測量得到的伏安特性可以在液晶上直接以曲線的形式顯示，使測得的陣列特性更為直觀，能滿足工程應(yīng)用的需要。

標(biāo)簽： 光伏陣列特性曲線測試設(shè)備

上傳時間： 2013-04-24

上傳用戶：fairy0212
PCB故障診斷路內(nèi)測試系統(tǒng)的研究.rar

電子功能模件是機電產(chǎn)品的基本組成部分，其水平高低直接決定整個機電產(chǎn)品的工作質(zhì)量。當(dāng)前PCB自動測試系統(tǒng)大多為歐美產(chǎn)品，價格相當(dāng)昂貴，遠遠超出我國中小電子企業(yè)的承受能力。為了提高我國中小企業(yè)電子設(shè)備的競爭力，本課題研發(fā)了適合于我國中小企業(yè)、價格低廉、使用方便的PCB路內(nèi)測試系統(tǒng)。本文首先詳細(xì)介紹了PCB各種檢測技術(shù)的原理和特點，然后根據(jù)本課題面向的用戶群和他們對PCB測試的需求，組建PCB內(nèi)測試系統(tǒng)。本系統(tǒng)基于虛擬儀器設(shè)計思想，以PCB上模擬電子器件、組合邏輯電路及由其構(gòu)成的功能模塊等為被測對象，包括路內(nèi)測試儀、邏輯分析單元、信號發(fā)生器、高速數(shù)據(jù)采集器、多路通道掃描器及針床。其中：路內(nèi)測試儀對不同被測對象選擇不同測試方法，采用電位隔離法實現(xiàn)了被測對象與PCB上其他元器件的隔離，并采用自適應(yīng)測試方法提高測試結(jié)果的準(zhǔn)確度。邏輯分析單元主要采用反向驅(qū)動技術(shù)測試常見的組合邏輯電路。信號發(fā)生器能同時產(chǎn)生兩路正弦波、方波、斜波、三角波等常用波形。數(shù)據(jù)采集器能同時采集四路信號，以USB接口與主機通訊。多路通道掃描器采用小型繼電器陣列來實現(xiàn)，可擴展性好。針床采用新型夾具，既保證接觸性能，又不至破壞觸點。實踐表明，本系統(tǒng)能對常用電子功能模件進行自動測試，基本達到了預(yù)期目標(biāo)。

標(biāo)簽： PCB 故障診斷測試系統(tǒng)

上傳時間： 2013-06-06

上傳用戶：klds
FPGA測試方法研究.rar

FPGA(Field Programmable Gate Arrays)是目前廣泛使用的一種可編程器件，F(xiàn)PGA的出現(xiàn)使得ASIC(Application Specific Integrated Circuits)產(chǎn)品的上市周期大大縮短，并且節(jié)省了大量的開發(fā)成本。目前FPGA的功能越來越強大，滿足了目前集成電路發(fā)展的新需求，但是其結(jié)構(gòu)同益復(fù)雜，規(guī)模也越來越大，內(nèi)部資源的種類也R益豐富，但同時也給測試帶來了困難，F(xiàn)PGA的發(fā)展對測試的要求越來越高，對FPGA測試的研究也就顯得異常重要。本文的主要工作是提出一種開關(guān)盒布線資源的可測性設(shè)計，通過在FPGA內(nèi)部加入一條移位寄存器鏈對開關(guān)盒進行配置編程，使得開關(guān)盒布線資源測試時間和測試成本減少了99％以上，而且所增加的芯片面積僅僅在5％左右，增加的邏輯資源對FPGA芯片的使用不會造成任何影響，這種方案采用了小規(guī)模電路進行了驗證，取得了很好的結(jié)果，是一種可行的測試方案。本文的另一工作是采用一種FPGA邏輯資源的測試算法對自主研發(fā)的FPGA芯片F(xiàn)DP250K的邏輯資源進行了嚴(yán)格、充分的測試，從FPGA最小的邏輯單元LC開始，首先得到一個LC的測試配置，再結(jié)合SLICE內(nèi)部兩個LC的連接關(guān)系得到一個SLICE邏輯單元的4種測試配置，并且采用陣列化的測試方案，同時測試芯片內(nèi)部所有的邏輯單元，使得FPGA內(nèi)部的邏輯資源得完全充分的測試，測試的故障覆蓋率可達100％，測試配置由配套編程工具產(chǎn)生，測試取得了完滿的結(jié)果。

標(biāo)簽： FPGA 測試方法研究

上傳時間： 2013-06-11

上傳用戶：唐僧他不信佛
FPGA的測試

隨著FPGA(FieldProgrammableGateArray)器件的應(yīng)用越來越廣泛且重要，F(xiàn)PGA的測試技術(shù)也得到了廣泛重視和研究。基于FPGA可編程的特性，應(yīng)用獨立的測試(工廠測試)需要設(shè)計數(shù)個測試編程和測試向量來完成FPGA的測試，確保芯片在任何用戶可能的編程下都可靠工作。本論文正是針對上述問題，以XilinxXC4000E系列FPGA為主要的研究對象，在詳細(xì)研究FPGA內(nèi)部結(jié)構(gòu)的基礎(chǔ)上，基于“分治法”的基本思路對FPGA的測試?yán)碚摵头椒ㄗ隽颂剿餍匝芯俊?研究完成了對可編程邏輯模塊(ConfigrableLogicBlock)及其子模塊的測試。主要基于“分治法”對CLB及其子模塊進位邏輯(CLM)、查找表(LUT)的RAM工作模式等進行了測試劃分，分別實現(xiàn)了以“一維陣列”為基礎(chǔ)的測試配置和測試向量，以較少了測試編程次數(shù)完成了所有CLB資源的測試。研究完成了對互連資源(ConfigrableInterconnectResource)的測試。基于普通數(shù)據(jù)總線的測試方法，針對互連資源主要由線段和NMOS開關(guān)管組成的特點及其自身的故障模型，通過手工連線實現(xiàn)測試配置，僅通過4次編程就實現(xiàn)了對其完全測試。在測試?yán)碚撗芯康幕A(chǔ)上，我們開發(fā)了能對FPGA器件進行實際測試的測試平臺。基于硬件仿真器的測試平臺通過高速光纖連接工作站上的EDA仿真軟件，把軟件語言描述的測試波形通過硬件仿真器轉(zhuǎn)化為真實測試激勵，測試響應(yīng)再讀回到仿真軟件進行觀察，能夠靈活、快速的完成FPGA器件的配置和測試。該平臺在國內(nèi)首次實現(xiàn)了軟硬件協(xié)同在線測試FPGA。在該平臺支持下，我們成功完成了對各軍、民用型號FPGA的測試任務(wù)。本研究成果為國內(nèi)自主研發(fā)FPGA器件提供了有力保障，具有重大科研與實踐價值，成功解決了國外公司在FPGA測試技術(shù)上的壟斷問題，幫助國產(chǎn)FPGA器件實現(xiàn)完全國產(chǎn)化。

標(biāo)簽： FPGA 測試

上傳時間： 2013-05-17

上傳用戶：wangyi39
基于ARMLinux的嵌入式系統(tǒng)軟件測試研究與應(yīng)用

隨著人們對軟件產(chǎn)品質(zhì)量要求的不斷提高,軟件測試技術(shù)得到越來越多的重視和應(yīng)用。本文深入研究嵌入式軟件的測試技術(shù),并將研究成果應(yīng)用到測試實踐中。論文的主要工作有：嵌入式軟件作為一種特殊的軟件,符合軟件的大多數(shù)特征,要研究嵌入式軟件測試就必須先了解軟件測試。本文研究了軟件測試基本理論和通用測試技術(shù),對當(dāng)前國內(nèi)外軟件測試研究現(xiàn)狀和熱點做了綜合分析,為下一步研究工作打下了測試?yán)碚摶A(chǔ)。同時,針對嵌入式系統(tǒng)軟件的特點,研究了針對于嵌入式系統(tǒng)的軟件測試技術(shù),分析了嵌入式系統(tǒng)軟件的特征及測試要求。構(gòu)建了針對嵌入式系統(tǒng)軟件測試的完備的測試策略是本文的重點之一。它旨在建立符合嵌入式系統(tǒng)軟件特性的測試策略。包括測試模型的建立、單元測試、軟件集成測試、軟件與硬件集成測試、系統(tǒng)測試、確認(rèn)測試及回歸測試。通過對嵌入式系統(tǒng)軟件測試的研究,實現(xiàn)了對嵌入式系統(tǒng)軟件測試策略的優(yōu)化。在對建立嵌入式系統(tǒng)軟件測試環(huán)境的研究中,應(yīng)用了交叉開發(fā)測試環(huán)境的概念并研究了基于駐留監(jiān)控軟件、指令集模擬器以及基于JTAG的調(diào)試代理的交叉測試方法。最后搭建了基于ARM-Linux的嵌入式系統(tǒng)軟件測試環(huán)境。依據(jù)嵌入式系統(tǒng)軟件測試的策略并根據(jù)語言學(xué)習(xí)系統(tǒng)的特點進行了有針對性的測試。在針對語言學(xué)習(xí)系統(tǒng)進行的軟件測試設(shè)計和測試實施全過程中,驗證了所提出的測試策略和測試模型,確保語言學(xué)習(xí)系統(tǒng)的軟件質(zhì)量的同時提高了測試效率。

標(biāo)簽： ARMLinux 嵌入式系統(tǒng) 軟件測試

上傳時間： 2013-04-24

上傳用戶：qweqweqwe
FPGA軟硬件性能基準(zhǔn)測試的研究

現(xiàn)場可編程門陣列FPGA具有性能好、規(guī)模大、可重復(fù)編程、開發(fā)投資小等優(yōu)點，在現(xiàn)代電子產(chǎn)品中應(yīng)用得越來越廣泛。隨著微電子技術(shù)的高速發(fā)展，成本的不斷下降，F(xiàn)PGA正逐漸成為各種電子產(chǎn)品不可或缺的重要部件。 FPGA軟件復(fù)雜的設(shè)置和不同的算法、FPGA硬件多樣的結(jié)構(gòu)和豐富的功能、各個廠商互不兼容的軟硬件等差異，都不僅使如何挑選合適的軟硬件用于產(chǎn)品設(shè)計成為FPGA用戶棘手的問題，而且使構(gòu)造一個精確合理的FPGA軟硬件性能的測試方法變得十分復(fù)雜。基準(zhǔn)測試是用一個基準(zhǔn)設(shè)計集按照統(tǒng)一的測試規(guī)范評估和量化目標(biāo)系統(tǒng)的軟件或硬件性能，是目前計算機領(lǐng)域應(yīng)用最廣泛、最主要的性能測試技術(shù)。通過分析影響FPGA軟硬件性能基準(zhǔn)測試的諸多因素，比如基準(zhǔn)設(shè)計的挑選、基準(zhǔn)設(shè)計的優(yōu)化，F(xiàn)PGA軟件的設(shè)置和約等，本文基于設(shè)計和硬件分類、優(yōu)化策略分類的基準(zhǔn)測試規(guī)范，提出了一組詳盡的度量指標(biāo)。基準(zhǔn)測試的規(guī)范如下，首先根據(jù)測試目的配置測試環(huán)境、挑選基準(zhǔn)設(shè)計和硬件分類，針對不同的FPGA軟硬件優(yōu)化基準(zhǔn)設(shè)計，然后按照速度優(yōu)先最少優(yōu)化、速度優(yōu)先最大優(yōu)化、資源和功耗優(yōu)先最少優(yōu)化、資源和功耗優(yōu)先最大優(yōu)化四種優(yōu)化策略分別編譯基準(zhǔn)設(shè)計，并收集延時、成本、功耗和編譯時間這四種性能數(shù)據(jù)，最后使用速度優(yōu)先最少優(yōu)化下的性能集、速度優(yōu)先最少優(yōu)化性能集、資源和功耗優(yōu)先最少優(yōu)化下的性能集、資源和功耗優(yōu)先最大優(yōu)化下的性能集、速度優(yōu)先最少和最大優(yōu)化之間性能集的差、速度優(yōu)先最少優(yōu)化下性能集的比較等十個度量指標(biāo)量化性能，生成測試報告。最后，本基準(zhǔn)測試規(guī)范被應(yīng)用于評估和比較Altera和Xilinx兩廠商軟硬件在低成本領(lǐng)域帶處理器應(yīng)用方面的性能。

標(biāo)簽： FPGA 軟硬件性能基準(zhǔn)測試

上傳時間： 2013-04-24

上傳用戶：zhangyi99104144
基于FPGA的可測性設(shè)計方法研究

現(xiàn)場可編程門陣列(FPGA)是一種現(xiàn)場可編程專用集成電路，它將門陣列的通用結(jié)構(gòu)與現(xiàn)場可編程的特性結(jié)合于一體，如今，F(xiàn)PGA系列器件已成為最受歡迎的器件之一。隨著FPGA器件的廣泛應(yīng)用，它在數(shù)字系統(tǒng)中的作用日益變得重要，它所要求的準(zhǔn)確性也變得更高。因此，對FPGA器件的故障測試和故障診斷方法進行更全面的研究具有重要意義。隨著FPGA器件的迅速發(fā)展，F(xiàn)PGA的密度和復(fù)雜程度也越來越高，使大量的故障難以使用傳統(tǒng)方法進行測試，所以人們把視線轉(zhuǎn)向了可測性設(shè)計(DFT)問題。可測性設(shè)計的提出為解決測試問題開辟了新的有效途徑，而邊界掃描測試方法是其中一個重要的技術(shù)。本文對FPGA的故障模型及其測試技術(shù)和邊界掃描測試的相關(guān)理論與方法進行了詳細(xì)的探討，給出了利用布爾矩陣?yán)碚摻⒌倪吔鐠呙铚y試過程的數(shù)學(xué)描述和數(shù)學(xué)模型。論文中首先討論邊界掃描測試中的測試優(yōu)化問題，總結(jié)解決兩類優(yōu)化問題的現(xiàn)有算法，分別對它們的優(yōu)缺點進行了對比，進而提出對兩種現(xiàn)有算法的改進思想，并且比較了改進前后優(yōu)化算法的性能。另外，本文還對FPGA連線資源中基于邊界掃描測試技術(shù)的自適應(yīng)完備診斷算法進行了深入研究。在研究過程中，本文基于自適應(yīng)完備診斷的思想對原有自適應(yīng)診斷算法的性能進行了分析，并將獨立測試集和測試矩陣的概念引入原有自適應(yīng)診斷算法中，使改進后的優(yōu)化算法能夠簡化原算法的實現(xiàn)過程，并實現(xiàn)完備診斷的目標(biāo)。最后利用測試仿真模型證明了優(yōu)化算法能夠更有效地實現(xiàn)完備診斷的目標(biāo)，在緊湊性指標(biāo)與測試復(fù)雜性方面比現(xiàn)在算法均有所改進，實現(xiàn)了算法的優(yōu)化。

標(biāo)簽： FPGA 可測性設(shè)計方法研究

上傳時間： 2013-06-30

上傳用戶：不挑食的老鼠
FPGA測試方法研究

FPGA(Field Programmable Gate Arrays)是目前廣泛使用的一種可編程器件，F(xiàn)PGA的出現(xiàn)使得ASIC(Application Specific Integrated Circuits)產(chǎn)品的上市周期大大縮短，并且節(jié)省了大量的開發(fā)成本。目前FPGA的功能越來越強大，滿足了目前集成電路發(fā)展的新需求，但是其結(jié)構(gòu)同益復(fù)雜，規(guī)模也越來越大，內(nèi)部資源的種類也R益豐富，但同時也給測試帶來了困難，F(xiàn)PGA的發(fā)展對測試的要求越來越高，對FPGA測試的研究也就顯得異常重要。本文的主要工作是提出一種開關(guān)盒布線資源的可測性設(shè)計，通過在FPGA內(nèi)部加入一條移位寄存器鏈對開關(guān)盒進行配置編程，使得開關(guān)盒布線資源測試時間和測試成本減少了99％以上，而且所增加的芯片面積僅僅在5％左右，增加的邏輯資源對FPGA芯片的使用不會造成任何影響，這種方案采用了小規(guī)模電路進行了驗證，取得了很好的結(jié)果，是一種可行的測試方案。本文的另一工作是采用一種FPGA邏輯資源的測試算法對自主研發(fā)的FPGA芯片F(xiàn)DP250K的邏輯資源進行了嚴(yán)格、充分的測試，從FPGA最小的邏輯單元LC開始，首先得到一個LC的測試配置，再結(jié)合SLICE內(nèi)部兩個LC的連接關(guān)系得到一個SLICE邏輯單元的4種測試配置，并且采用陣列化的測試方案，同時測試芯片內(nèi)部所有的邏輯單元，使得FPGA內(nèi)部的邏輯資源得完全充分的測試，測試的故障覆蓋率可達100％，測試配置由配套編程工具產(chǎn)生，測試取得了完滿的結(jié)果。

標(biāo)簽： FPGA 測試方法研究

上傳時間： 2013-06-29

上傳用戶：Thuan
AN-835高速ADC測試和評估

本應(yīng)用筆記將介紹ADI公司高速轉(zhuǎn)換器部門用來評估高速ADC的特征測試和生產(chǎn)測試方法。本應(yīng)用筆記僅供參考，不能替代產(chǎn)品數(shù)據(jù)手冊

標(biāo)簽： 835 ADC AN 測試

上傳時間： 2014-12-23

上傳用戶：zhaiye
吐血推薦《開關(guān)電源常規(guī)測試項目》

詳細(xì)介紹開關(guān)電源常規(guī)測試項目以及測試方法

標(biāo)簽： 開關(guān)電源常規(guī)測試項目

上傳時間： 2013-11-17

上傳用戶：秦莞爾w