?? 芯片測試技術資料

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芯片測試，設計初期系統級芯片測試。SoC的基礎是深亞微米工藝，因此，對Soc器件的測試需要采用全新的方法。由于每個功能元件都有其自身的測試要求，設計工程師必須在設計初期就做出測試規劃。

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BU-61580芯片測試系統用于檢測DDC公司的BU-61580系列芯片的總線協議功能和電氣特性，篩選失效芯片，并具備芯片接口時序調整功能，可檢驗芯片在不同的接口環境和工作方式下的特殊表現。以Windows XP為開發平臺，標準VC++為開發工具，針對該芯片設計一套測試系統。PCI總線接口的專用芯片...

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