演算法是指利用電腦解決問題所需要的具體方法和步驟。也就是說給定初始狀態或輸入數據,經過電腦程序的有限次運算,能夠得出所要求或期望的終止狀態或輸出數據。本書介紹電腦科學中重要的演算法及其分析與設計技術
標簽: 算法
上傳時間: 2017-06-09
上傳用戶:wys0120
文件中詳細介紹 FLIR 雷達產品的各項技術數據
上傳時間: 2015-03-18
上傳用戶:戴斗笠的神秘人
文件中詳細列舉出FLIR雷達產品所使用的頻率波段以及發射功率資訊!
上傳時間: 2015-03-18
上傳用戶:戴斗笠的神秘人
放墨香商業版本, 巨陵-蠻牛掉元寶,願意打的就是高手 開放包袱商人會帶備稀而物品給各位大俠購買 本服轉身請登入官網轉身 本服遊戲幣個人上限是40億 如果帶多了 轉圖重登都會變回40億 全球最強防外掛系統,打造2016年最公平的墨湘 本服承諾,絕無任何嚴重bug,保證遊戲穩定運行 本服禁止空白名,定期自動清理帶空名的玩家
標簽: 墨香
上傳時間: 2016-04-11
上傳用戶:西子灣灣
在互補式金氧半(CMOS)積體電路中,隨著量產製程的演進,元件的尺寸已縮減到深次微 米(deep-submicron)階段,以增進積體電路(IC)的性能及運算速度,以及降低每顆晶片的製造 成本。但隨著元件尺寸的縮減,卻出現一些可靠度的問題。 在次微米技術中,為了克服所謂熱載子(Hot-Carrier)問題而發展出 LDD(Lightly-Doped Drain) 製程與結構; 為了降低 CMOS 元件汲極(drain)與源極(source)的寄生電阻(sheet resistance) Rs 與 Rd,而發展出 Silicide 製程; 為了降低 CMOS 元件閘級的寄生電阻 Rg,而發展出 Polycide 製 程 ; 在更進步的製程中把 Silicide 與 Polycide 一起製造,而發展出所謂 Salicide 製程
標簽: Protection CMOS ESD ICs in
上傳時間: 2020-06-05
上傳用戶:shancjb
:::::::讀心術::::::: “吉普賽人祖傳的神奇讀心術.它能測算出你的內心感應”
標簽:
上傳時間: 2015-08-27
上傳用戶:s363994250
適合初學者學習使用與學習的範例.包含範圍. 1.RPG行走模式 2.npc置放方法. 3.外部地圖的讀入方式.使用-字串-讀入. 4.物件化的邊界判斷! 5.超簡潔邊界與碰撞偵測 使物件化產生的npc依然保有邊界判斷的能力而不是只仰賴主程式的碰撞偵測. 此亦為完整使用物件的概念.故易於學習. 使用game api支援! 故延伸性非常高~ 請使用sun J2ME Wireless Toolkit運行 (直接將本資料夾置入Wireless Toolkit裡的apps資料夾即可)
上傳時間: 2014-01-01
上傳用戶:gengxiaochao
PCB LAYOUT 術語解釋(TERMS)1. COMPONENT SIDE(零件面、正面)︰大多數零件放置之面。2. SOLDER SIDE(焊錫面、反面)。3. SOLDER MASK(止焊膜面)︰通常指Solder Mask Open 之意。4. TOP PAD︰在零件面上所設計之零件腳PAD,不管是否鑽孔、電鍍。5. BOTTOM PAD:在銲錫面上所設計之零件腳PAD,不管是否鑽孔、電鍍。6. POSITIVE LAYER:單、雙層板之各層線路;多層板之上、下兩層線路及內層走線皆屬之。7. NEGATIVE LAYER:通常指多層板之電源層。8. INNER PAD:多層板之POSITIVE LAYER 內層PAD。9. ANTI-PAD:多層板之NEGATIVE LAYER 上所使用之絕緣範圍,不與零件腳相接。10. THERMAL PAD:多層板內NEGATIVE LAYER 上必須零件腳時所使用之PAD,一般稱為散熱孔或導通孔。11. PAD (銲墊):除了SMD PAD 外,其他PAD 之TOP PAD、BOTTOM PAD 及INNER PAD 之形狀大小皆應相同。12. Moat : 不同信號的 Power& GND plane 之間的分隔線13. Grid : 佈線時的走線格點2. Test Point : ATE 測試點供工廠ICT 測試治具使用ICT 測試點 LAYOUT 注意事項:PCB 的每條TRACE 都要有一個作為測試用之TEST PAD(測試點),其原則如下:1. 一般測試點大小均為30-35mil,元件分布較密時,測試點最小可至30mil.測試點與元件PAD 的距離最小為40mil。2. 測試點與測試點間的間距最小為50-75mil,一般使用75mil。密度高時可使用50mil,3. 測試點必須均勻分佈於PCB 上,避免測試時造成板面受力不均。4. 多層板必須透過貫穿孔(VIA)將測試點留於錫爐著錫面上(Solder Side)。5. 測試點必需放至於Bottom Layer6. 輸出test point report(.asc 檔案powerpcb v3.5)供廠商分析可測率7. 測試點設置處:Setuppadsstacks
上傳時間: 2013-10-22
上傳用戶:pei5
PCB LAYOUT 術語解釋(TERMS)1. COMPONENT SIDE(零件面、正面)︰大多數零件放置之面。2. SOLDER SIDE(焊錫面、反面)。3. SOLDER MASK(止焊膜面)︰通常指Solder Mask Open 之意。4. TOP PAD︰在零件面上所設計之零件腳PAD,不管是否鑽孔、電鍍。5. BOTTOM PAD:在銲錫面上所設計之零件腳PAD,不管是否鑽孔、電鍍。6. POSITIVE LAYER:單、雙層板之各層線路;多層板之上、下兩層線路及內層走線皆屬之。7. NEGATIVE LAYER:通常指多層板之電源層。8. INNER PAD:多層板之POSITIVE LAYER 內層PAD。9. ANTI-PAD:多層板之NEGATIVE LAYER 上所使用之絕緣範圍,不與零件腳相接。10. THERMAL PAD:多層板內NEGATIVE LAYER 上必須零件腳時所使用之PAD,一般稱為散熱孔或導通孔。11. PAD (銲墊):除了SMD PAD 外,其他PAD 之TOP PAD、BOTTOM PAD 及INNER PAD 之形狀大小皆應相同。12. Moat : 不同信號的 Power& GND plane 之間的分隔線13. Grid : 佈線時的走線格點2. Test Point : ATE 測試點供工廠ICT 測試治具使用ICT 測試點 LAYOUT 注意事項:PCB 的每條TRACE 都要有一個作為測試用之TEST PAD(測試點),其原則如下:1. 一般測試點大小均為30-35mil,元件分布較密時,測試點最小可至30mil.測試點與元件PAD 的距離最小為40mil。2. 測試點與測試點間的間距最小為50-75mil,一般使用75mil。密度高時可使用50mil,3. 測試點必須均勻分佈於PCB 上,避免測試時造成板面受力不均。4. 多層板必須透過貫穿孔(VIA)將測試點留於錫爐著錫面上(Solder Side)。5. 測試點必需放至於Bottom Layer6. 輸出test point report(.asc 檔案powerpcb v3.5)供廠商分析可測率7. 測試點設置處:Setuppadsstacks
上傳時間: 2013-11-17
上傳用戶:cjf0304
面 向 綜 合 網 絡 的 JAIN API 將 業 務 便 捷 性、 網 絡 匯 聚 以 及 安 全 的 網 絡 接 入 帶 給 電 話 和 數 據 網 絡。JAIN 技 術 為 公 共 交 換 電 話 網 (PSTN)、IP 網 和 無 線 網 的 業 務 創 建 提 供 了 新 水 平 的 抽 象 能 力 及 相 關 的 Java 接 口, 使 IP 與 IN (智 能 網) 的 整 合 成 為 可 能。 這 被 成 為 綜 合 網。 由 于 JAIN API 包 含 對 網 絡 內 部 資 源 的 安 全 接 入, 這 就 創 造 了 推 出 成 千 上 萬 新 業 務 的 機 遇, 超 越 當 前 實 現 的 數 十 種 業 務
上傳時間: 2013-12-22
上傳用戶:wang0123456789