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PCB LAYOUT 術(shù)語(yǔ)解釋(TERMS)1. COMPONENT SIDE(零件面、正面)︰大多數(shù)零件放置之面。2. SOLDER SIDE(焊錫面、反面)。3. SOLDER MASK(止焊膜面)︰通常指Solder Mask Open 之意。4. TOP PAD︰在零件面上所設(shè)計(jì)之零件腳PAD，不管是否鑽孔、電鍍。5. BOTTOM PAD：在銲錫面上所設(shè)計(jì)之零件腳PAD，不管是否鑽孔、電鍍。6. POSITIVE LAYER：?jiǎn)巍㈦p層板之各層線路；多層板之上、下兩層線路及內(nèi)層走線皆屬之。7. NEGATIVE LAYER：通常指多層板之電源層。8. INNER PAD：多層板之POSITIVE LAYER 內(nèi)層PAD。9. ANTI-PAD：多層板之NEGATIVE LAYER 上所使用之絕緣範(fàn)圍，不與零件腳相接。10. THERMAL PAD：多層板內(nèi)NEGATIVE LAYER 上必須零件腳時(shí)所使用之PAD，一般稱(chēng)為散熱孔或?qū)住?1. PAD (銲墊)：除了SMD PAD 外，其他PAD 之TOP PAD、BOTTOM PAD 及INNER PAD 之形狀大小皆應(yīng)相同。12. Moat : 不同信號(hào)的 Power& GND plane 之間的分隔線13. Grid : 佈線時(shí)的走線格點(diǎn)2. Test Point : ATE 測(cè)試點(diǎn)供工廠ICT 測(cè)試治具使用ICT 測(cè)試點(diǎn) LAYOUT 注意事項(xiàng):PCB 的每條TRACE 都要有一個(gè)作為測(cè)試用之TEST PAD(測(cè)試點(diǎn))，其原則如下：1. 一般測(cè)試點(diǎn)大小均為30-35mil，元件分布較密時(shí)，測(cè)試點(diǎn)最小可至30mil.測(cè)試點(diǎn)與元件PAD 的距離最小為40mil。2. 測(cè)試點(diǎn)與測(cè)試點(diǎn)間的間距最小為50-75mil，一般使用75mil。密度高時(shí)可使用50mil,3. 測(cè)試點(diǎn)必須均勻分佈於PCB 上，避免測(cè)試時(shí)造成板面受力不均。4. 多層板必須透過(guò)貫穿孔(VIA)將測(cè)試點(diǎn)留於錫爐著錫面上(Solder Side)。5. 測(cè)試點(diǎn)必需放至於Bottom Layer6. 輸出test point report(.asc 檔案powerpcb v3.5)供廠商分析可測(cè)率7. 測(cè)試點(diǎn)設(shè)置處:Setuppadsstacks
標(biāo)簽：
layout
design
pcb
硬件工程師
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2013-10-22
上傳用戶(hù)：pei5
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電路板故障分析
維修方式介紹
ASA維修技術(shù)
ICT維修技術(shù)
沒(méi)有線路圖,無(wú)從修起
電路板太複雜,維修困難
維修經(jīng)驗(yàn)及技術(shù)不足
無(wú)法維修的死板,廢棄可惜
送電中作動(dòng)態(tài)維修,危險(xiǎn)性極高
備份板太多,積壓資金
送國(guó)外維修費(fèi)用高,維修時(shí)間長(zhǎng)
對(duì)老化零件無(wú)從查起無(wú)法預(yù)先更換
維修速度及效率無(wú)法提升,造成公司負(fù)擔(dān),客戶(hù)埋怨
投資大量維修設(shè)備,操作複雜,績(jī)效不彰
標(biāo)簽：
電路板維修
技術(shù)資料
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2013-10-26
上傳用戶(hù)：neu_liyan
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具備處理外部模擬信號(hào)功能是很多電子設(shè)備的基本要求。為了將模擬信號(hào)轉(zhuǎn)換為數(shù)字信 號(hào)，就需要藉助A/D 轉(zhuǎn)換器。將A/D 功能和MCU 整合在一起，就可減少電路的元件數(shù)量和 電路板的空間使用。 HT45F23 微控制器內(nèi)建6 通道，12 位解析度的A/D 轉(zhuǎn)換器。在本應(yīng)用說(shuō)明中，將介紹如何 使用HT45F23 微控制器的A/D 功能。
標(biāo)簽：
45F
F23
ADC
HT
上傳時(shí)間：
2013-10-27
上傳用戶(hù)：nostopper
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電路板故障分析
維修方式介紹
ASA維修技術(shù)
ICT維修技術(shù)
沒(méi)有線路圖,無(wú)從修起
電路板太複雜,維修困難
維修經(jīng)驗(yàn)及技術(shù)不足
無(wú)法維修的死板,廢棄可惜
送電中作動(dòng)態(tài)維修,危險(xiǎn)性極高
備份板太多,積壓資金
送國(guó)外維修費(fèi)用高,維修時(shí)間長(zhǎng)
對(duì)老化零件無(wú)從查起無(wú)法預(yù)先更換
維修速度及效率無(wú)法提升,造成公司負(fù)擔(dān),客戶(hù)埋怨
投資大量維修設(shè)備,操作複雜,績(jī)效不彰
標(biāo)簽：
電路板維修
技術(shù)資料
上傳時(shí)間：
2013-11-09
上傳用戶(hù)：chengxin
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PCB LAYOUT 術(shù)語(yǔ)解釋(TERMS)1. COMPONENT SIDE(零件面、正面)︰大多數(shù)零件放置之面。2. SOLDER SIDE(焊錫面、反面)。3. SOLDER MASK(止焊膜面)︰通常指Solder Mask Open 之意。4. TOP PAD︰在零件面上所設(shè)計(jì)之零件腳PAD，不管是否鑽孔、電鍍。5. BOTTOM PAD：在銲錫面上所設(shè)計(jì)之零件腳PAD，不管是否鑽孔、電鍍。6. POSITIVE LAYER：?jiǎn)巍㈦p層板之各層線路；多層板之上、下兩層線路及內(nèi)層走線皆屬之。7. NEGATIVE LAYER：通常指多層板之電源層。8. INNER PAD：多層板之POSITIVE LAYER 內(nèi)層PAD。9. ANTI-PAD：多層板之NEGATIVE LAYER 上所使用之絕緣範(fàn)圍，不與零件腳相接。10. THERMAL PAD：多層板內(nèi)NEGATIVE LAYER 上必須零件腳時(shí)所使用之PAD，一般稱(chēng)為散熱孔或?qū)住?1. PAD (銲墊)：除了SMD PAD 外，其他PAD 之TOP PAD、BOTTOM PAD 及INNER PAD 之形狀大小皆應(yīng)相同。12. Moat : 不同信號(hào)的 Power& GND plane 之間的分隔線13. Grid : 佈線時(shí)的走線格點(diǎn)2. Test Point : ATE 測(cè)試點(diǎn)供工廠ICT 測(cè)試治具使用ICT 測(cè)試點(diǎn) LAYOUT 注意事項(xiàng):PCB 的每條TRACE 都要有一個(gè)作為測(cè)試用之TEST PAD(測(cè)試點(diǎn))，其原則如下：1. 一般測(cè)試點(diǎn)大小均為30-35mil，元件分布較密時(shí)，測(cè)試點(diǎn)最小可至30mil.測(cè)試點(diǎn)與元件PAD 的距離最小為40mil。2. 測(cè)試點(diǎn)與測(cè)試點(diǎn)間的間距最小為50-75mil，一般使用75mil。密度高時(shí)可使用50mil,3. 測(cè)試點(diǎn)必須均勻分佈於PCB 上，避免測(cè)試時(shí)造成板面受力不均。4. 多層板必須透過(guò)貫穿孔(VIA)將測(cè)試點(diǎn)留於錫爐著錫面上(Solder Side)。5. 測(cè)試點(diǎn)必需放至於Bottom Layer6. 輸出test point report(.asc 檔案powerpcb v3.5)供廠商分析可測(cè)率7. 測(cè)試點(diǎn)設(shè)置處:Setuppadsstacks
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pcb
硬件工程師
上傳時(shí)間：
2013-11-17
上傳用戶(hù)：cjf0304
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LCS（最長(zhǎng)公共子序列）問(wèn)題可以簡(jiǎn)單地描述如下：
一個(gè)給定序列的子序列是在該序列中刪去若干元素后得到的序列。給定兩個(gè)序列X和Y，當(dāng)另一序列Z既是X的子序列又是Y的子序列時(shí)，稱(chēng)Z是序列X和Y的公共子序列。例如，若X={A，B，C，B，D，B，A}，Y={B，D，C，A，B，A}，則序列{B，C，A}是X和Y的一個(gè)公共子序列，但它不是X和Y的一個(gè)最長(zhǎng)公共子序列。序列{B，C，B，A}也是X和Y的一個(gè)公共子序列，它的長(zhǎng)度為4，而且它是X和Y的一個(gè)最長(zhǎng)公共子序列，因?yàn)閄和Y沒(méi)有長(zhǎng)度大于4的公共子序列。
最長(zhǎng)公共子序列問(wèn)題就是給定兩個(gè)序列X={x1,x2,...xm}和Y={y1,y2,...yn}，找出X和Y的一個(gè)最長(zhǎng)公共子序列。對(duì)于這個(gè)問(wèn)題比較容易想到的算法是窮舉，對(duì)X的所有子序列，檢查它是否也是Y的子序列，從而確定它是否為X和Y的公共子序列，并且在檢查過(guò)程中記錄最長(zhǎng)的公共子序列。X的所有子序列都檢查過(guò)后即可求出X和Y的最長(zhǎng)公共子序列。X的每個(gè)子序列相應(yīng)于下標(biāo)集{1,2,...,m}的一個(gè)子集。因此，共有2^m個(gè)不同子序列，從而窮舉搜索法需要指數(shù)時(shí)間。
標(biāo)簽：
序列
LCS
元素
上傳時(shí)間：
2015-06-09
上傳用戶(hù)：氣溫達(dá)上千萬(wàn)的
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考察例1 4 - 8中的1 4個(gè)點(diǎn)。A中的最近點(diǎn)對(duì)為(b,h)，其距離約為0 . 3 1 6。B中最近點(diǎn)對(duì)為
(f, j)，其距離為0 . 3，因此= 0 . 3。當(dāng)考察
是否存在第三類(lèi)點(diǎn)時(shí)，除d, g, i, l, m 以外
的點(diǎn)均被淘汰，因?yàn)樗鼈兙喾指罹€x= 1的
距離≥ 。RA ={d, i, m}，RB= {g, l}，由
于d 和m 的比較區(qū)中沒(méi)有點(diǎn)，只需考察i
即可。i 的比較區(qū)中僅含點(diǎn)l。計(jì)算i 和l
的距離，發(fā)現(xiàn)它小于，因此(i, l) 是最近
標(biāo)簽：
上傳時(shí)間：
2013-12-03
上傳用戶(hù)：66666
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1.有三根桿子A,B,C。A桿上有若干碟子
2.每次移動(dòng)一塊碟子,小的只能疊在大的上面
3.把所有碟子從A桿全部移到C桿上
經(jīng)過(guò)研究發(fā)現(xiàn)，漢諾塔的破解很簡(jiǎn)單，就是按照移動(dòng)規(guī)則向一個(gè)方向移動(dòng)金片：
如3階漢諾塔的移動(dòng)：A→C,A→B,C→B,A→C,B→A,B→C,A→C
此外，漢諾塔問(wèn)題也是程序設(shè)計(jì)中的經(jīng)典遞歸問(wèn)題
標(biāo)簽：
移動(dòng)
發(fā)現(xiàn)
上傳時(shí)間：
2016-07-25
上傳用戶(hù)：gxrui1991
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一篇來(lái)自臺(tái)灣中華大學(xué)的論文--《無(wú)線射頻系統(tǒng)標(biāo)簽晶片設(shè)計(jì)》，彩色版。其摘要為：本論文討論使用於無(wú)線射頻辨識(shí)系統(tǒng)(RFID)之標(biāo)籤晶片系統(tǒng)的電路設(shè)計(jì)和晶片製作，初步設(shè)計(jì)標(biāo)籤晶片的基本功能，設(shè)計(jì)流程包含數(shù)位軟體及功能的模擬、基本邏輯閘及類(lèi)比電路的設(shè)計(jì)與晶片電路的佈局考量。 論文的第一部份是序論、射頻辨識(shí)系統(tǒng)的規(guī)劃、辨識(shí)系統(tǒng)的規(guī)格介紹及制定，而第二部份是標(biāo)籤晶片設(shè)計(jì)、晶片量測(cè)、結(jié)論。 電路的初步設(shè)計(jì)功能為:使用電容作頻率緩衝的Schmitt trigger Clock、CRC-16的錯(cuò)誤偵測(cè)編碼、Manchester編碼及使用單一電路做到整流、振盪及調(diào)變的功能，最後完成晶片的實(shí)作。
標(biāo)簽：
大學(xué)
論文
無(wú)線射頻
上傳時(shí)間：
2016-08-27
上傳用戶(hù)：tb_6877751
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溫度華氏轉(zhuǎn)變攝氏
#include <stdio.h>
#include <stdlib.h>
enum x {A,B,C,D,E}
int main(void)
{
int a=73,b=85,c=66
{
if (a>=90)
printf("a=A等級(jí)!!\n")
else if (a>=80)
printf("73分=B等級(jí)!!\n")
else if (a>=70)
printf("73分=C等級(jí)!!\n")
else if (a>=60)
printf("73分=D等級(jí)!!\n")
else if (a<60)
printf("73分=E等級(jí)!!\n")
}
{
if (b>=90)
printf("b=A等級(jí)!!\n")
else if (b>=80)
printf("85分=B等級(jí)!!\n")
else if (b>=70)
printf("85分=C等級(jí)!!\n")
else if (b>=60)
printf("85分=D等級(jí)!!\n")
else if (b<60)
printf("85分=E等級(jí)!!\n")
}
{
if (c>=90)
printf("c=A等級(jí)!!\n")
else if (c>=80)
printf("66分=B等級(jí)!!\n")
else if (c>=70)
printf("66分=C等級(jí)!!\n")
else if (c>=60)
printf("66分=D等級(jí)!!\n")
else if (c<60)
printf("66分=E等級(jí)!!\n")
}
system("pause")
return 0
}
標(biāo)簽：
include
stdlib
stdio
gt
上傳時(shí)間：
2014-11-10
上傳用戶(hù)：wpwpwlxwlx
