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上傳時間: 2014-01-03
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EPLAN作為電氣計算機(jī)輔助設(shè)計時代的先鋒,一直是為電氣規(guī)劃,工程設(shè)計和項目管理領(lǐng)域提供智能化軟件解決方案和專業(yè)化服務(wù)的全球標(biāo)志型企業(yè)。
標(biāo)簽: EPLAN
上傳時間: 2016-07-07
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在對編碼器自帶的 BISS口串行通信協(xié)議進(jìn)行研究的基礎(chǔ)之上, 提出利用 FPGA設(shè)計編碼器的通信接口, 該接口 實現(xiàn)了伺服系統(tǒng)中的控制芯片 DSP與編碼器之間的通信。仿真結(jié)果與實際運(yùn)行結(jié)果表明, 該通信接口能夠有效地從編碼器 獲得位置信息并實時傳送給 DSP。 該設(shè)計已成功應(yīng)用于某數(shù)控設(shè)備制造廠的數(shù)控機(jī)床用伺服系統(tǒng)當(dāng)中。
標(biāo)簽: BISS 協(xié)議 編碼器 接口 技術(shù)研究
上傳時間: 2017-12-03
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靜電放電(Electrostatic Discharge,ESD)是構(gòu)成集成電路可靠性的主要因素之一,存在于生產(chǎn)到使用的每一個環(huán)節(jié),并成為開發(fā)新一代工藝技術(shù)的難點(diǎn)之一,近年來,對ESD的研究也因而越來越受到重視,仿真工具在ESD領(lǐng)域的應(yīng)用使得ESD防護(hù)的研究變得更為便利,可大幅縮短研發(fā)周期然而,由于ESD現(xiàn)象復(fù)雜的物理機(jī)制,極端的電場及溫度條件,以及ESD仿真中頻繁的不收斂現(xiàn)象,都使得FSD的仿真變得極為困難本文詳細(xì)闡述了ESD的來源、造成的危害以及如何測試集成電路的防靜電沖擊能力,并基于 Sentaurus軟件,對ESD防護(hù)器件展開了的分析、研究,內(nèi)容包括1)掌握ESD保護(hù)的基本理論、測試方法和防護(hù)機(jī)理2)研究了工藝仿真流程的步驟以及網(wǎng)格定義在工藝仿真中的重要性,并對網(wǎng)格定義的方法進(jìn)行了探討3)硏究了器件仿真流程以及器件仿真中的物理模型和模型函數(shù),并對描述同一物理機(jī)制的的各種不同模型展開對比分析.主要包括傳輸方程模型、能帶模型、各種遷移率退化模型、雪崩離化模型和復(fù)合模型4)研究了雙極型晶體管和可控硅(Silicon Controlled rectifier,SCR)防護(hù)器件的仿真,并通過對仿真結(jié)果的分析,研究了ESD保護(hù)器件在ESD應(yīng)力作用下的工作機(jī)理關(guān)鍵詞:靜電放電;網(wǎng)格;器件仿真;雙極型晶體管;可控硅
上傳時間: 2022-03-30
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新型智慧驅(qū)動器可簡化開關(guān)電源隔離拓樸結(jié)構(gòu)中同步整流器
標(biāo)簽: 驅(qū)動 開關(guān)電源 同步整流器
上傳時間: 2013-06-05
上傳用戶:eeworm
自適應(yīng)均衡器的LMS算法實現(xiàn)及其仿真 :自適應(yīng)均衡器已廣泛應(yīng)用于通信、雷達(dá)、聲納、控制和生物醫(yī)學(xué)工程等許多領(lǐng)域,為克服多徑衰落和信道失真 引起的碼間干擾,實時跟蹤移動通信信道的時變特性,筆者設(shè)計了一個基于LMS 算法的自適應(yīng)線性均衡器,并通過改變步 長因子Δ來分析其收斂速度和均方誤差特性.
上傳時間: 2017-09-17
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實用電子技術(shù)專輯 385冊 3.609G新型智慧驅(qū)動器可簡化開關(guān)電源隔離拓樸結(jié)構(gòu)中同步整流器.pdf
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上傳時間: 2014-05-05
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EDA工程建模及其管理方法研究2 1 隨著微電子技術(shù)與計算機(jī)技術(shù)的日益成熟,電子設(shè)計自動化(EDA)技術(shù)在電子產(chǎn)品與集成電路 (IC)芯片特別是單片集成(SoC)芯片的設(shè)計應(yīng)用中顯得越來越重要。EDA技術(shù)采用“自上至下”的設(shè)計思想,允許設(shè)計人員能夠從系統(tǒng)功能級或電路功能級進(jìn)行產(chǎn)品或芯片的設(shè)計,有利于產(chǎn)品在系統(tǒng)功能上的綜合優(yōu)化,從而提高了電子設(shè)計項目的協(xié)作開發(fā)效率,降低新產(chǎn)品的研發(fā)成本。 近十年來,EDA電路設(shè)計技術(shù)和工程管理方面的發(fā)展主要呈現(xiàn)出兩個趨勢: (1) 電路的集成水平已經(jīng)進(jìn)入了深亞微米的階段,其復(fù)雜程度以每年58%的幅度迅速增加,芯片設(shè)計的抽象層次越來越高,而產(chǎn)品的研發(fā)時限卻不斷縮短。 (2) IC芯片的開發(fā)過程也日趨復(fù)雜。從前期的整體設(shè)計、功能分,到具體的邏輯綜合、仿真測試,直至后期的電路封裝、排版布線,都需要反復(fù)的驗證和修改,單靠個人力量無法完成。IC芯片的開發(fā)已經(jīng)實行多人分組協(xié)作。由此可見,如何提高設(shè)計的抽象層次,在較短時間內(nèi)設(shè)計出較高性能的芯片,如何改進(jìn)EDA工程管理,保證芯片在多組協(xié)作設(shè)計下的兼容性和穩(wěn)定性,已經(jīng)成為當(dāng)前EDA工程中最受關(guān)注的問題。
上傳時間: 2013-11-10
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EDA工程建模及其管理方法研究2 1 隨著微電子技術(shù)與計算機(jī)技術(shù)的日益成熟,電子設(shè)計自動化(EDA)技術(shù)在電子產(chǎn)品與集成電路 (IC)芯片特別是單片集成(SoC)芯片的設(shè)計應(yīng)用中顯得越來越重要。EDA技術(shù)采用“自上至下”的設(shè)計思想,允許設(shè)計人員能夠從系統(tǒng)功能級或電路功能級進(jìn)行產(chǎn)品或芯片的設(shè)計,有利于產(chǎn)品在系統(tǒng)功能上的綜合優(yōu)化,從而提高了電子設(shè)計項目的協(xié)作開發(fā)效率,降低新產(chǎn)品的研發(fā)成本。 近十年來,EDA電路設(shè)計技術(shù)和工程管理方面的發(fā)展主要呈現(xiàn)出兩個趨勢: (1) 電路的集成水平已經(jīng)進(jìn)入了深亞微米的階段,其復(fù)雜程度以每年58%的幅度迅速增加,芯片設(shè)計的抽象層次越來越高,而產(chǎn)品的研發(fā)時限卻不斷縮短。 (2) IC芯片的開發(fā)過程也日趨復(fù)雜。從前期的整體設(shè)計、功能分,到具體的邏輯綜合、仿真測試,直至后期的電路封裝、排版布線,都需要反復(fù)的驗證和修改,單靠個人力量無法完成。IC芯片的開發(fā)已經(jīng)實行多人分組協(xié)作。由此可見,如何提高設(shè)計的抽象層次,在較短時間內(nèi)設(shè)計出較高性能的芯片,如何改進(jìn)EDA工程管理,保證芯片在多組協(xié)作設(shè)計下的兼容性和穩(wěn)定性,已經(jīng)成為當(dāng)前EDA工程中最受關(guān)注的問題。
上傳時間: 2013-10-15
上傳用戶:shen007yue
程序代碼說明 P0301:數(shù)字圖像矩陣數(shù)據(jù)的顯示及其傅立葉變換 P0302:二維離散余弦變換的圖像壓縮 P0303:采用灰度變換的方法增強(qiáng)圖像的對比度 P0304:直方圖均勻化 P0305:模擬圖像受高斯白噪聲和椒鹽噪聲的影響 P0306:采用二維中值濾波函數(shù)medfilt2對受椒鹽噪聲干擾的圖像濾波 P0307:采用MATLAB中的函數(shù)filter2對受噪聲干擾的圖像進(jìn)行均值濾波 P0308:圖像的自適應(yīng)魏納濾波 P0309:運(yùn)用5種不同的梯度增強(qiáng)法進(jìn)行圖像銳化 P0310:圖像的高通濾波和掩模處理 P0311:利用巴特沃斯(Butterworth)低通濾波器對受噪聲干擾的圖像進(jìn)行平滑處理 P0312:利用巴特沃斯(Butterworth)高通濾波器對圖像進(jìn)行銳化處理
標(biāo)簽: P0301 P0302 P0303 P0304
上傳時間: 2015-06-16
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