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TL431應用.TL431,A、B集成電路是三端可編程并聯穩壓二極管。
標簽： 431 TL 集成電路 三端
上傳時間： 2014-01-07
上傳用戶：84425894
bp算法實現代碼,在c++ builder 平臺上實現. b p算法實現代碼,在c++ builder 平臺上實現.
標簽： builder 算法 代碼
上傳時間： 2014-01-22
上傳用戶：頂得柱
基于b/s模式的jsp在線考試系統，可以學習學習
標簽： jsp 模式
上傳時間： 2014-11-13
上傳用戶：royzhangsz
用于求解大型稀疏線性方程組Ax=b的數值計算庫.
標簽： Ax 大型 稀疏 方程
上傳時間： 2014-01-04
上傳用戶：稀世之寶039
⑴ 提供簡單命令 A、通過串口加載程序到指定內存 B、將程序燒寫到 NANDFLASH 指定位置 C、LCD 操作函數 I、畫點 II、畫線 III、畫圓 IV、顯示圖像 ⑵ bootloader 具備自我更新能力 ⑶ bootloader 可以啟動 LINUX ⑷ 能通過網絡傳輸文件（FTP/UDP）
標簽： NANDFLASH LCD III 命令
上傳時間： 2016-06-18
上傳用戶：牧羊人8920
實現B樹，并在MFC中將其畫出。 B樹的表示及基本操作的實現。 1．掌握B樹的存貯結構。 2．實現B樹中關鍵字值的插入及刪除操作。 3．屏幕圖形化的顯示。
標簽： 樹
上傳時間： 2013-12-18
上傳用戶：xymbian
遞歸方法實現HANOI塔問題 子程序模塊個數不限。要求: 盤子個數可以輸入,第一個塔為A,第二個塔為B,第三個塔的名稱為C。打印出移動過程。
標簽： HANOI 遞歸 程序 模塊
上傳時間： 2013-12-22
上傳用戶：小鵬
用過采樣和求均值提高ADC分辨率 很多應用需要使用模/數轉換器 ADC 進行測量 這些應用所需要的分辨率取決于信號的動 態范圍 必須測量的參數的最小變化和信噪比 SNR 因此 很多系統使用較高分辨率的片外ADC 然而也可以通過使用一些技術來達到較高的分辨率和SNR 本應用筆記介紹用過采樣和求均值的方 法來提高模數轉換的分辨率和SNR 過采樣和求均值技術可以在不使用昂貴的片外ADC的情況下提 高測量分辨率 本應用筆記討論如何使用過采樣和求均值的方法來提高模/數轉換 ADC 測量的分辨率 另 外 本文最后的附錄A B和C分別給出了對ADC噪聲的深入分析 最適合過采樣技術的ADC噪聲 類型和使用過采樣和求均值技術的示例代碼
標簽： ADC SNR 分辨率 測量
上傳時間： 2016-06-21
上傳用戶：hanli8870
如果四位數各位上的數字均是0或2或4或6或8, 則統計出滿足此條件的個數cnt, 并把這些四位數按從大到小的順序存入數組b中
標簽： cnt 數字 數組
上傳時間： 2016-06-23
上傳用戶：gtf1207
費諾編碼的步驟: A 將概率按從大到小的順序排列 B 按編碼進制數將概率分組，使每組概率和盡可能接近或相等。 C 給每組分配一位碼元 D 將每一分組再按同樣原則劃分，重復b和c，直到概率不再可分為止
標簽： 編碼 概率 分組 進制數
上傳時間： 2016-06-24
上傳用戶：xinyuzhiqiwuwu
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