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可測試性設(shè)計(jì)(Design-For-Testability,DFT)已經(jīng)成為芯片設(shè)計(jì)中不可或缺的重要組成部分。它通過在芯片的邏輯設(shè)計(jì)中加入測試邏輯提高芯片的可測試性。在高性能通用 CPU 的設(shè)計(jì)中,可...

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