freescale k40/k60 cortex m4 PDB-adc 例程
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eeworm.com VIP專區(qū) 單片機(jī)源碼系列 5資源包含以下內(nèi)容：1. freescale k40/k60 flexbus 例程.rar2. freescale k40/k60 flexmem 例程.rar3. freescale k40/k60 freertos-lwip例程.rar4. freescale k40/k60 freertos-uip 例程.rar5. freescale k40/k60 gpio 例程.rar6. freescale k40/k60 cortex m4 lptmr 例程.rar7. freescale k40/k60 PDB-adc 例程.rar8. freescale k40/k60 cortex m4 rtc 例程.rar9. freescale k40/k60 cortex m4 library.rar10. nxp lpc23/24xx can keil例程.rar11. nxp lpc23/24xx common keil例程 通用文件.rar12. nxp lpc23/24xx spi keil例程.rar13. nxp lpc23/24xx wdt keil例程.rar14. nxp lpc177x/8x lcd keil&iar 例程.rar15. nxp lpc177x/8x ssp-dma keil&iar例程.rar16. STM32F4-Discovery ADC3-DMA keil&iar例程.rar17. STM32F4-Discovery ADC-Interleaved_DMAmode2 例程.rar18. STM32F4-Discovery DAC_SignalsGeneration.rar19. STM32F4-Discovery DMA-FLASH-RAM keil&iar例程.rar20. STM32F4-Discovery EXIT keil&iar例程.rar21. STM32F4-Discovery FLASH-Program keil&iar例程.rar22. STM32F4-Discovery FLASH-protected keil&iar例程.rar23. STM32F4-Discovery IO_Toggle keil&iar例程.rar24. STM32F4-Discovery IWDG keil&iar例程.rar25. STM32F4-Discovery MEMS keil&iar例程.rar26. STM32F4-Discovery PWR_Standby keil&iar例程.rar27. STM32F4-Discovery Systick keil&iar例程.rar28. STM32F4-Discovery TIM_PWM_Input keil&iar例程.rar29. STM32F4-Discovery TIM_PWM_output keil&iar例程.rar30. STM32F107串口，GPIO 測(cè)試程序.rar31. RFID-nRF24LE1程序?qū)嵗?rar32. 使用CC1101無線模塊進(jìn)行多機(jī)通信.zip33. MSP430控制VS1003播放SD卡中的音樂.rar34. STM步進(jìn)電機(jī)程序.zip35. 郭天祥十天學(xué)會(huì)單片機(jī)_隨書光盤文件.rar36. 飛思卡爾單片機(jī)高效C語言編程(中文).pdf37. 手機(jī)電路原理及檢修.pdf38. 單片機(jī)與三菱PLC串行通訊的實(shí)現(xiàn).pdf39. 8位單片機(jī)的C語言優(yōu)化技巧.zip40. 51單片機(jī)C語言編程入門.rar41. 最全的芯片封裝方式(圖文對(duì)照).rar42. 華為硬件工程師手冊(cè).rar43. keilC與匯編的相互調(diào)用.pdf44. AVR-GCC學(xué)習(xí)手記.pdf45. 漢字LED點(diǎn)陣顯示16×16點(diǎn)陣(滾動(dòng)顯示).rar46. 電子密碼鎖.pdf47. 智能家用電熱水器控制器.pdf48. 基于單片機(jī)控制的電子密碼鎖.pdf49. STC單片機(jī)相關(guān)知識(shí).zip50. 40個(gè)經(jīng)典單片機(jī)實(shí)驗(yàn).zip51. PICC編程實(shí)例詳解.zip52. 基于51系列單片機(jī)的紅外遙控設(shè)計(jì).rar53. 單片機(jī)串行接口技術(shù)研究.zip54. 電子鐘完整版.rar55. 漢字點(diǎn)陣滾動(dòng)指示牌源程序.rar56. LPC11C14 CAN 代碼.rar57. 優(yōu)龍LPC1788開發(fā)板資料.rar58. STM32 USB HID.zip59. 51單片機(jī)端MODBUSRTU協(xié)議.rar60. 51單片機(jī)實(shí)現(xiàn)MODBUS.rar61. 自制單片機(jī)MSP-FET430仿真器.pdf62. PICC編程基礎(chǔ).pdf63. dsPIC對(duì)于直流無刷BLDC應(yīng)用筆記.pdf64. Hi-Tech_PICC_Workshop.pdf65. 蜂鳴器唱歌.rar66. 時(shí)鐘DS1302(LCD).rar67. 彩屏控制.rar68. 單片機(jī)匯編與C語言對(duì)照.rar69. 單片機(jī)的C語言輕松入門.pdf70. 西門子PPI協(xié)議源碼.rar71. 430 模擬IIC.docx72. 萬能解碼.doc73. 汽車防盜器源程序.rar74. C8051F340讀寫SD卡，帶文件系統(tǒng).rar75. 33個(gè)畢業(yè)設(shè)計(jì)方案——單片機(jī)類.zip76. 24c02讀寫程序.zip77. 基于STC89C52單片機(jī)電子琴設(shè)計(jì).zip78. can通信源碼.zip79. 51單片機(jī)簡單頻率計(jì).zip80. CAN通信代碼.rar81. STM32 CAN通信例程.zip82. 單總線多點(diǎn)溫度測(cè)量系統(tǒng)(DS18B20).rar83. C51 程序練習(xí).rar84. 51Modbus源碼.zip85. STM32所有外設(shè)例子程序（需自己修改）.rar86. 24l01無線模塊的C51的發(fā)送程序.rar87. LCD1602+89C51+DS18B20數(shù)字溫度計(jì).rar88. STM32做的自平衡小車.rar89. LPCXpresso1768.zip90. stm32軟件串口 io模擬串口.zip91. stm32UART4.rar92. 51單片機(jī)實(shí)現(xiàn)計(jì)算器功能.zip93. 430各模塊例程包.rar94. 手操器.rar95. STM32工程模板.rar96. pic軟件Modem.zip97. ewavr511b_full+Keygen.rar98. 數(shù)字選臺(tái)收音機(jī).rar99. 多功能時(shí)鐘.rar100. 超高頻RFID模塊.pdf
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家用電器pdb紅外線代碼庫
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家用電器pdb紅外線代碼庫
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采用軟件校正的TMS320f2812內(nèi)置ADC采樣值方案
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高性能ADC產(chǎn)品的出現(xiàn)，給混合信號(hào)測(cè)試領(lǐng)域帶來前所未有的挑戰(zhàn)。并行ADC測(cè)試方案實(shí)現(xiàn)了多個(gè)ADC測(cè)試過程的并行化和實(shí)時(shí)化，減少了單個(gè)ADC的平均測(cè)試時(shí)間，從而降低ADC測(cè)試成本。 本文實(shí)現(xiàn)了基于FPGA的ADC并行測(cè)試方法。在閱讀相關(guān)文獻(xiàn)的基礎(chǔ)上，總結(jié)了常用ADC參數(shù)測(cè)試方法和測(cè)試流程。使用FPGA實(shí)現(xiàn)時(shí)域參數(shù)評(píng)估算法和頻域參數(shù)評(píng)估算法，并對(duì)2個(gè)ADC在不同樣本數(shù)條件下進(jìn)行并行測(cè)試。 通過在FPGA內(nèi)部實(shí)現(xiàn)ADC測(cè)試時(shí)域算法和頻域算法相結(jié)合的方法來搭建測(cè)試系統(tǒng)，完成音頻編解碼器WM8731L的控制模式接口、音頻數(shù)據(jù)接口、ADC測(cè)試時(shí)域算法和頻域算法的FPGA實(shí)現(xiàn)。整個(gè)測(cè)試系統(tǒng)使用Angilent 33220A任意信號(hào)發(fā)生器提供模擬激勵(lì)信號(hào)，共用一個(gè)FPGA內(nèi)部實(shí)現(xiàn)的采樣時(shí)鐘控制模塊。并行測(cè)試系統(tǒng)將WM8731.L片內(nèi)的兩個(gè)獨(dú)立ADC的串行輸出數(shù)據(jù)分流成左右兩通道，并對(duì)其進(jìn)行串并轉(zhuǎn)換。然后對(duì)左右兩個(gè)通道分別配置一個(gè)FFT算法模塊和時(shí)域算法模塊，并行地實(shí)現(xiàn)了ADC參數(shù)的評(píng)估算法。 在樣本數(shù)分別為128和4096的實(shí)驗(yàn)條件下，對(duì)WM8731L片內(nèi)2個(gè)被測(cè).ADC并行地進(jìn)行參數(shù)評(píng)估，被測(cè)參數(shù)包括增益GAIN、偏移量OFFSET、信噪比SNR、信號(hào)與噪聲諧波失真比SINAD、總諧波失真THD等5個(gè)常用參數(shù)。實(shí)驗(yàn)結(jié)果表明，通過在FPGA內(nèi)配置2個(gè)獨(dú)立的參數(shù)計(jì)算模塊，可并行地實(shí)現(xiàn)對(duì)2個(gè)相同ADC的參數(shù)評(píng)估，減小單個(gè)ADC的平均測(cè)試時(shí)間。 FPGA片內(nèi)實(shí)時(shí)評(píng)估算法的實(shí)現(xiàn)節(jié)省了測(cè)試樣本傳輸至自動(dòng)測(cè)試機(jī)PC端的時(shí)間。而且只需將HDL代碼多次復(fù)制，就可實(shí)現(xiàn)多個(gè)被測(cè)ADC在同一時(shí)刻并行地被評(píng)估，配置靈活?；贔PGA的ADC并行測(cè)試方法易于實(shí)現(xiàn)，具有可行性，但由于噪聲的影響，測(cè)試精度有待進(jìn)一步提高。該方法可用于自動(dòng)測(cè)試機(jī)的混合信號(hào)選項(xiàng)卡或測(cè)試子系統(tǒng)。 關(guān)鍵詞：ADC測(cè)試；并行；參數(shù)評(píng)估；FPGA；FFT
上傳時(shí)間： 2013-07-11
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隨著現(xiàn)代通信與信號(hào)處理技術(shù)的不斷發(fā)展，對(duì)于高速高精度AD轉(zhuǎn)換器的需求越來越大。但是，隨著集成電路工藝中電路特征線寬的不斷減小，在傳統(tǒng)單通道ADC框架下同時(shí)實(shí)現(xiàn)高速、高精度的數(shù)模轉(zhuǎn)換愈加困難。此時(shí)，時(shí)分交替ADC 作為...
標(biāo)簽： ADC 時(shí)分 數(shù)字校準(zhǔn)
上傳時(shí)間： 2013-07-08
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高性能ADC產(chǎn)品的出現(xiàn)，給混合信號(hào)測(cè)試領(lǐng)域帶來前所未有的挑戰(zhàn)。并行ADC測(cè)試方案實(shí)現(xiàn)了多個(gè)ADC測(cè)試過程的并行化和實(shí)時(shí)化，減少了單個(gè)ADC的平均測(cè)試時(shí)間，從而降低ADC測(cè)試成本。本文實(shí)現(xiàn)了基于FPGA的ADC并行測(cè)試方法。在閱讀相關(guān)文獻(xiàn)的基礎(chǔ)上，總結(jié)了常用ADC參數(shù)測(cè)試方法和測(cè)試流程。使用FPGA實(shí)現(xiàn)時(shí)域參數(shù)評(píng)估算法和頻域參數(shù)評(píng)估算法，并對(duì)2個(gè)ADC在不同樣本數(shù)條件下進(jìn)行并行測(cè)試。 本研究通過在FPGA內(nèi)部實(shí)現(xiàn)ADC測(cè)試時(shí)域算法和頻域算法相結(jié)合的方法來搭建測(cè)試系統(tǒng)，完成了音頻編解碼器WM8731L的控制模式接口、音頻數(shù)據(jù)接口、ADC測(cè)試時(shí)域算法和頻域算法的FPGA實(shí)現(xiàn)。整個(gè)測(cè)試系統(tǒng)使用Angilent33220A任意信號(hào)發(fā)生器提供模擬激勵(lì)信號(hào)，共用一個(gè)FPGA內(nèi)部實(shí)現(xiàn)的采樣時(shí)鐘控制模塊。并行測(cè)試系統(tǒng)將WM8731.L片內(nèi)的兩個(gè)獨(dú)立ADC的串行輸出數(shù)據(jù)分流成左右兩通道，并對(duì)其進(jìn)行串并轉(zhuǎn)換。然后對(duì)左右兩個(gè)通道分別配置一個(gè)FFT算法模塊和時(shí)域算法模塊，并行地實(shí)現(xiàn)了ADC參數(shù)的評(píng)估算法。在樣本數(shù)分別為128和4096的實(shí)驗(yàn)條件下，對(duì)WM8731L片內(nèi)2個(gè)被測(cè).ADC并行地進(jìn)行參數(shù)評(píng)估，被測(cè)參數(shù)包括增益GAIN、偏移量OFFSET、信噪比SNR、信號(hào)與噪聲諧波失真比SINAD、總諧波失真THD等5個(gè)常用參數(shù)。實(shí)驗(yàn)結(jié)果表明，通過在FPGA內(nèi)配置2個(gè)獨(dú)立的參數(shù)計(jì)算模塊，可并行地實(shí)現(xiàn)對(duì)2個(gè)相同ADC的參數(shù)評(píng)估，減小單個(gè)ADC的平均測(cè)試時(shí)間。FPGA片內(nèi)實(shí)時(shí)評(píng)估算法的實(shí)現(xiàn)節(jié)省了測(cè)試樣本傳輸至自動(dòng)測(cè)試機(jī)PC端的時(shí)間。而且只需將HDL代碼多次復(fù)制，就可實(shí)現(xiàn)多個(gè)被測(cè)ADC在同一時(shí)刻并行地被評(píng)估，配置靈活?；贔PGA的ADC并行測(cè)試方法易于實(shí)現(xiàn)，具有可行性，但由于噪聲的影響，測(cè)試精度有待進(jìn)一步提高。該方法可用于自動(dòng)測(cè)試機(jī)的混合信號(hào)選項(xiàng)卡或測(cè)試子系統(tǒng)。
標(biāo)簽： FPGA ADC 并行測(cè)試 方法研究
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LM3S系列ADC例程：多種采樣觸發(fā)方式
上傳時(shí)間： 2013-05-29
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LM3S系列ADC例程：內(nèi)置的溫度傳感器
標(biāo)簽： LM3S ADC 內(nèi)置 溫度傳感器
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