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TAP

這篇文章主要介紹ARM JTAG調(diào)試的基本原理。基本的內(nèi)容包括了TAP (TEST ACCESS PORT) 和BOUNDARY-SCAN ARCHITECTURE的介紹

這篇文章主要介紹ARM JTAG調(diào)試的基本原理。基本的內(nèi)容包括了TAP (TEST ACCESS PORT) 和BOUNDARY-SCAN ARCHITECTURE的介紹，在此基礎(chǔ)上，結(jié)合ARM7TDMI詳細(xì)介紹了的JTAG調(diào)試原理。

標(biāo)簽： BOUNDARY-SCAN ARCHITECTURE ACCESS JTAG

上傳時(shí)間： 2016-05-24

上傳用戶：qilin
這篇文章主要介紹ARM JTAG調(diào)試的基本原理。基本的內(nèi)容包括了TAP (TEST ACCESS PORT) 和BOUNDARY-SCAN ARCHITECTURE的介紹

這篇文章主要介紹ARM JTAG調(diào)試的基本原理。基本的內(nèi)容包括了TAP (TEST ACCESS PORT) 和BOUNDARY-SCAN ARCHITECTURE的介紹，在此基礎(chǔ)上，結(jié)合ARM7TDMI詳細(xì)介紹了的JTAG調(diào)試原理。這篇文章主要是總結(jié)了前段時(shí)間的一些心得體會(huì)，希望對(duì)想了解ARM JTAG調(diào)試的網(wǎng)友們有所幫助。我個(gè)人對(duì)ARM JTAG的理解還不是很透徹，在文章中，難免會(huì)有偏失和不準(zhǔn)確的地方，希望精通JTAG調(diào)試原理的大俠們不要拍磚，有什么問題提出來，我一定盡力糾正。同時(shí)也歡迎對(duì)ARM JTAG調(diào)試感興趣的朋友們一起交流學(xué)習(xí)。

標(biāo)簽： BOUNDARY-SCAN ARCHITECTURE ACCESS JTAG

上傳時(shí)間： 2016-06-22

上傳用戶：kikye
OPEN-JTAG ARM JTAG 測試原理 1 前言本篇報(bào)告主要介紹ARM JTAG測試的基本原理。基本的內(nèi)容包括了TAP (TEST ACCESS PORT) 和BOUNDARY-SCAN

OPEN-JTAG ARM JTAG 測試原理 1 前言本篇報(bào)告主要介紹ARM JTAG測試的基本原理。基本的內(nèi)容包括了TAP (TEST ACCESS PORT) 和BOUNDARY-SCAN ARCHITECTURE的介紹，在此基礎(chǔ)上，結(jié)合ARM7TDMI詳細(xì)介紹了的JTAG測試原理。 2 IEEE Standard 1149.1 - Test Access Port and Boundary-Scan Architecture 從IEEE的JTAG測試標(biāo)準(zhǔn)開始，JTAG是JOINT TEST ACTION GROUP的簡稱。IEEE 1149.1標(biāo)準(zhǔn)最初是由JTAG這個(gè)組織提出，最終由IEEE批準(zhǔn)並且標(biāo)準(zhǔn)化，所以，IEEE 1149.1這個(gè)標(biāo)準(zhǔn)一般也俗稱JTAG測試標(biāo)準(zhǔn)。接下來介紹TAP (TEST ACCESS PORT) 和BOUNDARY-SCAN ARCHITECTURE的基本架構(gòu)。

標(biāo)簽： JTAG BOUNDARY-SCAN OPEN-JTAG ARM

上傳時(shí)間： 2016-08-16

上傳用戶：sssl
FSCQ1565RP J TAG驅(qū)動(dòng)算法是MCU 以J TAG模式配置FPGA 的關(guān) 鍵。算法調(diào)用SVF 配置文件,解釋其中的語法規(guī)范,生成嚴(yán) 格的TAP 總線時(shí)序,驅(qū)動(dòng)MCU 的通用I/ O

FSCQ1565RP J TAG驅(qū)動(dòng)算法是MCU 以J TAG模式配置FPGA 的關(guān) 鍵。算法調(diào)用SVF 配置文件,解釋其中的語法規(guī)范,生成嚴(yán) 格的TAP 總線時(shí)序,驅(qū)動(dòng)MCU 的通用I/ O 管腳來完成對(duì) FPGA 的配置。其中TAP 時(shí)序是算法設(shè)計(jì)和實(shí)現(xiàn)調(diào)試的一個(gè)主要方面,時(shí)序關(guān)系[ 2 ]如圖3 所示。

標(biāo)簽： MCU TAG FSCQ 1565

上傳時(shí)間： 2016-12-06

上傳用戶：zhaoq123
BER OF OFDM USING BPSK FOR 10 TAP RAYLEIGH FADING CHANNEL

BER OF OFDM USING BPSK FOR 10 TAP RAYLEIGH FADING CHANNEL

標(biāo)簽： RAYLEIGH CHANNEL FADING USING

上傳時(shí)間： 2014-11-30

上傳用戶：libenshu01
phuc TAP qua cac ban a

phuc TAP qua cac ban a

標(biāo)簽： phuc cac ban TAP

上傳時(shí)間： 2014-01-01

上傳用戶：royzhangsz
Ky thuat phan TAP anten MIMO

Ky thuat phan TAP anten MIMO

標(biāo)簽： thuat anten phan MIMO

上傳時(shí)間： 2017-05-18

上傳用戶：zhanditian
JTAG TAP controller verilog source code

JTAG TAP controller verilog source code

標(biāo)簽： controller verilog source JTAG

上傳時(shí)間： 2014-01-08

上傳用戶：bibirnovis
Study about modeling a channel using TAP delay

Study about modeling a channel using TAP delay

標(biāo)簽： modeling channel Study about

上傳時(shí)間： 2014-01-08

上傳用戶：yangbo69
具有檢測FIR濾波器單位脈沖響應(yīng)h[n]中零系數(shù)（zero TAP detection）功能的LMS算法自適應(yīng)均衡器

具有檢測FIR濾波器單位脈沖響應(yīng)h[n]中零系數(shù)（zero TAP detection）功能的LMS算法自適應(yīng)均衡器，可處理相關(guān)輸入（colored inputs)和獨(dú)立輸入(white inputs). 檢測出零系數(shù)的個(gè)數(shù)和位置,減少后續(xù)計(jì)算次數(shù)，提高算法效率。

標(biāo)簽： detection zero FIR TAP

上傳時(shí)間： 2014-08-20

上傳用戶：tzl1975

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TAP

這篇文章主要介紹ARM JTAG調(diào)試的基本原理。基本的內(nèi)容包括了TAP (TEST ACCESS PORT) 和BOUNDARY-SCAN ARCHITECTURE的介紹

這篇文章主要介紹ARM JTAG調(diào)試的基本原理。基本的內(nèi)容包括了TAP (TEST ACCESS PORT) 和BOUNDARY-SCAN ARCHITECTURE的介紹

OPEN-JTAG ARM JTAG 測試原理 1 前言本篇報(bào)告主要介紹ARM JTAG測試的基本原理。基本的內(nèi)容包括了TAP (TEST ACCESS PORT) 和BOUNDARY-SCAN

FSCQ1565RP J TAG驅(qū)動(dòng)算法是MCU 以J TAG模式配置FPGA 的關(guān) 鍵。算法調(diào)用SVF 配置文件,解釋其中的語法規(guī)范,生成嚴(yán) 格的TAP 總線時(shí)序,驅(qū)動(dòng)MCU 的通用I/ O

BER OF OFDM USING BPSK FOR 10 TAP RAYLEIGH FADING CHANNEL

phuc TAP qua cac ban a

Ky thuat phan TAP anten MIMO

JTAG TAP controller verilog source code

Study about modeling a channel using TAP delay

具有檢測FIR濾波器單位脈沖響應(yīng)h[n]中零系數(shù)（zero TAP detection）功能的LMS算法自適應(yīng)均衡器