基于集成電路規(guī)模與設(shè)計工藝不斷發(fā)展的現(xiàn)狀,SI問題日益突出和嚴重。系統(tǒng)介紹了SOC設(shè)計SI的概念、分類及產(chǎn)生基理,根據(jù)電路工程設(shè)計經(jīng)驗,重點闡述了在SOC設(shè)計SI的設(shè)計、優(yōu)化、分析方法,介紹了利用EDA設(shè)計工具在芯片設(shè)計過程中對SI進行阻止、優(yōu)化、分析的流程及方法,并對各種設(shè)計優(yōu)化方法進行了利弊的對比分析,對芯片設(shè)計提供了很好的指導,結(jié)合EDA工具及合理的設(shè)計流程方法能夠有效的保證芯片設(shè)計的良率和性能。
標簽:
SOC
分
方法研究
上傳時間:
2013-11-01
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