說(shuō)明:
1,測(cè)試交流電源(Test AC Power Supply):A.中國(guó)(China):AC 220V+/-2%50Hz+/-2%
B.美國(guó)(United States of America):AC 120V+/-2%60Hz+/-2%。
C.英國(guó)(Britain):AC 240V+/-2%50Hz+/-2%
D.歐洲(Europe):AC 230V+/-2%50Hz+/-2%
E.日本(Japan):AC 100V+/-2%60Hz+/-2%
F.墨西哥(Mexico):AC 127V+/-2%60Hz+/-2%
2,測(cè)試溫度條件(Test Temperature Conditions):25℃+/-2℃。
3,測(cè)試以右聲道為準(zhǔn)(Standard Test Use Right Channell)
4,信號(hào)由AUX插座輸入(Signal From AUX Jack Input)。
5,測(cè)試以音量最大,音調(diào)和平衡在中央位置(電子音調(diào)在正常狀態(tài))。
(Test Volume Setup Max,Equalizer And Balance Setup Center)。
6,標(biāo)準(zhǔn)輸出(Standard Output):A.輸入1 KHz頻率信號(hào)(Input 1 KHz Frequency Signal)
B.左右聲道輸入信號(hào)測(cè)試右聲道(L&R Input Signal Test Use R Channel)
C.額定輸出功率満(Rating Output Power Full)10 W,標(biāo)準(zhǔn)輸出定為1w.
(Rating Output Power Full 10 w,Standard Output Setup 1 W)
D.額定輸出功率1W到10w,標(biāo)準(zhǔn)輸出定為500 mW
(Rating Output Power 1 W To 10 W,Standard Output Setup 500 mW)
E.額定輸出功率小于1w,標(biāo)準(zhǔn)輸出定為50 mW
(Rating Output Power Not Full 1 W,Standard Output Setup 50 mW)
F.標(biāo)準(zhǔn)輸出電壓以V-VPR為準(zhǔn)(Standard Output Voltage Use V-V/PR)。
G.V-V/PR中P為額定輸出功率,R為喇叭標(biāo)稱阻抗。
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資源簡(jiǎn)介:該文檔為功放電路性能指標(biāo)及測(cè)試方法簡(jiǎn)介文檔,是一份很不錯(cuò)的參考資料,具有較高參考價(jià)值,感興趣的可以下載看看………………
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資源簡(jiǎn)介:目前市場(chǎng)上的音響功放電源大多采用線性穩(wěn)壓電源,其體積大、能耗高、效率低的特點(diǎn)越來(lái)越難以適應(yīng)當(dāng)今社會(huì)節(jié)能環(huán)保的需要。音響功放開(kāi)關(guān)電源是順應(yīng)國(guó)家政策法規(guī),適應(yīng)市場(chǎng)需求而研制的高效節(jié)能電源,其具有功率智能檢測(cè),輸出電壓動(dòng)態(tài)調(diào)整的功能,能大幅度提高...
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資源簡(jiǎn)介:家用電器安全標(biāo)準(zhǔn)和電氣安全性能簡(jiǎn)易測(cè)試方法
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資源簡(jiǎn)介:GB-T4677.1-1984 印制板表層絕緣電阻測(cè)試方法
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資源簡(jiǎn)介:高性能ADC產(chǎn)品的出現(xiàn),給混合信號(hào)測(cè)試領(lǐng)域帶來(lái)前所未有的挑戰(zhàn)。并行ADC測(cè)試方案實(shí)現(xiàn)了多個(gè)ADC測(cè)試過(guò)程的并行化和實(shí)時(shí)化,減少了單個(gè)ADC的平均測(cè)試時(shí)間,從而降低ADC測(cè)試成本。 本文實(shí)現(xiàn)了基于FPGA的ADC并行測(cè)試方法。在閱讀相關(guān)文獻(xiàn)的基礎(chǔ)上,總結(jié)了常用ADC參...
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資源簡(jiǎn)介:現(xiàn)場(chǎng)可編程門陣列(FPGA)是一種新型器件,它將門陣列的通用結(jié)構(gòu)與現(xiàn)場(chǎng)可編程的特性結(jié)合于一體.如今,FPGA系列器件已成為最受歡迎的器件之一.隨著FPGA器件的廣泛應(yīng)用,它在數(shù)字系統(tǒng)中的作用日益變得重要,它所要求的準(zhǔn)確性也變得更高.因此,對(duì)FPGA器件的故障測(cè)試和故...
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資源簡(jiǎn)介:高性能ADC產(chǎn)品的出現(xiàn),給混合信號(hào)測(cè)試領(lǐng)域帶來(lái)前所未有的挑戰(zhàn)。并行ADC測(cè)試方案實(shí)現(xiàn)了多個(gè)ADC測(cè)試過(guò)程的并行化和實(shí)時(shí)化,減少了單個(gè)ADC的平均測(cè)試時(shí)間,從而降低ADC測(cè)試成本。本文實(shí)現(xiàn)了基于FPGA的ADC并行測(cè)試方法。在閱讀相關(guān)文獻(xiàn)的基礎(chǔ)上,總結(jié)了常用ADC參...
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資源簡(jiǎn)介:電源紋波噪聲測(cè)試方法,這是一門大學(xué)問(wèn)!!
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資源簡(jiǎn)介:基于FPGA的智能控制器設(shè)計(jì)及測(cè)試方法研究
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