信號完整性是高速數字系統中要解決的一個首要問題之一，如何在高速PCB 設計過程中充分考慮信號完整性因素,并采取有效的控制措施,已經成為當今系統設計能否成功的關鍵。在這方面，差分線對具有很多優勢，比如更高的比特率 ,更低的功耗 ,更好的噪聲性能和更穩定的可靠性等。目前，差分線對在高速數字電路設計中的應用越來越廣泛，電路中最關鍵的信號往往都要采用差分線對設計。介紹了差分線對在PCB 設計中的一些要點，并給出具體設計方案。
上傳時間： 2014-12-24
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P C B 可測性設計布線規則之建議― ― 從源頭改善可測率PCB 設計除需考慮功能性與安全性等要求外，亦需考慮可生產與可測試。這里提供可測性設計建議供設計布線工程師參考。1. 每一個銅箔電路支點，至少需要一個可測試點。如無對應的測試點，將可導致與之相關的開短路不可檢出，并且與之相連的零件會因無測試點而不可測。2. 雙面治具會增加制作成本，且上針板的測試針定位準確度差。所以Layout 時應通過Via Hole 盡可能將測試點放置于同一面。這樣就只要做單面治具即可。3. 測試選點優先級：A.測墊(Test Pad) B.通孔(Through Hole) C.零件腳(Component Lead) D.貫穿孔(Via Hole)(未Mask)。而對于零件腳，應以AI 零件腳及其它較細較短腳為優先，較粗或較長的引腳接觸性誤判多。4. PCB 厚度至少要62mil(1.35mm)，厚度少于此值之PCB 容易板彎變形，影響測點精準度，制作治具需特殊處理。5. 避免將測點置于SMT 之PAD 上，因SMT 零件會偏移，故不可靠，且易傷及零件。6. 避免使用過長零件腳(>170mil(4.3mm))或過大的孔(直徑>1.5mm)為測點。7. 對于電池(Battery)最好預留Jumper，在ICT 測試時能有效隔離電池的影響。8. 定位孔要求：(a) 定位孔(Tooling Hole)直徑最好為125mil(3.175mm)及其以上。(b) 每一片PCB 須有2 個定位孔和一個防呆孔(也可說成定位孔,用以預防將PCB反放而導致機器壓破板)，且孔內不能沾錫。(c) 選擇以對角線，距離最遠之2 孔為定位孔。(d) 各定位孔(含防呆孔)不應設計成中心對稱,即PCB 旋轉180 度角后仍能放入PCB,這樣,作業員易于反放而致機器壓破板)9. 測試點要求：(e) 兩測點或測點與預鉆孔之中心距不得小于50mil(1.27mm)，否則有一測點無法植針。以大于100mil(2.54mm)為佳，其次是75mil(1.905mm)。(f) 測點應離其附近零件(位于同一面者)至少100mil，如為高于3mm 零件，則應至少間距120mil，方便治具制作。(g) 測點應平均分布于PCB 表面，避免局部密度過高，影響治具測試時測試針壓力平衡。(h) 測點直徑最好能不小于35mil(0.9mm)，如在上針板，則最好不小于40mil(1.00mm)，圓形、正方形均可。小于0.030”(30mil)之測點需額外加工，以導正目標。(i) 測點的Pad 及Via 不應有防焊漆(Solder Mask)。(j) 測點應離板邊或折邊至少100mil。(k) 錫點被實踐證實是最好的測試探針接觸點。因為錫的氧化物較輕且容易刺穿。以錫點作測試點，因接觸不良導致誤判的機會極少且可延長探針使用壽命。錫點尤其以PCB 光板制作時的噴錫點最佳。PCB 裸銅測點，高溫后已氧化，且其硬度高，所以探針接觸電阻變化而致測試誤判率很高。如果裸銅測點在SMT 時加上錫膏再經回流焊固化為錫點，雖可大幅改善，但因助焊劑或吃錫不完全的緣故，仍會出現較多的接觸誤判。
上傳時間： 2014-01-14
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信號完整性是高速數字系統中要解決的一個首要問題之一，如何在高速PCB 設計過程中充分考慮信號完整性因素,并采取有效的控制措施,已經成為當今系統設計能否成功的關鍵。在這方面，差分線對具有很多優勢，比如更高的比特率 ,更低的功耗 ,更好的噪聲性能和更穩定的可靠性等。目前，差分線對在高速數字電路設計中的應用越來越廣泛，電路中最關鍵的信號往往都要采用差分線對設計。介紹了差分線對在PCB 設計中的一些要點，并給出具體設計方案。
上傳時間： 2013-10-26
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改進遺傳算法－郭濤算法做最優化問題很管用,算法的基本思想是 先任意產生n個隨機數，然后從n個數里隨機選擇m個數，再有這m個 數合成一個新數，將這個新數同n個數中間適應值函數值的最差的比較， 如果好的話就取代最差的那個，如果它比最好的還要好的話，則把最好的 也取代。如果比最差的壞，則重新合成一個新數。依次循環下去。 程序的奇妙之處是GA_crossover()函數，產生的新數確實比較好，看看 那位大俠能改進一下，產生比這跟好的數。
上傳時間： 2015-04-10
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HMM(Hidden Markov Model)，狀態數目N=3，觀察符號數目M=2，時間長度T=3。 (a) Probability Evaluation: 給定狀態轉換機率A、狀態符號觀察機率B、和起始機率 ，求觀察序列 出現的機率。 (b) Optimal State Sequence: 給定狀態轉換機率A、狀態符號觀察機率B、起始機率 、和觀察序列 ，求一個狀態序列 使得O出現的機率最大。 (c) Parameter Estimation: 給定狀態轉換機率A、狀態符號觀察機率B、起始機率 、和觀察序列 ，求新的A、B、 ，使得O出現的機率最大。
上傳時間： 2014-08-28
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ABBYY FineReader 8.0專業版是最新、最準確的ABBYY OCR軟體版本。它可以為用戶提供 最高級別識字精確率，是一個非常節省時間的好方案。FineReader允許你將各種紙張和 電子文件轉換、編輯以及重新使用，包括：雜誌、報紙、傳真、複製和PDF文件。
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上傳時間： 2016-02-11
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Welch法：Welch法對Bartlett法進行了兩方面的修正：一是選擇適當的窗函數w(n)，并在周期圖計算前直接加進去，加窗的優點是無論什么樣的窗函數均可使譜估計非負。二是在分段時,可使各段之間有重疊，這樣會使方差減小。
上傳時間： 2016-03-03
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對于n后問題，用n元組工[1：n]表示n后問題的解。其中x[i],表示皇后i放在棋盤的第i行的第i列。由于不允許將2個皇后放在同一列，所以解向量中的x[i]互不相同。2個皇后不能放在同一斜線上是問題的隱約束。對于一般的n后問題，這一隱約束條件可以化成顯約束的形式。將n x n格棋盤看作二維方陣，其行號從上到下，列號從左到右依次編號為1，2，…，n。從棋盤左上角到右下角的主對角線及其平行線(即斜率為一1的各斜線)上，2個下標值的差(行號一列號)值相等。同理，斜率為+1的每一條斜線上，2個下標值的和(行號+列號)值相等。
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上傳時間： 2016-03-12
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最大李雅普諾夫指數的計算 該函數用來計算時間序列的最大Lyapunov 指數--Wolf 方法 ％ m: 嵌入維數 ％ tau:時間延遲 ％ data:時間序列 ％ N:時間序列長度 ％ P:時間序列的平均周期,選擇演化相點距當前點的位置差，即若當前相點為I，則演化相點只能在|I－J|>P的相點中搜尋
上傳時間： 2013-12-10
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最大間隙問題：給定n 個實數x , x , , xn 1 2 ，求這n 個數在實軸上相鄰2 個數之間的最 大差值。假設對任何實數的下取整函數耗時O(1)，設計解最大間隙問題的線性時間算法。
上傳時間： 2013-12-25
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