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轉(zhuǎn)(zhuǎn)差頻率

差分線對的PCB設(shè)計(jì)要點(diǎn)

信號完整性是高速數(shù)字系統(tǒng)中要解決的一個(gè)首要問題之一，如何在高速PCB 設(shè)計(jì)過程中充分考慮信號完整性因素,并采取有效的控制措施,已經(jīng)成為當(dāng)今系統(tǒng)設(shè)計(jì)能否成功的關(guān)鍵。在這方面，差分線對具有很多優(yōu)勢，比如更高的比特率 ,更低的功耗 ,更好的噪聲性能和更穩(wěn)定的可靠性等。目前，差分線對在高速數(shù)字電路設(shè)計(jì)中的應(yīng)用越來越廣泛，電路中最關(guān)鍵的信號往往都要采用差分線對設(shè)計(jì)。介紹了差分線對在PCB 設(shè)計(jì)中的一些要點(diǎn)，并給出具體設(shè)計(jì)方案。

標(biāo)簽： PCB 差分線

上傳時(shí)間： 2014-12-24

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PCB可測性設(shè)計(jì)布線規(guī)則之建議―從源頭改善可測率

P C B 可測性設(shè)計(jì)布線規(guī)則之建議― ― 從源頭改善可測率PCB 設(shè)計(jì)除需考慮功能性與安全性等要求外，亦需考慮可生產(chǎn)與可測試。這里提供可測性設(shè)計(jì)建議供設(shè)計(jì)布線工程師參考。1. 每一個(gè)銅箔電路支點(diǎn)，至少需要一個(gè)可測試點(diǎn)。如無對應(yīng)的測試點(diǎn)，將可導(dǎo)致與之相關(guān)的開短路不可檢出，并且與之相連的零件會(huì)因無測試點(diǎn)而不可測。2. 雙面治具會(huì)增加制作成本，且上針板的測試針定位準(zhǔn)確度差。所以Layout 時(shí)應(yīng)通過Via Hole 盡可能將測試點(diǎn)放置于同一面。這樣就只要做單面治具即可。3. 測試選點(diǎn)優(yōu)先級：A.測墊(Test Pad) B.通孔(Through Hole) C.零件腳(Component Lead) D.貫穿孔(Via Hole)(未Mask)。而對于零件腳，應(yīng)以AI 零件腳及其它較細(xì)較短腳為優(yōu)先，較粗或較長的引腳接觸性誤判多。4. PCB 厚度至少要62mil(1.35mm)，厚度少于此值之PCB 容易板彎變形，影響測點(diǎn)精準(zhǔn)度，制作治具需特殊處理。5. 避免將測點(diǎn)置于SMT 之PAD 上，因SMT 零件會(huì)偏移，故不可靠，且易傷及零件。6. 避免使用過長零件腳(>170mil(4.3mm))或過大的孔(直徑>1.5mm)為測點(diǎn)。7. 對于電池(Battery)最好預(yù)留Jumper，在ICT 測試時(shí)能有效隔離電池的影響。8. 定位孔要求：(a) 定位孔(Tooling Hole)直徑最好為125mil(3.175mm)及其以上。(b) 每一片PCB 須有2 個(gè)定位孔和一個(gè)防呆孔(也可說成定位孔,用以預(yù)防將PCB反放而導(dǎo)致機(jī)器壓破板)，且孔內(nèi)不能沾錫。(c) 選擇以對角線，距離最遠(yuǎn)之2 孔為定位孔。(d) 各定位孔(含防呆孔)不應(yīng)設(shè)計(jì)成中心對稱,即PCB 旋轉(zhuǎn)180 度角后仍能放入PCB,這樣,作業(yè)員易于反放而致機(jī)器壓破板)9. 測試點(diǎn)要求：(e) 兩測點(diǎn)或測點(diǎn)與預(yù)鉆孔之中心距不得小于50mil(1.27mm)，否則有一測點(diǎn)無法植針。以大于100mil(2.54mm)為佳，其次是75mil(1.905mm)。(f) 測點(diǎn)應(yīng)離其附近零件(位于同一面者)至少100mil，如為高于3mm 零件，則應(yīng)至少間距120mil，方便治具制作。(g) 測點(diǎn)應(yīng)平均分布于PCB 表面，避免局部密度過高，影響治具測試時(shí)測試針壓力平衡。(h) 測點(diǎn)直徑最好能不小于35mil(0.9mm)，如在上針板，則最好不小于40mil(1.00mm)，圓形、正方形均可。小于0.030”(30mil)之測點(diǎn)需額外加工，以導(dǎo)正目標(biāo)。(i) 測點(diǎn)的Pad 及Via 不應(yīng)有防焊漆(Solder Mask)。(j) 測點(diǎn)應(yīng)離板邊或折邊至少100mil。(k) 錫點(diǎn)被實(shí)踐證實(shí)是最好的測試探針接觸點(diǎn)。因?yàn)殄a的氧化物較輕且容易刺穿。以錫點(diǎn)作測試點(diǎn)，因接觸不良導(dǎo)致誤判的機(jī)會(huì)極少且可延長探針使用壽命。錫點(diǎn)尤其以PCB 光板制作時(shí)的噴錫點(diǎn)最佳。PCB 裸銅測點(diǎn)，高溫后已氧化，且其硬度高，所以探針接觸電阻變化而致測試誤判率很高。如果裸銅測點(diǎn)在SMT 時(shí)加上錫膏再經(jīng)回流焊固化為錫點(diǎn)，雖可大幅改善，但因助焊劑或吃錫不完全的緣故，仍會(huì)出現(xiàn)較多的接觸誤判。

標(biāo)簽： PCB 可測性設(shè)計(jì) 布線規(guī)則

上傳時(shí)間： 2014-01-14

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差分線對的PCB設(shè)計(jì)要點(diǎn)

信號完整性是高速數(shù)字系統(tǒng)中要解決的一個(gè)首要問題之一，如何在高速PCB 設(shè)計(jì)過程中充分考慮信號完整性因素,并采取有效的控制措施,已經(jīng)成為當(dāng)今系統(tǒng)設(shè)計(jì)能否成功的關(guān)鍵。在這方面，差分線對具有很多優(yōu)勢，比如更高的比特率 ,更低的功耗 ,更好的噪聲性能和更穩(wěn)定的可靠性等。目前，差分線對在高速數(shù)字電路設(shè)計(jì)中的應(yīng)用越來越廣泛，電路中最關(guān)鍵的信號往往都要采用差分線對設(shè)計(jì)。介紹了差分線對在PCB 設(shè)計(jì)中的一些要點(diǎn)，并給出具體設(shè)計(jì)方案。

標(biāo)簽： PCB 差分線

上傳時(shí)間： 2013-10-26

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改進(jìn)遺傳算法－郭濤算法做最優(yōu)化問題很管用,算法的基本思想是先任意產(chǎn)生n個(gè)隨機(jī)數(shù)

改進(jìn)遺傳算法－郭濤算法做最優(yōu)化問題很管用,算法的基本思想是先任意產(chǎn)生n個(gè)隨機(jī)數(shù)，然后從n個(gè)數(shù)里隨機(jī)選擇m個(gè)數(shù)，再有這m個(gè) 數(shù)合成一個(gè)新數(shù)，將這個(gè)新數(shù)同n個(gè)數(shù)中間適應(yīng)值函數(shù)值的最差的比較，如果好的話就取代最差的那個(gè)，如果它比最好的還要好的話，則把最好的也取代。如果比最差的壞，則重新合成一個(gè)新數(shù)。依次循環(huán)下去。程序的奇妙之處是GA_crossover()函數(shù)，產(chǎn)生的新數(shù)確實(shí)比較好，看看那位大俠能改進(jìn)一下，產(chǎn)生比這跟好的數(shù)。

標(biāo)簽： 算法郭濤算法隨機(jī)數(shù)

上傳時(shí)間： 2015-04-10

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HMM(Hidden Markov Model)

HMM(Hidden Markov Model)，狀態(tài)數(shù)目N=3，觀察符號數(shù)目M=2，時(shí)間長度T=3。 (a) Probability Evaluation: 給定狀態(tài)轉(zhuǎn)換機(jī)率A、狀態(tài)符號觀察機(jī)率B、和起始機(jī)率，求觀察序列出現(xiàn)的機(jī)率。 (b) Optimal State Sequence: 給定狀態(tài)轉(zhuǎn)換機(jī)率A、狀態(tài)符號觀察機(jī)率B、起始機(jī)率、和觀察序列，求一個(gè)狀態(tài)序列使得O出現(xiàn)的機(jī)率最大。 (c) Parameter Estimation: 給定狀態(tài)轉(zhuǎn)換機(jī)率A、狀態(tài)符號觀察機(jī)率B、起始機(jī)率、和觀察序列，求新的A、B、，使得O出現(xiàn)的機(jī)率最大。

標(biāo)簽： Hidden Markov Model HMM

上傳時(shí)間： 2014-08-28

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ABBYY FineReader 8.0專業(yè)版是最新、最準(zhǔn)確的ABBYY OCR軟體版本。它可以為用戶提供最高級別識字精確率

ABBYY FineReader 8.0專業(yè)版是最新、最準(zhǔn)確的ABBYY OCR軟體版本。它可以為用戶提供最高級別識字精確率，是一個(gè)非常節(jié)省時(shí)間的好方案。FineReader允許你將各種紙張和電子文件轉(zhuǎn)換、編輯以及重新使用，包括：雜誌、報(bào)紙、傳真、複製和PDF文件。

標(biāo)簽： ABBYY FineReader 8.0 OCR

上傳時(shí)間： 2016-02-11

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Welch法：Welch法對Bartlett法進(jìn)行了兩方面的修正：一是選擇適當(dāng)?shù)拇昂瘮?shù)w(n)

Welch法：Welch法對Bartlett法進(jìn)行了兩方面的修正：一是選擇適當(dāng)?shù)拇昂瘮?shù)w(n)，并在周期圖計(jì)算前直接加進(jìn)去，加窗的優(yōu)點(diǎn)是無論什么樣的窗函數(shù)均可使譜估計(jì)非負(fù)。二是在分段時(shí),可使各段之間有重疊，這樣會(huì)使方差減小。

標(biāo)簽： Welch Bartlett 方面正

上傳時(shí)間： 2016-03-03

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對于n后問題

對于n后問題，用n元組工[1：n]表示n后問題的解。其中x[i],表示皇后i放在棋盤的第i行的第i列。由于不允許將2個(gè)皇后放在同一列，所以解向量中的x[i]互不相同。2個(gè)皇后不能放在同一斜線上是問題的隱約束。對于一般的n后問題，這一隱約束條件可以化成顯約束的形式。將n x n格棋盤看作二維方陣，其行號從上到下，列號從左到右依次編號為1，2，…，n。從棋盤左上角到右下角的主對角線及其平行線(即斜率為一1的各斜線)上，2個(gè)下標(biāo)值的差(行號一列號)值相等。同理，斜率為+1的每一條斜線上，2個(gè)下標(biāo)值的和(行號+列號)值相等。

標(biāo)簽：

上傳時(shí)間： 2016-03-12

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最大李雅普諾夫指數(shù)的計(jì)算該函數(shù)用來計(jì)算時(shí)間序列的最大Lyapunov 指數(shù)--Wolf 方法％ m: 嵌入維數(shù) ％ tau:時(shí)間延遲％ data:時(shí)間序列％ N:時(shí)間序列長度％

最大李雅普諾夫指數(shù)的計(jì)算該函數(shù)用來計(jì)算時(shí)間序列的最大Lyapunov 指數(shù)--Wolf 方法％ m: 嵌入維數(shù) ％ tau:時(shí)間延遲％ data:時(shí)間序列％ N:時(shí)間序列長度％ P:時(shí)間序列的平均周期,選擇演化相點(diǎn)距當(dāng)前點(diǎn)的位置差，即若當(dāng)前相點(diǎn)為I，則演化相點(diǎn)只能在|I－J|>P的相點(diǎn)中搜尋

標(biāo)簽： Lyapunov Wolf data 時(shí)間序列

上傳時(shí)間： 2013-12-10

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最大間隙問題：給定n 個(gè)實(shí)數(shù)x , x , , xn 1 2 

最大間隙問題：給定n 個(gè)實(shí)數(shù)x , x , , xn 1 2  ，求這n 個(gè)數(shù)在實(shí)軸上相鄰2 個(gè)數(shù)之間的最大差值。假設(shè)對任何實(shí)數(shù)的下取整函數(shù)耗時(shí)O(1)，設(shè)計(jì)解最大間隙問題的線性時(shí)間算法。

標(biāo)簽： 61516 xn

上傳時(shí)間： 2013-12-25

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