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引導(dǎo)技術(shù)

  • 計算機相關(guān)接插件及接口的引腳說明

    計算機有關(guān)的接插件的引腳說明,hlp格式。比如串口,并口,PS/2,VGA,PC2,SCSI,IDE,ATA等,均有詳細的引腳定義,還附送了幾個濾波器電路,十分值得收藏。

    標簽: 計算機 插件 接口 引腳

    上傳時間: 2013-04-24

    上傳用戶:520

  • 針對FPGA設(shè)計的引腳分配算法

    隨著嵌入式系統(tǒng)的流行,可編程邏輯門陣列(FPGA)作為片上系統(tǒng)的應(yīng)用范圍越來越廣。隨著FPGA的規(guī)模越來越大,引腳分配對頻率的影響越來越大。   本文系統(tǒng)的闡述了FPGA的發(fā)展歷史,分析比較了國內(nèi)外的發(fā)展狀況和發(fā)展趨勢...

    標簽: FPGA 引腳 分配算法

    上傳時間: 2013-07-17

    上傳用戶:miaochun888

  • 關(guān)于7128CPLD的介紹,包含了44腳到100引腳各個型號的MAX系列cpld

    一篇關(guān)于7128CPLD的英文介紹,里面包含了44腳到100引腳各個型號的MAX系列cpld

    標簽: 7128 CPLD cpld 100

    上傳時間: 2013-08-07

    上傳用戶:66666

  • 基于FPGA的交通燈的設(shè)計 有Verilog HDL 源碼、仿真圖與引腳配置圖

    基于FPGA的交通燈的設(shè)計 有Verilog HDL 源碼、仿真圖與引腳配置圖,已下載實現(xiàn)\r\n

    標簽: Verilog FPGA HDL 交通燈

    上傳時間: 2013-08-18

    上傳用戶:BOBOniu

  • 74hc154的引腳功能和作用

    74hc154的引腳功能和作用

    標簽: 154 74 hc 引腳功能

    上傳時間: 2014-08-10

    上傳用戶:dancnc

  • 模數(shù)轉(zhuǎn)換器ADC0809引腳及內(nèi)部框圖

    模數(shù)轉(zhuǎn)換器ADC0809引腳及內(nèi)部框圖

    標簽: 0809 ADC 模數(shù)轉(zhuǎn)換器 引腳

    上傳時間: 2013-11-19

    上傳用戶:lingfei

  • dac0832引腳圖電路及程序

    dac0832引腳圖電路及程序

    標簽: 0832 dac 引腳圖 電路

    上傳時間: 2013-11-03

    上傳用戶:zhangxin

  • PADS元件引腳定義

    PADS元件引腳定義

    標簽: PADS 元件 引腳定義

    上傳時間: 2013-11-14

    上傳用戶:15070202241

  • pcb layout design(臺灣硬件工程師15年經(jīng)驗

    PCB LAYOUT 術(shù)語解釋(TERMS)1. COMPONENT SIDE(零件面、正面)︰大多數(shù)零件放置之面。2. SOLDER SIDE(焊錫面、反面)。3. SOLDER MASK(止焊膜面)︰通常指Solder Mask Open 之意。4. TOP PAD︰在零件面上所設(shè)計之零件腳PAD,不管是否鑽孔、電鍍。5. BOTTOM PAD:在銲錫面上所設(shè)計之零件腳PAD,不管是否鑽孔、電鍍。6. POSITIVE LAYER:單、雙層板之各層線路;多層板之上、下兩層線路及內(nèi)層走線皆屬之。7. NEGATIVE LAYER:通常指多層板之電源層。8. INNER PAD:多層板之POSITIVE LAYER 內(nèi)層PAD。9. ANTI-PAD:多層板之NEGATIVE LAYER 上所使用之絕緣範圍,不與零件腳相接。10. THERMAL PAD:多層板內(nèi)NEGATIVE LAYER 上必須零件腳時所使用之PAD,一般稱為散熱孔或?qū)住?1. PAD (銲墊):除了SMD PAD 外,其他PAD 之TOP PAD、BOTTOM PAD 及INNER PAD 之形狀大小皆應(yīng)相同。12. Moat : 不同信號的 Power& GND plane 之間的分隔線13. Grid : 佈線時的走線格點2. Test Point : ATE 測試點供工廠ICT 測試治具使用ICT 測試點 LAYOUT 注意事項:PCB 的每條TRACE 都要有一個作為測試用之TEST PAD(測試點),其原則如下:1. 一般測試點大小均為30-35mil,元件分布較密時,測試點最小可至30mil.測試點與元件PAD 的距離最小為40mil。2. 測試點與測試點間的間距最小為50-75mil,一般使用75mil。密度高時可使用50mil,3. 測試點必須均勻分佈於PCB 上,避免測試時造成板面受力不均。4. 多層板必須透過貫穿孔(VIA)將測試點留於錫爐著錫面上(Solder Side)。5. 測試點必需放至於Bottom Layer6. 輸出test point report(.asc 檔案powerpcb v3.5)供廠商分析可測率7. 測試點設(shè)置處:Setup􀃆pads􀃆stacks

    標簽: layout design pcb 硬件工程師

    上傳時間: 2013-10-22

    上傳用戶:pei5

  • IC封裝製程簡介(IC封裝制程簡介)

    半導(dǎo)體的產(chǎn)品很多,應(yīng)用的場合非常廣泛,圖一是常見的幾種半導(dǎo)體元件外型。半導(dǎo)體元件一般是以接腳形式或外型來劃分類別,圖一中不同類別的英文縮寫名稱原文為   PDID:Plastic Dual Inline Package SOP:Small Outline Package SOJ:Small Outline J-Lead Package PLCC:Plastic Leaded Chip Carrier QFP:Quad Flat Package PGA:Pin Grid Array BGA:Ball Grid Array         雖然半導(dǎo)體元件的外型種類很多,在電路板上常用的組裝方式有二種,一種是插入電路板的銲孔或腳座,如PDIP、PGA,另一種是貼附在電路板表面的銲墊上,如SOP、SOJ、PLCC、QFP、BGA。    從半導(dǎo)體元件的外觀,只看到從包覆的膠體或陶瓷中伸出的接腳,而半導(dǎo)體元件真正的的核心,是包覆在膠體或陶瓷內(nèi)一片非常小的晶片,透過伸出的接腳與外部做資訊傳輸。圖二是一片EPROM元件,從上方的玻璃窗可看到內(nèi)部的晶片,圖三是以顯微鏡將內(nèi)部的晶片放大,可以看到晶片以多條銲線連接四周的接腳,這些接腳向外延伸並穿出膠體,成為晶片與外界通訊的道路。請注意圖三中有一條銲線從中斷裂,那是使用不當引發(fā)過電流而燒毀,致使晶片失去功能,這也是一般晶片遭到損毀而失效的原因之一。   圖四是常見的LED,也就是發(fā)光二極體,其內(nèi)部也是一顆晶片,圖五是以顯微鏡正視LED的頂端,可從透明的膠體中隱約的看到一片方型的晶片及一條金色的銲線,若以LED二支接腳的極性來做分別,晶片是貼附在負極的腳上,經(jīng)由銲線連接正極的腳。當LED通過正向電流時,晶片會發(fā)光而使LED發(fā)亮,如圖六所示。     半導(dǎo)體元件的製作分成兩段的製造程序,前一段是先製造元件的核心─晶片,稱為晶圓製造;後一段是將晶中片加以封裝成最後產(chǎn)品,稱為IC封裝製程,又可細分成晶圓切割、黏晶、銲線、封膠、印字、剪切成型等加工步驟,在本章節(jié)中將簡介這兩段的製造程序。

    標簽: 封裝 IC封裝 制程

    上傳時間: 2014-01-20

    上傳用戶:蒼山觀海

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